[發(fā)明專利]一種色散測量裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010596208.6
• 申請日: 2010-12-20
• 公開（公告）號: CN102164003A
• 公開（公告）日: 2011-08-24
• 發(fā)明（設計）人: 崔索超;曹祥東
• 申請（專利權(quán)）人: 武漢虹拓新技術(shù)有限責任公司
• 主分類號: H04B10/08
• 分類號: H04B10/08
• 代理公司: 北京輕創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11212
• 代理人: 楊立

1.一種色散測量裝置，其特征在于，包括寬帶光源模塊、色散檢測模塊、頻譜監(jiān)測模塊、處理模塊，

所述色散檢測模塊分別與所述寬帶光源模塊、所述頻譜監(jiān)測模塊相連，所述頻譜監(jiān)測模塊還與所述處理模塊相連，

所述寬帶光源模塊，用于產(chǎn)生色散測量所需的寬帶光信號；

所述色散檢測模塊，用于將所述寬帶光源模塊產(chǎn)生的寬帶光信號分解為兩路光信號，并使所述兩路光信號發(fā)生干涉；

所述頻譜監(jiān)測模塊，用于獲取所述兩路光信號生成的干涉頻譜；

所述處理模塊，用于處理所述頻譜監(jiān)測模塊發(fā)送來的干涉頻譜，提取待測光纖的色散信息，從而利用所述色散信息調(diào)整所述色散檢測模塊生成的干涉頻譜。

2.按照權(quán)利要求1所述的色散測量裝置，其特征在于，還包括光隔離模塊，所述寬帶光源模塊經(jīng)所述光隔離模塊與所述色散檢測模塊相連，所述光隔離模塊，用于隔離從所述色散檢測模塊返回的光，保護所述寬帶光源模塊。

3.按照權(quán)利要求1或2所述的色散測量裝置，其特征在于，還包括偏振控制器，所述寬帶光信號經(jīng)所述偏振控制器傳輸至所述色散檢測模塊；所述偏振控制器，用于調(diào)整所述寬帶光信號進入所述色散檢測模塊時的偏振態(tài)。

4.按照權(quán)利要求1或2所述的色散測量裝置，其特征在于，還包括顯示模塊，所述顯示模塊與所述處理模塊相連，所述顯示模塊，用于顯示所述處理模塊處理獲得的色散信息。

5.按照權(quán)利要求3所述的色散測量裝置，其特征在于，還包括顯示模塊，所述顯示模塊與所述處理模塊相連，所述顯示模塊，用于顯示所述處理模塊處理獲得的色散信息。

6.按照權(quán)利要求1所述的色散測量裝置，其特征在于，所述色散檢測模塊為第一sagnac環(huán)，

所述第一s?agnac環(huán)包括第一單模光纖、第二單模光纖、第一移頻控制器和第一光纖耦合器，

所述第一光纖耦合器的端口一接收所述寬帶光信號，所述第一光纖耦合器的端口二與所述頻譜監(jiān)測模塊相連，所述第一光纖耦合器的端口三與所述第一單模光纖相連，所述第一光纖耦合器的端口四與所述第二單模光纖相連；

待測光纖與所述第一移頻控制器串接在所述第一單模光纖和所述第二單模光纖之間。

7.按照權(quán)利要求1所述的色散測量裝置，其特征在于，所述色散檢測模塊包括第二sagnac環(huán)、反射單元，

所述第二sagnac環(huán)包括第三單模光纖、第四單模光纖、第二移頻控制器、第二光纖耦合器、第三光纖耦合器，

所述第二光纖耦合器的端口一接收所述寬帶光信號，所述第二光纖耦合器的端口二與所述頻譜監(jiān)測模塊相連，所述第二光纖耦合器的端口三與所述第三單模光纖相連，所述第二光纖耦合器的端口四與所述第四單模光纖相連，

所述第二移頻控制器串接在所述第三單模光纖與所述第三光纖耦合器的端口一之間；或者，所述第二移頻控制器串接在所述第四單模光纖與所述第三光纖耦合器的端口二之間；

所述第三光纖耦合器的端口三或者端口四之任一端經(jīng)待測光纖與所述反射單元相連；

所述反射單元，用于反射經(jīng)所述待測光纖傳輸來的光信號，使所述光信號經(jīng)由所述待測光纖再次返回到所述第二sagnac環(huán)。

8.按照權(quán)利要求7所述的色散測量裝置，其特征在于，所述反射單元為端面反射鏡、法拉第旋轉(zhuǎn)鏡、光纖自由端面反射中的一種。

9.按照權(quán)利要求6、7或8所述的色散測量裝置，其特征在于，所述第一移頻控制器和所述第二移頻控制器為調(diào)制器或頻移器。