[發明專利]一種電路測試裝置

有效

• 申請號: 201010617492.0
• 申請日: 2010-12-30
• 公開（公告）號: CN102141598A
• 公開（公告）日: 2011-08-03
• 發明（設計）人: 唐先德;李紅;李貴栓
• 申請（專利權）人: 優利德科技（中國）有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 逯長明

技術領域

本發明涉及電路測試技術領域，更具體地說，涉及一種電路測試裝置。

背景技術

現有的測試儀表面板上會對應測試要求設置相應的測試檔位，每個測試檔位有相應的測試孔，操作者進行電路測試時，需要對測試孔進行判斷，確定測試孔后再將電筆插入測試，當測試孔數量較多時就難免出現插錯現象。

為解決上述問題，現有技術提供了一種技術方案，該方案在用戶選擇不同的測試檔時采用凸輪片遮擋其他測試孔而保留相應的測試孔，從而實現了避免表筆誤插的目的。

但是，發明人在實施本發明創造過程中，發現上述方案雖然能夠防止表筆誤插，但至少存在以下缺陷：

測試儀表上仍然需要保留對應不同測試檔位的多個測試孔，使用者在執行測試操作時，需要反復插拔表筆來實現換擋(更換測試檔位)，操作程序比較繁瑣。

發明內容

本發明實施例提供了一種電路測試裝置，以解決現有技術由于需要有多個測試孔而導致操作程序繁瑣的問題。

本發明實施例提供的技術方案如下：

一種電路測試裝置，包括測試裝置本體、設置在所述本體上的測試孔連線及設置在所述本體內部的多路電路，

所述測試孔與所述多路電路相連接，所述測試裝置還包括設置在所述測試本體內的刀盤及與設置在所述測試本體的殼體上且位于所述刀盤外側的旋鈕，其中：

所述刀盤由多段圓弧狀導體組成，各段圓弧狀導體之間互不相連，各段圓弧狀均由一個半徑較小的內導體和一個半徑較大的外導體組成，所述內導體和外導體圓心相同，互不相連；

各路電路的兩極分別連接同一個圓弧狀導體的內導體和外導體；

所述旋鈕朝向所述刀盤的一側設置有接觸片，所述接觸片隨著旋鈕同步轉動，并同時連接所述接觸片所述刀盤上與所述接觸片位置對應的圓弧狀導體的內導體和外導體。

優選的，上述電路測試裝置中，所述接觸片設置在旋鈕朝向所述刀盤一側的圓盤上。

優選的，上述電路測試裝置中，所述接觸片具有兩個觸腳，能夠分別與圓弧狀導體的內導體和外導體相接觸。

優選的，上述電路測試裝置中，所述接觸片成倒V字形或倒U字形，開口朝向所述刀盤。

優選的，上述電路測試裝置中，所述刀盤呈圓環狀。

優選的，上述電路測試裝置中，所述多路電路包括：直流電流電路、交流電流電路、直流電壓電路、交流電壓電路和電阻電路。

與現有技術相比，上述技術方案具有以下優點：

本發明實施例提供的電路測試裝置預先將測試孔與各路電路連通，通過旋鈕帶動接觸片在多段圓弧段導體組成的刀盤上滑動，即可切換測試檔位，從而使得對各電路的測試能夠共用測試孔，操作者在進行電路測試時，只需將表筆插入該測試孔，然后通過旋轉旋鈕即可實現對多個測試檔位的測試，無需反復插拔表筆，操作程序簡單，提高工作效率且降低了出錯概率。

附圖說明

通過附圖所示，本發明的上述及其它目的、特征和優勢將更加清晰。在全部附圖中相同的附圖標記指示相同的部分。并未刻意按實際尺寸等比例縮放繪制附圖，重點在于示出本發明的主旨。

圖1為本發明實施例提供的一種電路測試裝置的結構示意圖；

圖2為本發明實施例提供的一種電路測試裝置中電路和測試孔之間的結構示意圖1；

圖3為本發明實施例提供的一種電路測試裝置中連接片與刀盤接觸的示意圖；

圖4為本發明實施例提供的一種電路測試裝置中刀盤的結構示意圖；

圖5-圖7為本發明實施例提供的一種電路測試裝置的工作示意圖；

圖8為本發明實施例提供的另一種電路測試裝置的刀盤結構示意圖。

具體實施方式

為使本發明的上述目的、特征和優點能夠更加明顯易懂，下面結合附圖對本發明的具體實施方式做詳細的說明。

在下面的描述中闡述了很多具體細節以便于充分理解本發明，但是本發明還可以采用其他不同于在此描述的其它方式來實施，本領域技術人員可以在不違背本發明內涵的情況下做類似推廣，因此本發明不受下面公開的具體實施例的限制。

其次，本發明結合示意圖進行詳細描述，在詳述本發明實施例時，為便于說明，表示器件結構的剖面圖會不以一般比例作局部放大，而且所述示意圖只是示例，其在此不應限制本發明保護的范圍。此外，在實際制作中應包含長度、寬度及深度的三維空間尺寸。

針對現有技術存在的由于存在多個測試孔，測試人員需要反復插拔表筆，測試步驟繁瑣費時的問題，本發明提供了一種解決方案，其基本思想是通過旋鈕帶動接觸片在多段圓弧段導體組成的刀盤上滑動，以切換測試檔位。