[發明專利]陣列基板及其形成方法有效
| 申請號: | 201010616900.0 | 申請日: | 2010-12-17 |
| 公開(公告)號: | CN102569186A | 公開(公告)日: | 2012-07-11 |
| 發明(設計)人: | 周政旭 | 申請(專利權)人: | 奇美電子股份有限公司;群康科技(深圳)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/77 | 分類號: | H01L21/77;G02F1/1362;G02F1/1368 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所有限公司 31100 | 代理人: | 駱希聰 |
| 地址: | 中國臺灣新竹科學工*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 陣列 及其 形成 方法 | ||
技術領域
本發明是關于液晶顯示器的工藝,尤其是關于其陣列基板的形成方法。
背景技術
目前制作液晶顯示器的陣列基板一般需要多達四至五道的光刻工藝,即需四至五道掩模。若是要采用三道掩模工藝,則需利用舉離(Lift-off)工藝。在舉離工藝中,先形成光阻圖案作為鍍膜犧牲層。接著形成鍍膜于光阻上及未被光阻圖案覆蓋的區域上,再將基板浸置于去光阻液。隨著光阻圖案去除,可一并將位于光阻圖案上的鍍膜剝離,達到節省掩模的工藝目的。然而一般TFT量產設備并不適合讓含有光阻的基板進入沉積腔體進行工藝,且剝離后的鍍膜亦容易回粘至基板陣列上形成缺陷。另一方面,光阻上的鍍膜可能會懸浮于去光阻液中,造成去光阻液輸送管線的塞管現象。
綜上所述,陣列基板的三道掩模工藝目前亟需新的工藝方法,在不增加掩模數目的前提下取代現有的舉離工藝。
發明內容
本發明一實施例提供一種陣列基板的形成方法,包括形成第一導電層于基板上;形成第一光阻層于第一導電層上;以第一多段式調整掩模進行光刻工藝,圖案化第一光阻層以形成第一無光阻區域、第一薄層光阻圖案、及第一厚層光阻圖案;蝕刻對應第一無光阻區域的第一導電層,形成柵極、與柵極相連的柵極線、共通電極線、及底導線,其中第一薄層光阻圖案位于柵極、柵極線、共通電極線、及底導線的走線區域上,且第一厚層光阻圖案位于底導線的接觸區域上;灰化第一薄層光阻圖案,露出柵極、柵極線、共通電極線、及底導線的走線區域;選擇性沉積絕緣層于基板、柵極、柵極線、共通電極線、及底導線的走線區域上;選擇性沉積半導體層于絕緣層上;移除第一厚層光阻圖案;以及形成第二導電層于半導體層與底導線的接觸區域上。
本發明另一實施例提供一種陣列基板的形成方法,包括形成柵極、與柵極相連的柵極線、及共通電極線于基板上;沉積絕緣層于基板、柵極、柵極線、及共通電極線上;沉積半導體層于絕緣層上;沉積導電層于半導體層上;形成光阻層于導電層上;以多段式調整掩模進行光刻工藝,圖案化光阻層以形成無光阻區域、薄層光阻圖案、次厚層光阻圖案、及厚層光阻圖案;移除對應無光阻區域的導電層及半導體層,形成數據線、連接至數據線的導電圖案、通道層、及上電極,其中數據線與柵極線垂直相交以定義像素區,通道層夾設于導電圖案與柵極之間,且上電極覆蓋部分共通電極線以定義儲存電容;其中薄層光阻圖案對應導電圖案的中心部分,且第二次厚層光阻圖案對應導電圖案的兩側、數據線、及上電極;灰化薄層光阻圖案,露出導電圖案的中心部分;移除露出的導電圖案的中心部分以形成源極/漏極,并露出柵極中心部分上的通道層,其中厚層光阻圖案對應部分漏極及部分上電極;灰化次厚層光阻圖案,露出源極/漏極、數據線、及上電極;選擇性沉積保護層于厚層光阻圖案以外的所有區域上;灰化厚層光阻圖案,露出部分漏極與部分上電極;以及形成像素電極圖案于該像素區的保護層上,且像素電極圖案連接至露出的部分漏極與部分上電極。
本發明又一實施例提供一種陣列基板的形成方法,包括形成導電層于基板上;形成光阻層于導電層上;以多段式調整掩模進行光刻工藝,圖案化光阻層以形成無光阻區域、薄層光阻圖案、及厚層光阻圖案;蝕刻對應無光阻區域的導電層,形成底導線,其中薄層光阻圖案位于底導線的走線區域上,且厚層光阻圖案位于底導線的接觸區域上;灰化薄層光阻圖案,露出底導線的走線區域;選擇性沉積絕緣層于基板及底導線的走線區域上;選擇性沉積半導體層于絕緣層上;移除厚層光阻圖案,露出底導線的接觸區域;形成頂導線于半導體層上,且頂導線連接至底導線的接觸區域上;移除未被頂導線覆蓋的半導體層;以及形成保護層于絕緣層與頂導線上。
本發明再一實施例提供一種陣列基板,包括底導線,位于基板上;絕緣層,位于底導線及基板上,且該絕緣層具有開口露出部分底導線;頂導線,位于絕緣層上且經由開口直接接觸底導線;以及保護層,位于頂導線及基板上;其中頂導線與絕緣層之間夾設半導體層。
附圖說明
為讓本發明的上述目的、特征和優點能更明顯易懂,以下結合附圖對本發明的具體實施方式作詳細說明,其中:
圖1A-1C、3A-3H、5A、及5C-5G本發明一實施例中,形成陣列基板的顯示區的工藝剖視圖;
圖1D、3I、及5B本發明一實施例中,形成陣列基板的顯示區的工藝上視圖;
圖2A-2E及4A-4E本發明一實施例中,形成陣列基板的外圍走線區的工藝剖視圖;以及
圖1E、圖2F及4F本發明一實施例中,形成陣列基板的外圍走線區的工藝剖視圖。
主要元件符號說明:
A-A’、B-B’~音面線;
10~基板;
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





