[發明專利]一種極薄覆蓋層厚度的測量方法無效

申請號：	201010608424.8	申請日：	2010-12-28
公開（公告）號：	CN102564326A	公開（公告）日：	2012-07-11
發明（設計）人：	程祥勇;廖立新	申請（專利權）人：	中國航空工業標準件制造有限責任公司
主分類號：	G01B11/06	分類號：	G01B11/06
代理公司：	貴州國防工業專利中心 52001	代理人：	蔡麗華
地址：	550014 貴州***	國省代碼：	貴州;52
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種覆蓋層厚度測量方法
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【權利要求書】：

1.一種極薄覆蓋層厚度的測量方法，是在金相試樣上，采用斜交于覆蓋層取樣，按照GB6462-86《金屬和氧化物覆蓋層橫斷面厚度顯微鏡測量方法》通過顯微鏡測量試樣的厚度值，其特征在于：沿垂直于覆蓋層的截取面截取試樣，得到的截面為檢測面，測得其厚度測量值為a，在與覆蓋層表面斜交、夾角為α的面截取檢測放大面，得到檢測放大面，測得其厚度測量值為b，則最終測定值δ＝bsinα。

2.根據權利要求1所述的極薄覆蓋層厚度的測量方法，其特征在于：檢測放大面與覆蓋層表面斜交的角α為銳角。

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