[發(fā)明專(zhuān)利]探測(cè)器裝置及具有該探測(cè)器裝置的CT檢查系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010621621.3 | 申請(qǐng)日: | 2007-12-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102103091A | 公開(kāi)(公告)日: | 2011-06-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 羅希雷;陳志強(qiáng);李元景;李玉蘭;劉以農(nóng);張麗;趙自然;吳萬(wàn)龍;趙書(shū)清;桑斌;王海林;曹碩;林東;鄭志敏 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 清華大學(xué);同方威視技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N23/04 | 分類(lèi)號(hào): | G01N23/04;G01T1/16;G21K1/02 |
| 代理公司: | 中科專(zhuān)利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 張成新 |
| 地址: | 100084*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 探測(cè)器 裝置 具有 ct 檢查 系統(tǒng) | ||
本申請(qǐng)為申請(qǐng)?zhí)枮?00710308551.4、申請(qǐng)日為2007年12月29日、發(fā)明名稱(chēng)為“探測(cè)器裝置及具有該探測(cè)器裝置的CT檢查系統(tǒng)”的專(zhuān)利申請(qǐng)的分案申請(qǐng)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于輻射檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,其涉及CT安全檢查系統(tǒng),尤其涉及一種用于CT安全檢查系統(tǒng)設(shè)備的探測(cè)器裝置,更具體地說(shuō),涉及一種用于CT安全檢查系統(tǒng)設(shè)備的帶有準(zhǔn)直器并可調(diào)節(jié)精準(zhǔn)定位的探測(cè)器裝置。
背景技術(shù)
在現(xiàn)有技術(shù)中的用于CT安全檢查系統(tǒng)設(shè)備的探測(cè)器裝置中,探測(cè)器模塊中的探測(cè)器陣列排布在定位支座上,一般地在探測(cè)器模塊的前面裝有可調(diào)準(zhǔn)直器,從而構(gòu)成整個(gè)探測(cè)器裝置。上述構(gòu)成的探測(cè)器裝置具有下述缺點(diǎn)和問(wèn)題:首先,采用上述結(jié)構(gòu)的探測(cè)器裝置體積龐大,從而增大了整個(gè)CT安全檢查系統(tǒng)的占用的空間;其次,由于需要對(duì)輻射源、準(zhǔn)直器、探測(cè)器模塊和定位支座進(jìn)行相對(duì)位置關(guān)系的調(diào)節(jié),上述調(diào)節(jié)操作,特別是對(duì)準(zhǔn)直器的調(diào)節(jié)繁瑣,探測(cè)器裝置的安裝調(diào)試定位不準(zhǔn)。此外,探測(cè)器裝置密封不好,也會(huì)造成探測(cè)器晶體工作穩(wěn)定性差。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的旨在克服現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺陷和不足的至少一個(gè)方面。
相應(yīng)地,本發(fā)明的目的之一在于提供一種結(jié)構(gòu)緊湊的探測(cè)器裝置。
本發(fā)明的另一目的在于提供一種帶有準(zhǔn)直器并可調(diào)節(jié)精準(zhǔn)定位的探測(cè)器裝置,其中可以精細(xì)地調(diào)節(jié)安裝在其上的探測(cè)器,從而可以應(yīng)用到CT安全檢查系統(tǒng)設(shè)備中。
