[發明專利]紅外法向發射率測量裝置及方法

無效

• 申請號: 201010594721.1
• 申請日: 2010-12-17
• 公開（公告）號: CN102095750A
• 公開（公告）日: 2011-06-15
• 發明（設計）人: 馮國進;鄭春弟
• 申請（專利權）人: 中國計量科學研究院
• 主分類號: G01N25/20
• 分類號: G01N25/20;G01J5/00
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩

1.一種紅外法向發射率測量裝置，其特征在于，包括：依次連接的測量模塊(1)、存儲模塊(2)和計算模塊(3)，

所述測量模塊(1)，用于測量待測信號數據和已知紅外法向發射率的標準黑體的預設信號數據，并將所述待測信號數據和所述預設信號數據發送至所述存儲模塊，所述預設信號數據為以所述已知紅外法向發射率的標準黑體為測量對象時，測得的信號數據，所述待測信號數據為以待測樣品為測量對象時，測得的信號數據；

所述存儲模塊(2)，用于存儲所述待測信號數據、所述預設信號數據和所述已知紅外法向發射率的標準黑體的紅外法向發射率；

所述計算模塊(3)，用于根據所述待測信號數據、所述預設信號數據和所述已知紅外法向發射率的標準黑體的紅外法向發射率計算所述待測樣品的紅外法向發射率。

2.如權利要求1所述的紅外法向發射率測量裝置，其特征在于，所述裝置還包括：顯示模塊(4)，用于顯示所述待測樣品的紅外法向發射率。

3.如權利要求1所述的紅外法向發射率測量裝置，其特征在于，所述測量模塊(1)包括：探測器(1-1)、聚光器(1-2)、位移臺(1-3)、溫度控制器(1-4)、比較器(1-5)和位移控制器(1-6)，所述聚光器(1-2)用于將光路準直并匯聚，所述探測器(1-1)與所述位移臺(1-3)分別置于所述聚光器(1-2)的兩側，所述溫度控制器(1-4)設于所述位移臺(1-3)上，所述位移臺(1-3)與所述位移控制器(1-6)連接，所述位移控制器(1-6)與所述比較器(1-5)連接，所述比較器(1-5)與所述探測器(1-1)連接，所述探測器(1-1)與所述存儲模塊(2)連接。

4.如權利要求1所述的紅外法向發射率測量裝置，其特征在于，所述檢測模塊還包括：氮氣艙(1-7)，所述氮氣艙(1-7)為一封閉且充滿氮氣的容器，所述位移臺(1-3)設于所述氮氣艙(1-7)中。

5.如權利要求1所述的紅外法向發射率測量裝置，其特征在于，所述待測樣品的紅外發射光在2μm～25μm的波段范圍內。

6.一種基于權利要求1-5任一項所述的紅外法向發射率測量裝置的測量方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1：以已知紅外法向發射率的標準黑體為測量對象，測量預設信號數據，并將所述預設信號數據存儲至存儲模塊；

S2：以待測樣品為測量對象，測量待測信號數據，并將所述待測信號數據存儲至存儲模塊；

S3：計算模塊根據下列公式計算所述待測樣品的紅外法向發射率，

X=B*ZY]]>

其中，X為待測樣品的紅外法向發射率，B為待測信號數據，Z為已知紅外法向發射率的標準黑體的紅外法向發射率，Y為預設信號數據。

7.如權利要求6所述的測量方法，其特征在于，步驟S1進一步包括步驟：

S1.1：將所述標準黑體以及待測樣品置于所述位移臺上，所述待測樣品置于溫度控制器中，由位移控制器控制移動臺在所述標準黑體的紅外發射光可被探測器接收到的范圍內移動，探測器實時將產生的信號數據發送至比較器；

S1.2：比較器接收到的信號數據最大時，停止移動移動臺，將最大的信號數據發送至存儲模塊；

S1.3：所述最大的信號數據作為預設信號數據，并將其存儲至存儲模塊。

8.如權利要求7所述的測量方法，其特征在于，步驟S2進一步包括：

S2.1由位移控制器控制移動臺在所述待測樣品的紅外發射光可被探測器接收到的范圍內移動，探測器實時將產生的信號數據發送至比較器；

S2.2：比較器接收到的信號數據最大時，停止移動移動臺，將最大的信號數據發送至存儲模塊；

S2.3：所述最大的信號數據作為待測信號數據，并將其存儲至存儲模塊。

9.如權利要求6所述的測量方法，其特征在于，步驟S3之后還包括步驟：

S4：顯示模塊顯示所述待測樣品的紅外法向發射率。