[實用新型]光學檢測機

無效

• 申請號: 201020112590.4
• 申請日: 2010-02-04
• 公開（公告）號: CN201637681U
• 公開（公告）日: 2010-11-17
• 發明（設計）人: 黃秋逢
• 申請（專利權）人: 陽程科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/01
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司 11139
• 代理人: 孫皓晨

技術領域

本實用新型涉及一種光學檢測機，尤指包括有光源裝置、反射鏡、光學鏡片組及濾光調整座，而光學鏡片組的薄膜為具有預定霧度，當光源穿透過光學鏡片組，并照射至預設待測玻璃基板時，可同時消除待測玻璃基板上的輻射紋及彩虹紋，防止檢測人員對待測玻璃基板檢測的誤判，進而增加檢測人員檢測準確率的光學檢測機。

背景技術

隨著知識資訊時代的來臨，無論是網路通訊應用的多元化或是現今3C產業技術及多媒體資訊的蓬勃發展，皆是通過對產品研發或改良新的功能，來滿足消費者的需求為目標，而以往映像管型式的熒幕，由于體積大、高輻射及耗電量大等缺失，所以隨著科技的進步發展，而有液晶顯示器的產品問世，且液晶顯示器不會有以往映像管型式熒幕的缺點，所以具有畫面細膩、低輻射、低電磁波、體積小及更省電等優點，并且可應用在許多的電子產品，例如桌上型電腦的熒幕、筆記型電腦、數字相框、液晶電視機、數字相機或衛星導航機等，而漸漸成為大眾在日常生活中不可缺少的產品，以目前的液晶顯示器為例，因液晶顯示器制造過程中，需進行缺陷檢測以將瑕疵品剔除，且隨著科技進步，使檢測的品質要求越來越高，以避免產品因品質不良遭受客戶或使用者退回，而影響產品銷售量及市場對品牌的認同度。

因此，一般液晶顯示器制造過程中針對制程中待測玻璃基板約有10至12道的制程，并在制造過程中，必須對已知至少約17種的缺陷進行檢測，而目前國內外設備廠商大多利用光源照射于待測玻璃基板上，進行表面各缺陷檢測，如日本的專利申請案，其公開號為特開2000-146846號的外觀檢查用投光裝置，其公開日為2000年5月26日，請參閱圖8所示，是現有的側視示意圖，由圖中所示可清楚看出，其外觀檢查用投光裝置A將光源裝置A1及反射鏡A2架設于框架或裝置上，其光源裝置A1所射出的光源可透過反射鏡A2反射，并經由兩片透鏡A3將光源聚集，再利用開關(圖中未示出)對調光玻璃A4(亦可稱為光開關層或液晶擴散板)調整施加電壓的不同，而形成透明狀使光源集中收束照射于待測玻璃基板A5上，或另可形成霧狀使光源擴散照射于待測玻璃基板A5上，以此對待測玻璃基板A5的不同的測試情況，將光源集中收束或擴散至待測玻璃基板A5進行檢測。

再如中國臺灣省的專利申請案，其公開第200714837號的光強度分布調整裝置，在1996年5月1日提出發明專利申請，且申請案號為第95115490號，請參閱圖9所示，是另一現有的使用示意圖，由圖中所示可清楚看出，其光強度分布調整裝置B的電腦B1可控制光源裝置B2進行光源的照射，且經光纖B3傳輸至透鏡組B4，并利用透鏡組B4將光源照射至反射板B5，而反射板B5再將光源穿透至光調整裝置B6后，再照射至待測玻璃基板B7，以進行待測玻璃基板B7缺陷檢測，而光調整裝置B6為由透鏡B61及調光玻璃B62堆疊組合而成，其調光玻璃B62利用開關(圖中未示出)切換透明狀或霧狀，使光源可集中收束或擴散照射至待測玻璃基板B7，透鏡B61可將光源集中收束照射至待測玻璃基板B7。

但目前現有透過光源檢測待測玻璃基板的設備，在實際使用時卻存在諸多的缺失，如：

(1)當檢測人員透過光源對待測玻璃基板A5、B7進行檢測是否有缺陷時，可透過開關(圖中未示出)切換調光玻璃A4、B62集中收束光源于待測玻璃基板A5、B7上，因透鏡A3、B61的光干涉及色差，導致待測玻璃基板A5、B7上會產生黑白條紋相間狀的輻射紋及多種顏色的彩虹紋，造成對待測玻璃基板A5、B7檢測的誤判或無法有效檢出缺陷，無法符合現今高品質檢測的要求，不僅造成對檢測人員在檢測過程中的麻煩，且會增加檢測的時間，導致檢測速度緩慢及工作效率降低。

(2)當調光玻璃A4、B62開關切換成霧狀時，光源由集中收束變換成擴散光照射至待測玻璃基板A5、B7時，由于調光玻璃A4、B62的特性，照度會由原來的8000呎燭光(Lux)降低至約2000呎燭光(Lux)左右，造成在擴散光模式下照度不足，無法檢測待測玻璃基板A5、B7必需于擴散光模式下檢出的缺陷，且調光玻璃A4、B62的價格高昂，導致光強度分布調整裝置B及外觀檢查用投光裝置A的價格成本居高不下。

因此，如何解決現有測試光源裝置，照射于待測玻璃基板產生彩虹紋及輻射紋的問題與缺失，以及調光玻璃于切換成擴散光檢查模式時，會有照度不足的問題，即為從事此行業的相關廠商所亟欲研究改善方向的所在。

發明內容

因此，創作人有鑒于上述的問題與缺失，搜集相關資料，經由多方評估及考量，并以從事于此行業累積的多年經驗，經由不斷試作及修改，始設計出此種光學檢測機的實用新型專利誕生者。