[實(shí)用新型]一種CAF多通道測(cè)量系統(tǒng)無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201020513196.1 | 申請(qǐng)日: | 2010-09-01 |
| 公開(公告)號(hào): | CN201812004U | 公開(公告)日: | 2011-04-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張盤新;滕怡玫 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 麥可羅泰克(常州)產(chǎn)品服務(wù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00 |
| 代理公司: | 常州市江海陽(yáng)光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32214 | 代理人: | 蔣全強(qiáng) |
| 地址: | 213000 江蘇省*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 caf 通道 測(cè)量 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及耐離子遷移試驗(yàn)(簡(jiǎn)稱CAF)的技術(shù)領(lǐng)域,具體是一種CAF多通道測(cè)量系統(tǒng)。
背景技術(shù)
隨著電子產(chǎn)品小型化的發(fā)展,在高密度多層印制線路板中,層與層、孔與孔之間、線與孔之間的距離越來越小,這些小距離很容易使得電子產(chǎn)品在使用中因?yàn)閮?nèi)部發(fā)生銅離子遷移而發(fā)生電路失效,降低了產(chǎn)品的可靠性。為了避免離子遷移的發(fā)生,需要驗(yàn)證板材、生產(chǎn)工藝和設(shè)計(jì)安全距離,需要進(jìn)行耐離子遷移試驗(yàn)(簡(jiǎn)稱CAF試驗(yàn))。為了取得可靠的結(jié)果,試驗(yàn)需要使用大量的樣品,從而需要大量的測(cè)量,目前市場(chǎng)上的CAF測(cè)量設(shè)備,都受到測(cè)量通道的限制,只能測(cè)量56通道、126通道、256通道,無法滿足更多通道測(cè)量以提高測(cè)量效率的要求。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、適于大幅提高測(cè)量效率的CAF多通道測(cè)量系統(tǒng)。
為解決上述技術(shù)問題,本實(shí)用新型提供了一種CAF多通道測(cè)量系統(tǒng),其包括:?用于分別連接置于恒溫恒濕試驗(yàn)箱中的多個(gè)高密度多層印制線路板的樣品連接電纜、與分組的樣品連接電纜相連的多通道轉(zhuǎn)換裝置、與多通道轉(zhuǎn)換裝置相連的用于通過各組樣品連接電纜對(duì)各高密度多層印制線路板進(jìn)行分組測(cè)量的絕緣電阻測(cè)試儀、與該絕緣電阻測(cè)試儀相連的用于實(shí)現(xiàn)測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的計(jì)算機(jī);多通道轉(zhuǎn)換裝置通過測(cè)量電纜B與所述絕緣電阻測(cè)試儀相連。多通道轉(zhuǎn)換裝置上連接有用于輸入測(cè)量用偏置電壓的偏置電壓接入裝置。
本實(shí)用新型的積極效果:本實(shí)用新型的CAF多通道測(cè)量系統(tǒng)中,多通道轉(zhuǎn)換裝置將連接樣品(即多個(gè)高密度多層印制線路板)的電纜進(jìn)行分組連接,然后使用絕緣電阻測(cè)試儀進(jìn)行分組測(cè)量。本實(shí)用新型的裝置可以大大增加測(cè)量通道,解決了多樣品試驗(yàn)中的測(cè)量問題,使得一次試驗(yàn)的樣品數(shù)可以增加很多,減少了試驗(yàn)成本。該裝置除提供測(cè)量轉(zhuǎn)換外,測(cè)量間隙可以插入限流電阻,給樣品中的試驗(yàn)網(wǎng)絡(luò)加入偏置電壓,滿足離子遷移的生長(zhǎng)條件。
附圖說明
為了使本實(shí)用新型的內(nèi)容更容易被清楚的理解,下面根據(jù)的具體實(shí)施例并結(jié)合附圖,對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)的說明,其中
圖1為實(shí)施例中的CAF多通道測(cè)量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。
圖2為上述CAF多通道測(cè)量系統(tǒng)的測(cè)量過程示意圖。
具體實(shí)施方式
見圖1-2,本實(shí)施例的CAF多通道測(cè)量系統(tǒng)包括:用于分別連接置于恒溫恒濕試驗(yàn)箱中的多個(gè)高密度多層印制線路板的樣品連接電纜A、與分組的樣品連接電纜相連的多通道轉(zhuǎn)換裝置、與多通道轉(zhuǎn)換裝置相連的用于通過各組樣品連接電纜對(duì)各高密度多層印制線路板進(jìn)行分組測(cè)量的絕緣電阻測(cè)試儀、與該絕緣電阻測(cè)試儀相連的用于實(shí)現(xiàn)測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)的計(jì)算機(jī);多通道轉(zhuǎn)換裝置上連接有用于輸入測(cè)量用偏置電壓的偏置電壓接入裝置。多通道轉(zhuǎn)換裝置通過測(cè)量電纜B與所述絕緣電阻測(cè)試儀相連。
一組樣品連接電纜構(gòu)成一個(gè)適于由多通道轉(zhuǎn)換裝置切換的樣品測(cè)量通道。
上述實(shí)施例僅僅是為清楚地說明本實(shí)用新型所作的舉例,而并非是對(duì)本實(shí)用新型的實(shí)施方式的限定。對(duì)于所屬領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在上述說明的基礎(chǔ)上還可以做出其它不同形式的變化或變動(dòng)。這里無需也無法對(duì)所有的實(shí)施方式予以窮舉。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于麥可羅泰克(常州)產(chǎn)品服務(wù)有限公司,未經(jīng)麥可羅泰克(常州)產(chǎn)品服務(wù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201020513196.1/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 高度純化的細(xì)胞因子激活因子和使用方法
- 氟化鈣污泥再利用方法及其制品
- 一種CaF<sub>2</sub>透鏡夾持裝置及其方法
- 一種CaF<sub>2</sub>透鏡夾持裝置
- 一種時(shí)頻域混疊的多信號(hào)檢測(cè)方法
- 一種拍照對(duì)焦的方法、裝置及移動(dòng)終端
- CaF2光學(xué)薄膜元件的制備方法及CaF2光學(xué)薄膜元件
- 摻雜CaF<sub>2</sub>的TiB<sub>2</sub>涂層、CaF<sub>2</sub>和TiB<sub>2</sub>復(fù)合涂層、其制備方法和應(yīng)用及刀具
- 一種高比表面積和高熱穩(wěn)定性CaF<base:Sub>2
- 一種PCB板CAF測(cè)試模塊設(shè)計(jì)方法
- 測(cè)量設(shè)備、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量配件和測(cè)量方法
- 測(cè)量尺的測(cè)量組件及測(cè)量尺
- 測(cè)量輔助裝置、測(cè)量裝置和測(cè)量系統(tǒng)
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量容器、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)、測(cè)量程序以及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量電路、測(cè)量方法及測(cè)量設(shè)備





