[實用新型]一種多接口一體化測試治具有效
| 申請號： | 201020176607.2 | 申請日： | 2010-04-30 |
| 公開（公告）號： | CN201797202U | 公開（公告）日： | 2011-04-13 |
| 發明（設計）人： | 陳一平 | 申請（專利權）人： | 深圳市金洋電子股份有限公司 |
| 主分類號： | H01R31/06 | 分類號： | H01R31/06;H01R27/00;H01R13/514 |
| 代理公司： | 北京英特普羅知識產權代理有限公司 11015 | 代理人： | 齊永紅;段成云 |
| 地址： | 518100 廣東省深圳市寶安區*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 接口 一體化 測試 | ||
1.一種多接口一體化測試治具，由具有連接器的三層結構構成，三層結構分為上層、中層、下層，其特征在于，具有連接器的上層、具有連接器的中層、具有連接器的下層三層疊加后，根據連接器結構大小，將不同層亞克力膠板沖銑不同連接器孔洞，將已經用電子線與HOUSING端子連接好的連接器裝入亞克力膠板孔洞內，再用鏍絲將各層固定到一起。
2.根據權利要求1所述的多接口一體化測試治具，其特征在于，所述具有連接器的上層結構是，DB15p、DB28pin和8P8C?8根芯線的水晶頭的排列位置，DB28pin排在一端，8P8C?8根芯線的水晶頭排在中間，DB15p排在另一端。
3.根據權利要求2所述的多接口一體化測試治具，其特征在于，所述DB28pin為一個，8P8C?8根芯線的水晶頭為6個，DB15p為2個。
4.根據權利要求1所述的多接口一體化測試治具，其特征在于，所述具有連接器的中層結構是，4.20?18p、2.54?5p、DB?9p和DB?15p的排列位置，4.2018p排在一端，2.54?5p和DB?9p排在中間，DB15p排在另一端。
5.根據權利要求4所述的多接口一體化測試治具，其特征在于，所述4.2018p為一個，2.54?5p和DB?9p為各一個，DB15p為1個。
6.根據權利要求1所述的多接口一體化測試治具，其特征在于，所述具有連接器的下層結構是，DB?26p、2.54?4p、2.54?4p、2.54?8p、2.54?14p、5.084p和5.08?4p的排列位置，DB?26p排在一端，2.54?4p、2.54?8p、2.541?4p、5.08?4p排在中間，另一個5.08?4p排在另一端。
7.根據權利要求6所述的多接口一體化測試治具，其特征在于，所述DB?26p為一個，2.54?4p為2個，2.54?8p、2.54?14p為各一個，5.08?4p為2個。
8.根據權利要求1或2或4或6所述的多接口一體化測試冶具，其特征在于，所述具有連接器的上層結構、具有連接器的中層結構、具有連接器的下層結構，每層結構由上半部和下半部合在一起構成。?
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