[發(fā)明專(zhuān)利]一種具有緩沖層的SOI超結(jié)LDMOS器件有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010619509.6 | 申請(qǐng)日: | 2010-12-31 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102130176A | 公開(kāi)(公告)日: | 2011-07-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 程新紅;何大偉;王中健;徐大偉;夏超;宋朝瑞;俞躍輝 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所;上海新傲科技股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L29/78 | 分類(lèi)號(hào): | H01L29/78;H01L29/06;H01L29/36 |
| 代理公司: | 上海光華專(zhuān)利事務(wù)所 31219 | 代理人: | 李儀萍 |
| 地址: | 200050 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 具有 緩沖 soi ldmos 器件 | ||
1.一種具有緩沖層的SOI超結(jié)LDMOS器件,包括SOI襯底和位于所述SOI襯底之上的有源區(qū);所述有源區(qū)包括:柵區(qū)、分別位于所述柵區(qū)兩側(cè)的源區(qū)和漏區(qū)、位于所述柵區(qū)之下的體區(qū)、位于所述體區(qū)與所述漏區(qū)之間的漂移區(qū);其特征在于:
所述漂移區(qū)包括橫向超結(jié)結(jié)構(gòu)和位于所述橫向超結(jié)結(jié)構(gòu)上方的緩沖層。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述具有緩沖層的SOI超結(jié)LDMOS器件,其特征在于:所述橫向超結(jié)結(jié)構(gòu)包括橫向交替排列的N型柱區(qū)和P型柱區(qū)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述具有緩沖層的SOI超結(jié)LDMOS器件,其特征在于:所述緩沖層為淺摻雜的N型緩沖層。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述具有緩沖層的SOI超結(jié)LDMOS器件,其特征在于:所述緩沖層位于所述漂移區(qū)的表層。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述具有緩沖層的SOI超結(jié)LDMOS器件,其特征在于:還包括體接觸區(qū),所述體接觸區(qū)位于所述源區(qū)旁與所述體區(qū)相接觸。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述具有緩沖層的SOI超結(jié)LDMOS器件,其特征在于:在所述有源區(qū)周?chē)O(shè)有溝槽隔離結(jié)構(gòu)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述具有緩沖層的SOI超結(jié)LDMOS器件,其特征在于:所述柵區(qū)包括柵介質(zhì)層和位于柵介質(zhì)層之上的柵材料層。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述具有緩沖層的SOI超結(jié)LDMOS器件,其特征在于:所述柵材料為多晶硅材料。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述具有緩沖層的SOI超結(jié)LDMOS器件,其特征在于:所述有源區(qū)表面設(shè)有保護(hù)層。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專(zhuān)門(mén)適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類(lèi)型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過(guò)對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過(guò)施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的





