[發(fā)明專利]射頻測試方法與裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010610102.7
• 申請日: 2010-12-28
• 公開（公告）號: CN102571224A
• 公開（公告）日: 2012-07-11
• 發(fā)明（設計）人: 洪明國;張博光;游上賢;徐國昌
• 申請（專利權）人: 財團法人工業(yè)技術研究院
• 主分類號: H04B17/00
• 分類號: H04B17/00
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 陳小雯

技術領域

本發(fā)明是有關于一種射頻(radio?frequency，即RF)測試方法與裝置。

背景技術

某些行業(yè)經常需要進行射頻測試，例如產品供貨商或大型量販店等物流業(yè)者會將無線識別標簽(radio?frequency?identification?tag，簡稱為RFIDtag)貼附在各種不同產品上，而無線識別標簽很容易受到各種產品影響而產生性能的變化，需要改變貼附位置并改變標簽種類才能應付各種產品的應用。對這些業(yè)者而言，無線識別標簽的啟動功率測試極為重要。所謂啟動功率是一個臨界值，當無線識別標簽讀取器向無線識別標簽發(fā)射信號，只要無線識別標簽接收到的信號功率達到其啟動功率，就能啟動無線識別標簽，使無線識別標簽發(fā)出響應信號。

這種射頻測試，最理想的環(huán)境是無響室(anechoic?chamber)，因為遍布在無響室內的吸波體(absorber)可避免射頻信號在傳遞中產生的反射及散射等干擾所造成的測量誤差，但是無響室的建置費用昂貴，還需要昂貴的特殊設備和專業(yè)人員操作。所以即使以租借方式，所需費用也很高，而且需要配合租借廠商的地點和時間。

然而，如果不在無響室內測試，而是在無響室外的非理想環(huán)境進行測試，一定會產生相當程度的誤差，而且在不同環(huán)境或條件下測試會有不同結果。

發(fā)明內容

本發(fā)明的實施例提供一種射頻測試方法與裝置，其亦可以解決上述的在無響室以外測試的問題。

本發(fā)明提出一射頻測試方法實施例，此方法包括下列步驟。控制一接收器與一發(fā)射器的發(fā)射天線朝一方向移動，其中發(fā)射器經由發(fā)射天線向接收器發(fā)射一無線信號。每當移動至預設的多個取樣點其中之一時，測量一特定功率。此特定功率為使接收器接收無線信號的接收功率達到一臨界值所需的發(fā)射器的最低發(fā)射功率，或發(fā)射器以一固定功率發(fā)射無線信號時，接收器接收無線信號的接收功率。在上述移動與測量步驟中，接收器和發(fā)射天線的相對距離與相對角度固定不變，上述無線信號的頻率也固定不變。

本發(fā)明還提出一射頻測試裝置實施例，此裝置包括一載具、一發(fā)射器的發(fā)射天線、一驅動模塊、以及一控制單元。有一個接收器固定于載具上。發(fā)射器經由發(fā)射天線向接收器發(fā)射一無線信號。驅動模塊根據控制單元的指令，驅動載具與發(fā)射天線朝一方向移動。每當移動至預設的多個取樣點其中之一時，控制單元測量上述的特定功率。在上述的移動和測量過程中，接收器和發(fā)射天線的相對距離與相對角度固定不變，上述無線信號的頻率也固定不變。

為讓上述特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并配合所附圖式作詳細說明如下。

附圖說明

圖1是依照本發(fā)明一實施例的一種射頻測試方法的流程圖。

圖2是依照本發(fā)明一實施例的測試環(huán)境示意圖。

圖3是依照本發(fā)明一實施例的一種射頻測試裝置的示意圖。

圖4是依照本發(fā)明另一實施例的一種射頻測試方法的流程圖。

圖5和圖6是依照本發(fā)明一實施例的測量特定功率的示意圖。

圖7是依照本發(fā)明另一實施例的一種射頻測試方法的流程圖。

圖8是依照本發(fā)明另一實施例的一種射頻測試方法的流程圖。

[主要元件標號說明]

110～120：流程步驟????210：發(fā)射天線

220：接收器???????????240～243：無線信號傳遞方向

300：射頻測試裝置?????302：載具

304：旋臂?????????????306：支點

308：活動臂???????????310：發(fā)射天線

312：垂直桿件?????????314：底座

316：驅動模塊?????????318：控制單元

320：轉輪?????????????322：信號傳輸線

410～430：流程步驟????510～530、630：特定功率曲線

710～730、810～840：流程步驟

具體實施方式

圖1是依照本發(fā)明一實施例的一種射頻測試方法的流程圖。此方法可以協(xié)助評估非無響室的測試環(huán)境所產生的誤差范圍，幫助使用者選取或設計誤差較少的測試環(huán)境。依照本發(fā)明的實施例的射頻測試方法與裝置讓使用者亦可于不需要無響室時進行測試，且經由預估、探測、修正、及修正后探測，可有彈性地選取和建立無響室以外的測試環(huán)境，并且在預估的容許范圍內進行射頻測試。