本發(fā)明的再一目的在于提供一種能夠快速、方便地對(duì)探測(cè)器裝置進(jìn)行調(diào)節(jié)和定位的CT檢查系統(tǒng)。
本發(fā)明的進(jìn)一步的目的在于提供一種免受電磁波和溫濕度的干擾從而保證探測(cè)器工作穩(wěn)定的探測(cè)器裝置。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,其提供一種探測(cè)器裝置,包括:調(diào)節(jié)定位基座,其包括:可固定連接到一環(huán)形旋轉(zhuǎn)臺(tái)或圓盤(pán)上的水平板;以及從所述水平板上延伸并大體與所述水平板垂直的垂直板,其中所述垂直板在其一側(cè)設(shè)置有水平通長(zhǎng)凹槽;和探測(cè)器模塊,其可固定地安裝到調(diào)節(jié)定位基座的所述水平通長(zhǎng)凹槽中。
在一種實(shí)施方式中,垂直板的一側(cè)頂部設(shè)置有鋸齒形結(jié)構(gòu),該鋸齒形結(jié)構(gòu)由凸部和凹部組成,所述凹部用于容納探測(cè)器模塊的傳輸導(dǎo)線。
優(yōu)選地,所述水平通長(zhǎng)凹槽的底部進(jìn)一步設(shè)置有槽口,且防射線穿透材料嵌入到所述槽口中。
在一種實(shí)施方式中,所述水平板設(shè)置有至少一個(gè)凸臺(tái),在所述至少一個(gè)凸臺(tái)上開(kāi)有導(dǎo)向槽,一限位導(dǎo)向滑輪設(shè)置在所述導(dǎo)向槽中并可沿所述導(dǎo)向槽滑動(dòng)。
進(jìn)一步地,所述至少一個(gè)凸臺(tái)還設(shè)置有一個(gè)測(cè)微頭,所述測(cè)微頭通過(guò)支座固定到所述環(huán)形旋轉(zhuǎn)圓盤(pán)上,用于調(diào)節(jié)探測(cè)器裝置的位置并將其鎖定。
可選地,所述至少一個(gè)凸臺(tái)包括兩個(gè)凸臺(tái),該兩個(gè)凸臺(tái)上分別設(shè)置有一個(gè)測(cè)微頭,所述測(cè)微頭通過(guò)支座固定到所述環(huán)形旋轉(zhuǎn)圓盤(pán)上,用于調(diào)節(jié)探測(cè)器裝置的位置并將其鎖定。
在一種實(shí)施方式中,調(diào)節(jié)定位基座在水平面上的投影形狀為弧線、折線、直線和多段弧線中的一種。
在另一種實(shí)施方式中,所述定位基座在垂直面上的橫截面的形狀呈大體倒T形形狀。
在再一種實(shí)施方式中,探測(cè)器裝置還包括:數(shù)據(jù)采集電路板,其設(shè)置于所述垂直板上與設(shè)置所述探測(cè)器模塊的所述一側(cè)相反的另一側(cè)上,用于采集探測(cè)器模塊產(chǎn)生的數(shù)據(jù)。
優(yōu)選地,所述垂直板上設(shè)置有所述探測(cè)器模塊的所述一側(cè)還設(shè)置有防止輻射射線穿透所述垂直板的防輻射穿透材料。
在一種實(shí)施方式中,探測(cè)器模塊包括:由高能探測(cè)器陣列和低能探測(cè)器陣列組成的雙能探測(cè)器陣列。
在另一種實(shí)施方式中,探測(cè)器模塊還包括:集成在所述探測(cè)器模塊前面的準(zhǔn)直器,該準(zhǔn)直器包括:具有上、下相對(duì)的梳齒狀結(jié)構(gòu)的基座;以及設(shè)置在所述基座的上、下相對(duì)的梳齒狀結(jié)構(gòu)之間的防射線穿透的隔板。
優(yōu)選地,探測(cè)器模塊還包括:屏蔽罩,其用于覆蓋調(diào)節(jié)定位基座和探測(cè)器模塊以防止外部環(huán)境因素對(duì)探測(cè)器模塊的影響,所述屏蔽罩與探測(cè)器模塊正對(duì)處開(kāi)有一窗口,一金屬箔連接到窗口,以覆蓋所述窗口。該屏蔽罩用于電磁屏蔽以及屏蔽外界環(huán)境因素例如溫、濕度的變化。
優(yōu)選地,所述限位導(dǎo)向滑輪由高精度軸承和與軸承配合銷(xiāo)軸構(gòu)成。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光





