[實用新型]寬帶高溫介電性能測量裝置

無效

• 申請號: 201020107013.6
• 申請日: 2010-02-03
• 公開（公告）號: CN201666921U
• 公開（公告）日: 2010-12-08
• 發明（設計）人: 張娜;張國華;陳婷;高春彥;成俊杰;宗惠慶;琚小琳
• 申請（專利權）人: 北京無線電計量測試研究所
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26
• 代理公司: 北京正理專利代理有限公司 11257
• 代理人: 王德楨

技術領域

本實用新型涉及一種用于介電性能測量領域的測量裝置，特別是涉及一種寬帶高溫介電性能測量裝置。

背景技術

目前，微波材料介電性能常溫測量方法很多，但利用常溫的測量結果對工作在高溫條件的系統進行設計勢必會引入誤差。通常介電性能的高溫測量采用三種方法：高溫諧振腔法、高溫準光腔法、高溫開路終端同軸線法。高溫諧振腔法通常直接在腔外對介質加熱，溫度計置于電場垂直方向監測溫度，通過測量填充樣品的諧振頻率、品質因數、腔體尺寸和樣品厚度求得介電常數。高溫準光腔法將樣品置于平面鏡上共同被加熱，通過測量樣品放入腔體前后諧振頻率、品質因數的變化，結合腔體尺寸和樣品厚度求得介電常數。高溫開路終端同軸線法是將同軸探頭置于高溫樣品表面，通過測量樣品的復反射特性求得介電常數。高溫諧振腔法測量頻率取決于腔體尺寸，當測量頻率很低時，對應波長較長，腔體尺寸很大，在實際測量工作中無法實現；當測量頻率逐漸升高至毫米波頻段，腔體尺寸減小，品質因數迅速降低，誤差增大，因此諧振腔法的測量頻率無法低至幾百兆以下，也不適為毫米波及以上頻段，并且只能在點頻或很窄的頻段進行測量。高溫準光腔法通常工作在毫米波頻段，適用于波導8mm及以上波段，受波導耦合傳輸線限制，測量頻段相對較窄，不超過一個波導波段。高溫開路終端同軸線法可以工作在較低的測量頻率，工作頻段也比較寬，但由于采用開放式測量，誤差修正等技術難以完善，準確度較低。

發明內容

本實用新型在于避免以上現有技術的不足而提供一種寬帶高溫介電性能測量裝置。以解決10MHz~18GHz頻率范圍、RT~600℃溫度范圍介電性能的準確測量問題。

本實用新型的技術方案為：

一種寬帶高溫介電性能測量裝置，包括依次機械連接的第一降溫組件、左穿墻、第一測試夾具、高溫連接器、右穿墻、第二降溫組件，所述的第一降溫組件和第二降溫組件通過電纜連接至控制采集裝置，所述的第一測試夾具、高溫連接器及連接于所述第一測試夾具的左穿墻的右側部分、連接于所述高溫連接器的右穿墻的左側部分置于一高溫加熱箱內，所述的高溫加熱箱內還置有一溫度監控裝置。

所述的溫度監控裝置為依次機械連接的N型短路器、第二測試夾具、第一傳感器、N型開路器。

所述的第一測試夾具連接有一置于高溫加熱箱內的第二傳感器。

所述的第二傳感器連接有一置于高溫加熱箱外的溫度計。

所述的機械連接為螺接。

所述的控制采集裝置為一連接網絡分析儀的控制機。

本實用新型的優點

本測量裝置基于傳輸反射理論，測試夾具、高溫組件、降溫組件、高溫加熱箱、溫度監控裝置，結合網絡分析儀和校準件組建系統，采用高溫誤差修正技術和時域技術提高了高溫介電性能的測量準確度。本測量裝置彌補了現有高溫介電性能測量裝置頻帶窄、準確度低等缺點。

附圖說明

圖1為本實用新型裝置原理結構圖；

圖2為本實用新型中高溫加熱箱結構圖。

具體實施方式

如圖1所示，一種寬帶高溫介電性能測量裝置包括依次機械連接的第一降溫器件1、左穿墻2、第一測試夾具3、高溫連接器4、右穿墻5、第二降溫器件6，所述的第一降溫器件1和第二降溫器6件通過網絡分析儀測試電纜7連接至控制采集裝置8，所述的第一測試夾具3、高溫連接器4及連接于所述第一測試夾具3的左穿墻2的右側部分、連接于所述高溫連接器4的右穿墻2的左側部分置于一高溫加熱箱9內，所述的高溫加熱箱9內還置有一溫度監控裝置。所述的溫度監控裝置為依次機械連接的N型短路器10、第二測試夾具11、傳感器12、N型開路器13，所述的N型開路器外接有一溫度計14。所述的第一測試夾具3連接有一置于高溫加熱箱9內的第二傳感器15。所述的第二傳感器15連接有一置于高溫加熱箱9外的溫度計16。其中上述所述的機械連接可為螺接。所述的控制采集裝置8為一連接網絡分析儀的控制機。

以下對本實用新型各個組件分別介紹。

高溫組件：