[發明專利]數模轉換器的差分非線性誤差實時校正的自動校準電路

有效

• 申請號: 201010606037.0
• 申請日: 2010-12-24
• 公開（公告）號: CN102025374A
• 公開（公告）日: 2011-04-20
• 發明（設計）人: 蔣方亮
• 申請（專利權）人: 北京東方計量測試研究所
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10
• 代理公司: 北京海虹嘉誠知識產權代理有限公司 11129
• 代理人: 吳小燦

技術領域

本發明涉及數模轉換器技術，特別是一種對數模轉換器的差分非線性誤差實時校正的自動校準電路。

背景技術

數模轉換器的縮寫是DAC，差分非線性的縮寫是DNL。一般數模轉換器DAC的差分非線性DNL是在DAC的應用中的主要誤差源之一。由于DAC固有的DNL誤差，以及由于應用條件變化(例如溫度變化)，數模轉換器表現的DNL誤差也不相同，所以需要設計一種可對DAC的DNL誤差實時校正的自動校準電路，以提高數模轉換器DAC的準確度和分辨率。

發明內容

本發明針對現有技術存在的缺陷或不足，提供一種對數模轉換器的差分非線性誤差實時校正的自動校準電路，以提高數模轉換器DAC的準確度和分辨率。

本發明的技術方案如下：

對數模轉換器的差分非線性誤差實時校正的自動校準電路，其特征在于，包括一個求和放大器，所述求和放大器的輸出端通過第一電阻分別連接第一開關的一端和所述求和放大器的負向輸入端，所述求和放大器的負向輸入端連接第二開關的一端；所述第一開關的另一端連接應用數模轉換器，所述第二開關的另一端連接校準數模轉換器；所述應用數模轉換器通過數據總線A分別連接隨機存儲器和控制器，所述校準數模轉換器通過RAM數據總線連接所述隨機存儲器；所述第一開關和第二開關均連接所述控制器；所述求和放大器的輸出端通過第二電阻分別連接標準數模轉換器和比較器的正向輸入端，所述標準數模轉換器通過數據總線B分別連接所述隨機存儲器和所述控制器，所述比較器的輸出端連接所述控制器；所述比較器的負向輸入端接地，所述求和放大器的正向輸入端接地。

所述控制器用于對所述比較器的狀態進行判斷、對數據總線A和數據總線B進行操作、以及控制所述第一開關和第二開關。

所述求和放大器對應用數模轉換器的輸出和校準數模轉換器的輸出進行模擬運算后完成數據或代碼的校準并輸出電壓。

所述自動校準電路數據代碼同步尋址校準代碼，實現數模轉換器轉換特性的DNL全程校準或分段校準。

所述校準流程中標準1LSB的產生過程以及相鄰代碼與相應的記憶模擬值相互比較運算的過程。

本發明的技術效果如下：

(1)數據代碼同步尋址校準代碼，實現數模轉換器轉換特性的DNL全程校準或分段校準，靈活的校準配置。

(2)實時產生標準1LSB代碼，減小環境溫度的影響。

(3)實現全自動校準。

(4)校準流程簡單，自動校準效率高。

(5)利用該電路，靜態特性有明顯改善：

??DNL??INL??校準前??±1.75LSB??±2LSB??校準后??±0.5LSB??±0.75LSB

附圖說明

圖1是本發明的原理結構圖。

具體實施方式

下面結合附圖(圖1)對本發明進行說明。