[發(fā)明專利]探針測(cè)試實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010600397.X | 申請(qǐng)日: | 2010-12-21 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102135768A | 公開(kāi)(公告)日: | 2011-07-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 凌儉波;祁建華;陳燕;方華;葉建明;沈懿樺;周建青;張春余 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G05B19/418 | 分類號(hào): | G05B19/418;G01R1/073 |
| 代理公司: | 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 鄭瑋 |
| 地址: | 201203 上海市浦*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 探針 測(cè)試 實(shí)時(shí) 監(jiān)控 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種探針測(cè)試實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)。
背景技術(shù)
探針臺(tái)是用在半導(dǎo)體領(lǐng)域?qū)A上的器件進(jìn)行特性或故障分析而使用的精密機(jī)臺(tái)。對(duì)晶圓的測(cè)試過(guò)程由測(cè)試機(jī)、探針臺(tái)等實(shí)現(xiàn),通過(guò)探針臺(tái)上的探針卡實(shí)現(xiàn)芯片上每個(gè)接腳與測(cè)試機(jī)的穩(wěn)定連接,由測(cè)試機(jī)判定晶圓上芯片的特性。
探針臺(tái)種類繁多,從操作上可分為手動(dòng)、半自動(dòng)以及全自動(dòng)探針臺(tái);從功能上可分為高溫探針臺(tái),低溫探針臺(tái),RF探針臺(tái),LCD平板探針臺(tái),霍爾效應(yīng)探針臺(tái),表面電阻率探針臺(tái)等。
通常,在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域,一個(gè)實(shí)驗(yàn)室或者企業(yè)需要配備多臺(tái)或多個(gè)種類的探針臺(tái),以滿足不同產(chǎn)品的測(cè)試需求。為了提高測(cè)試效率,往往希望對(duì)這些探針臺(tái)的使用狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)控,然而,目前的監(jiān)控方式為人工方式,即配備專門的工作人員,不斷地到各個(gè)探針臺(tái)前巡視,這不僅浪費(fèi)人力,而且會(huì)影響操作人員的工作,監(jiān)控效果也不理想。即使,有些探針臺(tái)制造廠商為其探針臺(tái)配備了監(jiān)控系統(tǒng),可是,其成本較高,需要另外購(gòu)買,而且對(duì)于其他廠商的探針臺(tái)無(wú)法實(shí)現(xiàn)兼容,對(duì)于整個(gè)監(jiān)控系統(tǒng)的擴(kuò)展十分不利。為此,如何提供一種有效的探針臺(tái)實(shí)時(shí)監(jiān)控方法實(shí)為本領(lǐng)域一重要課題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種探針測(cè)試實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng),以解決現(xiàn)有探針臺(tái)監(jiān)控效率低下等技術(shù)問(wèn)題。
為解決以上技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供一種探針測(cè)試實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng),用以監(jiān)控多個(gè)探針臺(tái)的工作狀態(tài),其包括服務(wù)端以及多個(gè)分別與所述多個(gè)探針臺(tái)連接的監(jiān)控單元,所述服務(wù)端通過(guò)所述監(jiān)控單元獲得探針臺(tái)的工作狀態(tài),其中所述監(jiān)控單元包括:多個(gè)比較器,連接對(duì)應(yīng)的探針臺(tái),以分別接收其所連接的探針臺(tái)的多種工作狀態(tài)信號(hào),并將所接收的信號(hào)轉(zhuǎn)換為統(tǒng)一的電平信號(hào);存儲(chǔ)器,存儲(chǔ)對(duì)應(yīng)的探針臺(tái)的信息;通訊接口,連接所述服務(wù)端;微處理器,分別與所述多個(gè)比較器、存儲(chǔ)器和通訊接口連接,將所述統(tǒng)一的電平信號(hào)與對(duì)應(yīng)的探針臺(tái)信息轉(zhuǎn)換為所述通訊接口對(duì)應(yīng)的通訊協(xié)議信號(hào),以通過(guò)所述通訊接口將該通訊協(xié)議信號(hào)傳輸給服務(wù)端。
