[發(fā)明專利]信號檢測方法、裝置和基站有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010612824.6 | 申請日: | 2010-12-29 |
| 公開(公告)號: | CN102025433A | 公開(公告)日: | 2011-04-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 曾志雄;孫益軍;孫捷 | 申請(專利權(quán))人: | 華為技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | H04B17/00 | 分類號: | H04B17/00;H04W24/08 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518129 廣東省*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 信號 檢測 方法 裝置 基站 | ||
1.一種信號檢測裝置,用于對待測通道進(jìn)行信號檢測,其特征在于,包括第一耦合器、第二耦合器、功率檢波單元和信號獲得單元,
所述第一耦合器和第二耦合器均用于耦合所述待測通道上的信號,第一耦合器和第二耦合器之間的傳輸線的長度為四分之一波長的奇數(shù)倍,所述第一耦合器和第二耦合器的方向性相同;
功率檢波單元,與第一耦合器和第二耦合器相連,用于對第一耦合器輸出的信號進(jìn)行功率檢波,獲得待測通道上的信號的功率的第一檢測結(jié)果,并對第二耦合器輸出的信號進(jìn)行功率檢波,獲得待測通道上的信號的功率的第二檢測結(jié)果;
信號獲得單元,與功率檢波單元相連,用于獲得待測通道上的信號的功率的第一檢測結(jié)果和待測通道上的信號的功率的第二檢測結(jié)果的均量,作為待測通道上的信號的功率的第三檢測結(jié)果。
2.如權(quán)利要求1所述的信號檢測裝置,其特征在于,所述功率檢波單元包括第一功率檢波器和第二功率檢波器,其中,
第一功率檢波器與第一耦合器和信號獲得單元相連,用于對第一耦合器的輸出進(jìn)行功率檢波,并輸出給信號獲得單元;
第二功率檢波器與第二耦合器和信號獲得單元相連,用于對第二耦合器的輸出進(jìn)行功率檢波,并輸出給信號獲得單元。
3.如權(quán)利要求1所述的信號檢測裝置,其特征在于,所述功率檢波單元包括開關(guān)和功率檢波器,其中,
開關(guān)與第一耦合器和第二耦合器分別相連,用于對第一耦合器和第二耦合器的輸出進(jìn)行切換,使功率檢波器分時對第一耦合器和第二耦合器的輸出進(jìn)行功率檢波;
功率檢波器與開關(guān)和信號獲得單元相連,用于對第一耦合器或第二耦合器的輸出進(jìn)行功率檢波,并輸出給信號獲得單元。
4.如權(quán)利要求1所述的信號檢測裝置,其特征在于,所述待測通道為射頻或微波通道,所述射頻或微波通道上的信號包括前向信號和反射信號,所述第一耦合器和第二耦合器均用于耦合所述前向信號或反射信號。
5.如權(quán)利要求4所述的信號檢測裝置,其特征在于,還包括阻抗匹配表征參數(shù)獲得單元,與所述信號獲得單元相連,用于根據(jù)所述待測通道上的信號的功率的第三檢測結(jié)果計算阻抗匹配表征參數(shù)。
6.如權(quán)利要求5所述的信號檢測裝置,其特征在于,還包括校正單元,與所述阻抗匹配表征參數(shù)獲得單元相連,用于根據(jù)所獲得的第一耦合器或第二耦合器的方向性參數(shù)對所計算出的阻抗匹配表征參數(shù)進(jìn)行校正。
7.如權(quán)利要求1至6任意一項所述的信號檢測裝置,其特征在于,所述第一耦合器或第二耦合器為定向耦合器、環(huán)行器、隔離器中的一種。
8.一種基站,其特征在于,包括射頻通道和如權(quán)利要求1至7任意一項所述的信號檢測裝置,所述待測通道為射頻通道。
9.一種信號檢測方法,其特征在于,包括:
通過第一耦合器和第二耦合器耦合待測通道上的信號,第一耦合器和第二耦合器之間的傳輸線的長度為四分之一波長的奇數(shù)倍,所述第一耦合器和第二耦合器的方向性相同;
對第一耦合器耦合到的信號進(jìn)行功率檢波獲得待測通道上的信號的功率的第一檢測結(jié)果,對第二耦合器耦合到的信號進(jìn)行功率檢波獲得待測通道上的信號的功率的第二檢測結(jié)果;
獲取待測通道上的信號的功率的第一檢測結(jié)果和待測通道上的信號的功率的第二檢測結(jié)果的均量。
10.如權(quán)利要求9所述的信號檢測方法,其特征在于,所述對第一耦合器耦合到的信號進(jìn)行功率檢波獲得待測通道上的信號的功率的第一檢測結(jié)果,對第二耦合器耦合到的信號進(jìn)行功率檢波獲得待測通道上的信號的功率的第二檢測結(jié)果包括:
通過第一功率檢波器對第一耦合器耦合到的信號進(jìn)行功率檢波獲得待測通道上的信號的功率的第一檢測結(jié)果,通過第二功率檢波器對第二耦合器耦合到的信號進(jìn)行功率檢波獲得待測通道上的信號的功率的第二檢測結(jié)果;或者,
分時對第一耦合器耦合到的信號和第二耦合器耦合到的信號進(jìn)行功率檢波,分時獲得待測通道上的信號的功率的第一檢測結(jié)果和待測通道上的信號的功率的第二檢測結(jié)果。
11.如權(quán)利要求9或10所述的信號檢測方法,其特征在于,還包括:
根據(jù)所述待測通道上的信號的功率的第一檢測結(jié)果和待測通道上的信號的功率的第二檢測結(jié)果的均量計算阻抗匹配表征參數(shù)。
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