[實用新型]非接觸式尋線測試電筆

無效

• 申請號: 201020026107.0
• 申請日: 2010-01-05
• 公開（公告）號: CN201654112U
• 公開（公告）日: 2010-11-24
• 發明（設計）人: 林燁
• 申請（專利權）人: 林燁
• 主分類號: G01R19/155
• 分類號: G01R19/155;G01R19/14;G01R19/25;G01R31/02
• 代理公司: 廣州三環專利代理有限公司 44202
• 代理人: 張艷美;郝傳鑫

1.一種非接觸式尋線測試電筆，包括外殼、突伸于所述外殼一端的探測頭、設于所述外殼內腔的電路板及連接所述電路板的指示器，所述探測頭包括金屬片和包覆所述金屬片的絕緣層，其特征在于：所述電路板包括尋線電路和測試電路，所述測試電路連接所述金屬片；所述非接觸式尋線測試電筆還包括碳棒線圈，所述碳棒線圈設于所述外殼內腔靠近所述探測頭并連接所述尋線電路。

2.如權利要求1所述的非接觸式尋線測試電筆，其特征在于：所述測試電路包括取樣單元、模數轉換單元、微處理器識別單元。

3.如權利要求1所述的非接觸式尋線測試電筆，其特征在于：所述尋線電路包括選頻接收單元、放大單元、解調單元和微處理器識別產生音頻單元。

4.如權利要求所述的非接觸式尋線測試電筆，其特征在于：所述尋線電路包括選頻接收單元、放大單元和分頻單元。

5.如權利要求1所述的非接觸式尋線測試電筆，其特征在于：所述指示器為LCD液晶顯示器、LED發光二極管、揚聲器、耳機或蜂鳴器。

6.如權利要求1所述的非接觸式尋線測試電筆，其特征在于：還包括電壓讀數器，所述電壓讀數器連接所述測試電路。