進(jìn)一步的,所述服務(wù)端包括:集線器,連接所述多個(gè)監(jiān)控單元,以接收所述通訊協(xié)議信號(hào),并將其轉(zhuǎn)換為工作機(jī)可以識(shí)別的信號(hào);工作機(jī),連接所述集線器,以從集線器轉(zhuǎn)換的信號(hào)中獲得對(duì)應(yīng)的探針臺(tái)信息及其工作狀態(tài)。
進(jìn)一步的,所述服務(wù)端與所述監(jiān)控單元之間的信息交換方式為主動(dòng)詢問(wèn)方式,即:服務(wù)端向監(jiān)控單元發(fā)送詢問(wèn)信號(hào),其中所述詢問(wèn)信號(hào)內(nèi)包括一探針臺(tái)的地址信息;對(duì)應(yīng)于所述詢問(wèn)信號(hào)內(nèi)的探針臺(tái)的地址信息的監(jiān)控單元將其獲得的探針臺(tái)工作狀態(tài)信號(hào)轉(zhuǎn)換為通訊協(xié)議信號(hào)傳輸給服務(wù)端。
進(jìn)一步的,所述探針臺(tái)的多種工作狀態(tài)信號(hào)是通過(guò)其狀態(tài)指示燈接口引出,即所述多個(gè)比較器,分別連接對(duì)應(yīng)的探針臺(tái)的多個(gè)狀態(tài)指示燈接口。
進(jìn)一步的,所述探針臺(tái)的狀態(tài)指示燈包括紅燈、綠燈與黃燈。
進(jìn)一步的,所述服務(wù)端包括顯示裝置與轉(zhuǎn)換程序,所述轉(zhuǎn)換程序運(yùn)行將所接收到的探針臺(tái)工作狀態(tài)信號(hào)轉(zhuǎn)換為對(duì)應(yīng)的指示燈顏色,并根據(jù)對(duì)應(yīng)的探針臺(tái)信息,于顯示裝置上圖形化顯示各個(gè)探針臺(tái)的工作狀態(tài)。
進(jìn)一步的,所述服務(wù)端與監(jiān)控單元之間的連接方式為有線連接。
進(jìn)一步的,所述服務(wù)端與監(jiān)控單元之間的連接方式為雙絞線。
可見(jiàn),以上探針測(cè)試實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)利用探針臺(tái)引出的多路接口信號(hào)來(lái)于遠(yuǎn)端統(tǒng)一監(jiān)控多個(gè)探針臺(tái)的工作狀態(tài),具體,其將引出的信號(hào)轉(zhuǎn)換為遠(yuǎn)端的服務(wù)端(例如,為計(jì)算機(jī))可以識(shí)別及處理的信號(hào),并將該信號(hào)傳送給服務(wù)端,以在服務(wù)端集中監(jiān)控所有探針臺(tái)的工作狀態(tài),從而提高探針臺(tái)工作狀態(tài)的監(jiān)控效率。
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明一實(shí)施列所提供的探針測(cè)試實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖;
圖2為本發(fā)明一實(shí)施列所提供的探針測(cè)試實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)的服務(wù)端所顯示的信息狀態(tài);
圖3為本發(fā)明一實(shí)施列所提供實(shí)時(shí)監(jiān)控探針測(cè)試?yán)寐实姆椒ǖ牧鞒淌疽鈭D。
具體實(shí)施方式
為讓本發(fā)明的上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂,下文特舉示例性實(shí)施例,并配合附圖,作詳細(xì)說(shuō)明如下。
通常,在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域,一個(gè)實(shí)驗(yàn)室或者企業(yè)需要配備多臺(tái)或多個(gè)種類的探針臺(tái),以滿足不同產(chǎn)品的測(cè)試需求。然而,現(xiàn)有技術(shù)中卻缺乏對(duì)這些探針臺(tái)利用率的有效監(jiān)控,無(wú)法及時(shí)了解哪些探針臺(tái)處于使用狀態(tài),哪些探針臺(tái)處于閑置狀態(tài),對(duì)于出現(xiàn)故障的探針臺(tái)難以及時(shí)發(fā)現(xiàn),使得整個(gè)實(shí)驗(yàn)室的探針臺(tái)利用率無(wú)法達(dá)到最佳狀態(tài),進(jìn)而使得測(cè)試效率下降。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司,未經(jīng)上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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