[實用新型]一種手動芯片測試機

有效

• 申請號: 201020226887.3
• 申請日: 2010-06-17
• 公開（公告）號: CN201707423U
• 公開（公告）日: 2011-01-12
• 發明（設計）人: 羅德剛
• 申請（專利權）人: 深圳市德剛電子設備設計部
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 深圳市順天達專利商標代理有限公司 44217
• 代理人: 易釗

技術領域

本實用新型涉及一種用于芯片測試的機械設備技術領域，具體涉及一種可以測試晶圓切割后的單片芯片的好壞的手動芯片測試機。

背景技術

芯片在封裝之前都有一道測試工序，以辯識其好壞，節省資源。隨著電子產品的不斷更新，芯片的制程越來越小、功能越來越多、工作頻率越來越高，致使測試裝置無法適應。在測試過程中，路線距離短才能測試準確，最好在20mm以下，短距離狀況下既可測試又可監視是主要瓶頸。比如現內存條的DDR3芯片，工作頻率1600MHZ，制程30nm，就是這種狀況。現市面上的芯片測試機L型結構居多，監視裝置與對位裝置于一直線上，芯片測試硬件于對位裝置右邊。在監視裝置能監視狀況下又能測試芯片，測試硬件與探針卡的距離很長，芯片測試硬件上有很多不規則的象顯示卡一樣的插件，探針與測試硬件的距離必須大于插件加上監視裝置的長度，至少長120mm，距離長無法測試準確；若改短測試距離但就無法放置監視設備。

實用新型內容

本實用新型要解決的技術問題在于，提供一種手動芯片測試機，使測試距離短、測試狀態能監視、精準度高、結構簡單、方便操作。

本實用新型解決其技術問題所采用的技術方案是：

一種手動芯片測試機，其包括：對位裝置、監視裝置和硬件固定裝置，所述對位裝置、監視裝置和硬件固定裝置成“品”字形固定在同一底板上，所述硬件固定裝置位于底板上端，所述監視裝置和所述對位裝置位于底板下端。

其中，優選的，所述監視裝置位于所述對位裝置的右邊；或者，

所述監視裝置位于所述對位裝置的左邊。

其中，優選的，所述監視裝置包括顯微鏡，所述顯微鏡上方裝設有電子目鏡。

其中，優選的，所述顯微鏡通過支撐桿固定在所述底板上，反射鏡裝設在顯微的物鏡下方。

其中，優選的，所述手動芯片測試機還包括：防撞卡裝置，所述防撞卡裝置包括：限高裝置和平行擋塊，所述限高裝置包括上鐵板、下鐵板和插入所述上鐵板的中心孔的手擰螺絲，所述上鐵板固定在探針卡架支撐板正前方，所述下鐵板固定于由芯片固定平臺、十字平臺、手柄、調整螺桿和凸輪組成的載物平臺的左側；

所述平行擋塊固定在探針卡架支撐板上，且位于所述載物平臺上的定位柱的正上方，且所述平行擋塊上設置有定位孔，所述定位孔位于所述定位柱的正上方。

實施本實用新型的技術方案，具有以下有益效果：本實用新型提供的手動芯片測試機的結構簡單，使用方便，測試準確，能在短距離的測試條件下可監視對位狀況。

附圖說明

下面將結合附圖及實施例對本實用新型作進一步說明，附圖中：

圖1為本實用新型提供的手動芯片測試機的整體結構圖；

圖2為本實用新型提供的手動芯片測試機的立體圖；

圖3為本實用新型提供的手動芯片測試機的主視圖；

圖4為本實用新型提供的手動芯片測試機的另一立體圖；

圖5為本實用新型提供的手動芯片測試機的又一立體圖；

圖6為本實用新型提供的手動芯片測試機的部分結構圖；

圖7為本實用新型提供的手動芯片測試機的部分結構放大圖。

具體實施方式

為了使本實用新型的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本實用新型進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。

本實用新型提供一種手動芯片測試機，如圖1所示，該手動芯片測試機包括：用于將芯片與探針卡進行對位的對位裝置300、監視裝置200和硬件固定裝置100，所述對位裝置300、監視裝置200和硬件固定裝置100成“品”字形固定在同一底板110上，所述硬件固定裝置100位于底板110上端，所述監視裝置200和所述對位裝置300位于底板110下端。所述監視裝置200位于所述對位裝置300的左邊。監視裝置200是用來監視芯片與探針卡對位狀況的。芯片測試硬件與探針卡通過接口相連接，探針與測試硬件距離小于20mm，當放入一片芯片于載物平臺上，推入探針卡下，升上載物平臺，此時芯片上測試點與探針卡上的探針的針尖一一對應，對位圖像經反射鏡轉入監視裝置200的顯微鏡再由電子目鏡傳給顯示器顯示出來，啟動測試軟件，就可以測試此芯片好壞。

上述實施例提供的手動芯片測試機有益效果是：結構簡單，使用方便，測試準確，能在短距離的測試條件下可監視對位狀況。