[實用新型]測試玻璃基板的設備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201020220236.3
• 申請日: 2010-06-01
• 公開（公告）號: CN201732128U
• 公開（公告）日: 2011-02-02
• 發(fā)明（設計）人: 白國曉;高原;王耀偉;田震寰
• 申請（專利權）人: 北京京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/067;G02F1/13
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產(chǎn)權代理有限公司 11205
• 代理人: 劉芳

技術領域

本實用新型實施例涉及測試技術，尤其涉及一種測試玻璃基板的設備。

背景技術

探針框架是生產(chǎn)線中的常用設備，以液晶顯示器(Liquid?CrystalDisplay，簡稱LCD)的生產(chǎn)過程為例，其中涉及一種薄膜晶體管(Thin?FilmTransistor，簡稱TFT)基板電學測試設備上的探針框架，作為向玻璃基板上加載測試信號的設備。

圖1為現(xiàn)有技術中測試玻璃基板的設備的俯視結構示意圖，如圖1所示，該設備包括承載玻璃基板的載臺1、向玻璃基板加載測試信號的探針框架2和不同探針框架尺寸進行切換的探針框架的軌道4。在玻璃基板裝載到設備上或從設備上卸載的過程中，探針框架會有升起(Up)和下降(Down)的動作，此動作會導致探針框架在水平位置上發(fā)生了微小的位移，如果探針框架的位移過大，可能會致使探針框架上的探針(pin)與玻璃基板上的信號加入金屬觸點(pad)沒有發(fā)生接觸或接觸面積過小，從而就會導致檢測信號無法加載到玻璃基板上，進而導致設備報警而終止測試。操作人員聽到報警之后，對探針框架的位置進行手動調(diào)整，浪費了大量的人力資源，導致了設備運行稼動率的降低，從而降低了玻璃基板的產(chǎn)量。

實用新型內(nèi)容

本實用新型實施例提供一種測試玻璃基板的設備，用以自動調(diào)整探針框架的位置，節(jié)省人力資源，提高設備運行稼動率和玻璃基板的產(chǎn)量。

本實用新型實施例提供一種測試玻璃基板的設備，包括承載玻璃基板的載臺和向玻璃基板加載測試信號的探針框架，其中，還包括：

定位裝置，固設在所述載臺的邊緣上，用于調(diào)整所述探針框架到指定位置，所述指定位置為所述探針框架上的探針與玻璃基板上的信號加入金屬觸點對準的位置；

固定裝置，設置在所述探針框架上，用于當所述定位裝置調(diào)整所述探針框架到指定位置之后，固定所述探針框架。

如上所述的測試玻璃基板的設備，其中：還包括控制裝置，與所述固定裝置連接，用于在所述探針框架未到指定位置時，控制所述固定裝置不固定所述探針框架，在所述探針框架到指定位置時，控制所述固定裝置固定所述探針框架。

如上所述的測試玻璃基板的設備，其中：所述固定裝置為電磁鐵。

如上所述的測試玻璃基板的設備，其中：所述定位裝置的個數(shù)為四個或八個。

如上所述的測試玻璃基板的設備，其中：所述定位裝置包括驅(qū)動組件、滑動組件和定位組件，其中：

所述驅(qū)動組件與所述滑動組件連接，用于控制所述滑動組件到所述指定位置或其他未指定的位置；

所述滑動組件設置在所述載臺的邊緣上，用于在所述驅(qū)動組件的控制下滑動到所述指定位置或其他未指定的位置；

所述定位組件設置在所述滑動組件上，用于在所述滑動組件的帶動下將所述探針框架調(diào)整到所述指定位置或在所述滑動組件的帶動下到其他未指定的位置。

如上所述的測試玻璃基板的設備，其中：所述滑動組件包括左右滑動部件，或者包括左右滑動部件和上下滑動部件。

如上所述的測試玻璃基板的設備，其中：所述驅(qū)動組件為氣動元件或馬達。

本實用新型提供的測試玻璃基板的設備，通過在載臺的邊緣上分別設置至少四個定位裝置，解決了現(xiàn)有技術中當探針框架上的探針與玻璃基板上的信號加入金屬觸點接觸不良時，需要操作人員對探針框架的位置進行手動調(diào)整的問題，實現(xiàn)了自動調(diào)整探針框架的位置，節(jié)省了人力資源，從而提高了設備運行稼動率和玻璃基板的產(chǎn)量。

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型實施例或現(xiàn)有技術中的技術方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術描述中所需要使用的附圖作一簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為現(xiàn)有技術中測試玻璃基板的設備的俯視結構示意圖；

圖2A為本實用新型實施例一提供的測試玻璃基板的設備的俯視結構示意圖；

圖2B為本實用新型實施例一提供的測試玻璃基板的設備中的探針框架上的探針與玻璃基板上的信號加入金屬觸點的對準示意圖；

圖3為本實用新型實施例二提供的測試玻璃基板的設備的俯視結構示意圖；

圖4A為本實用新型實施例三提供的測試玻璃基板的設備中定位裝置的結構示意圖；

圖4B為本實用新型實施例四提供的測試玻璃基板的設備中定位裝置的結構示意圖。

具體實施方式