[實用新型]太陽光譜測量系統無效
| 申請號: | 201020127899.0 | 申請日: | 2010-03-11 |
| 公開(公告)號: | CN201637488U | 公開(公告)日: | 2010-11-17 |
| 發明(設計)人: | 顧驍驍 | 申請(專利權)人: | 上海玻色智能科技有限公司 |
| 主分類號: | G01J3/30 | 分類號: | G01J3/30;G01J3/02 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司 31213 | 代理人: | 王敏杰 |
| 地址: | 201801 上海市嘉*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 太陽 光譜 測量 系統 | ||
1.一種太陽光譜測量系統,包括光譜儀(1)及設有顯示模塊的計算機,其特征在于,還包括自動感光儀(2)、光學接收裝置(3)以及數據采集及分析模塊(4);所述的光學接收裝置(3)的輸入端接收太陽光線或脈沖光線,光學接收裝置(3)的輸出端與光譜儀(1)的光線采集輸入端通過光纖連接,所述的自動感光儀(2)感應光學接收裝置(3)發出的光線,自動感光儀(2)的輸出端與光譜儀(1)的信號接收端連接,自動感光儀(2)定時向光譜儀(1)單向傳輸多個電信號,所述的光譜儀(1)的輸出端與數據采集及分析模塊(4)的輸入端連接,光譜儀(1)向數據采集及分析模塊(4)單向傳輸光譜,數據采集及分析模塊(4)的輸出端與計算機連接,計算機的顯示模塊顯示數據采集及分析模塊(4)的輸出結果。
2.根據權利要求1所述的一種太陽光譜測量系統,其特征在于:所述的光學接收裝置(3)包括余弦校正器(31)及與余弦校正器(31)的光線輸出端連接的濾波片(32),所述的余弦校正器(31)用于采集太陽光線或脈沖光線。
3.根據權利要求2所述的一種太陽光譜測量系統,其特征在于:所述的余弦校正器(31)的采集角度為180°。
4.根據權利要求2所述的一種太陽光譜測量系統,其特征在于:所述的濾波片(32)的濾光范圍為500-700納米。
5.根據權利要求1所述的一種太陽光譜測量系統,其特征在于:所述的自動感光儀(2)上設有光電倍增管(21),用于感應自動感光儀(2)周圍的光線。
6.根據權利要求1所述的一種太陽光譜測量系統,其特征在于:所述的自動感光儀(2)的每個電信號的時間間隔小于40us。
7.根據權利要求1所述的一種太陽光譜測量系統,其特征在于:所述的光譜儀(1)中還進一步包括狹縫(11)、光柵(12)及一對聚焦鏡(13),所述的狹縫(11)設置在光譜儀(1)的入口處,所述的一面聚焦鏡(13)設置在狹縫(11)與光柵(12)之間,另一面聚焦鏡(13)設置在光柵(12)的一側。
8.根據權利要求1所述的一種太陽光譜測量系統,其特征在于:所述的數據采集及分析模塊(4)中還進一步包括模數轉換器(41);該模數轉換器(41)用于計算光源在不同波長上的光強度。
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