[發明專利]光譜儀檢測高硅鋁合金含量的試樣制備方法無效
| 申請號： | 201010608988.1 | 申請日： | 2010-12-28 |
| 公開（公告）號： | CN102564838A | 公開（公告）日： | 2012-07-11 |
| 發明（設計）人： | 許裕 | 申請（專利權）人： | 中國航空工業標準件制造有限責任公司 |
| 主分類號： | G01N1/44 | 分類號： | G01N1/44 |
| 代理公司： | 貴州國防工業專利中心 52001 | 代理人： | 蔡麗華 |
| 地址： | 550014 貴州*** | 國省代碼： | 貴州;52 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 光譜儀 檢測 鋁合金 含量 試樣 制備 方法 | ||
【權利要求書】：
1.光譜儀測量高硅鋁合金含量的試樣制備方法，利用堿溶方法，采用分步增加NaOH溶液量，對試樣進行溶解，其特征在于：制備步驟為
(1)取0.1克Si含量≥8％的高硅鋁合金試樣于燒杯中，加入10ml含有20％的NaOH溶液，加熱至不再有小氣泡產生為止；
(2)向燒杯中加入3ml含有30％的NaOH溶液繼續反應，10分鐘后又補加3ml含有50％的NaO溶液繼續加熱至溶液呈粘糊狀；
(3)再向燒杯中倒入45ml(1+1)的HNO3進行酸化，加熱溶解2～3分鐘，冷至室溫后定容250ml。
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