[實用新型]一種集成電路芯片測試系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201020232310.3
• 申請日: 2010-06-23
• 公開（公告）號: CN201773169U
• 公開（公告）日: 2011-03-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉華;張超;沈慧
• 申請（專利權(quán)）人: 天津渤海易安泰電子半導體測試有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 天津盛理知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 12209
• 代理人: 王來佳

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型屬于集成電路芯片測試領(lǐng)域，尤其是一種集成電路芯片測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

集成電路芯片的設(shè)計及生產(chǎn)廠家經(jīng)常需要使用集成電路芯片測試系統(tǒng)對集成電路芯片進行測試。集成電路芯片測試系統(tǒng)主要由芯片測試機及控制機連接構(gòu)成，芯片測試機由測試機主板、各功能板卡及芯片載板連接構(gòu)成，測試機主板控制各功能板卡協(xié)調(diào)工作對芯片載板上的待測集成電路芯片進行性能測試，芯片測試機與控制機共同完成激勵、測量、數(shù)據(jù)處理、顯示或輸出測試結(jié)果等工作。由于集成電路芯片技術(shù)水平的迅猛發(fā)展，對于集成電路芯片測試系統(tǒng)的測試速度及功能要求越來越高，因此，現(xiàn)有的集成電路芯片測試系統(tǒng)普遍存在結(jié)構(gòu)非常復雜、成本昂貴并且維護困難等問題。

發(fā)明內(nèi)容

本實用新型的目地在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提出一種集成電路芯片測試系統(tǒng)，該集成電路芯片測試系統(tǒng)采用PXI通信平臺將測試機主板與模塊化功能板卡結(jié)合在一起，解決了系統(tǒng)結(jié)構(gòu)復雜的問題，同時節(jié)約了設(shè)備成本且便于系統(tǒng)維護。

本實用新型解決其技術(shù)問題是采取以下技術(shù)方案實現(xiàn)的：

一種集成電路芯片測試系統(tǒng)，包括芯片測試機和控制機，芯片測試機由機殼、測試機主板、功能板卡及芯片載板連接構(gòu)成，測試機主板及功能板卡設(shè)置在機殼內(nèi)并且功能板卡安裝在測試機主板上，芯片載板安裝在機殼表面并與測試機主板相連接，所述的功能板卡為具有PXI接口的PXI功能板卡，PXI功能板卡安裝在測試機主板上設(shè)有的PXI插槽內(nèi)。

而且，所述的測試機主板上安裝的PXI功能板卡包括數(shù)字I/O板卡和直流電源板卡，或者包括數(shù)字I/O板卡和參數(shù)測量單元板卡。

而且，所述的測試機主板上還安裝如下PXI功能板卡的一種或多種：波形發(fā)生器板卡和數(shù)字化儀板卡。

而且，所述的芯片載板與測試機主板通過Molex連接器連接在一起。

而且，所述的控制機與芯片測試機通過串行通信方式連接在一起。

而且，所述的控制機由安裝有測控軟件的計算機、顯示器及鍵盤連接構(gòu)成。

而且，芯片測試機和控制機安裝在測試機架上，其具體安裝方式為；在測試機架中部水平安裝有一U形架，U形架的兩端水平設(shè)有旋轉(zhuǎn)軸并與芯片測試機安裝在一起，計算機安裝在測試機架的底座上，顯示器及鍵盤安裝在測試機架中部設(shè)有的水平托盤上。

本實用新型的優(yōu)點和積極效果是：

1、本芯片測試系統(tǒng)采用PXI通信平臺將測試機主板與PXI功能板卡安裝在一起，充分利用了PXI技術(shù)的電氣總線特性與CompactPCI的堅固性、模塊化及Eurocard機械封裝的特性，性能遠遠超越采用了VXI和GPIB接口的芯片測試系統(tǒng)，而且結(jié)構(gòu)更加簡單，尺寸更加精簡，成本更加低廉。

2、本芯片測試系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計，可以按用戶的需要選擇不同的PXI功能板卡來搭建不同測試需求的測試系統(tǒng)，當測試系統(tǒng)需要升級或增減功能時，只需更換其中的PXI功能板卡即可實現(xiàn)；而且用戶在測試機主板的空余插槽可任意添加標準化的PXI功能板卡，實現(xiàn)設(shè)備成本的最優(yōu)控制，相對現(xiàn)有的芯片測試機系統(tǒng)，具有更高的靈活性，滿足了用戶定制獨特的測試系統(tǒng)的需求。

3、本芯片測試系統(tǒng)將控制機與芯片測試機通過串行通信方式連接在一起構(gòu)成統(tǒng)一的測試環(huán)境，通過控制機上的測控軟件能夠?qū)y試資源進行高效利用，可以更快地進行測試設(shè)計和運行，能夠?qū)Ξa(chǎn)量、質(zhì)量和生產(chǎn)線的變化作出快速反應，可在測試系統(tǒng)之間或在原型驗證、工藝過程、性能測試的各個階段互換測試資源，降低了測試成本，減少了浪費。

4、本實用新型采用模塊化設(shè)計并使用PXI功能卡與測試機主板安裝在一起，降低了系統(tǒng)的復雜性，方便了系統(tǒng)的擴展，具有高速、低功耗、低成本、高性價比、穩(wěn)定性好并且使用方便等特點，從而大大降低了測試成本，滿足了研發(fā)、設(shè)計和生產(chǎn)測試工程師的需求。

附圖說明

圖1是集成電路芯片測試系統(tǒng)的電路原理框圖；

圖2是集成電路芯片測試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)連接示意圖。

具體實施方式

以下結(jié)合附圖對本實用新型實施例做進一步詳述。