[發明專利]一種軸承箱的探傷技術

無效

• 申請號: 201010593751.0
• 申請日: 2010-12-17
• 公開（公告）號: CN102156165A
• 公開（公告）日: 2011-08-17
• 發明（設計）人: 高峻;吳爭杰;張曉亮
• 申請（專利權）人: 大連引領科技發展有限公司
• 主分類號: G01N27/90
• 分類號: G01N27/90
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.所述的一種軸承箱的探傷技術，其特征是先用渦流檢測儀通過交變磁場作用于軸承箱，自動檢測到裂紋時會產生缺陷信號，將具有缺陷的焊接裂紋全部檢測出來；再采用著色熒光探傷技術，在探傷滲透液中加入一定量的熒光粉，對具體發現的焊接裂紋進行精準熒光定位；再將發現裂紋的缺陷部位加熱，使氣體氯硅烷和高純氫氣在高溫條件下進行反應，氯硅烷裂解為氯化氫和碳化硅，碳化硅沉積在缺陷表面形成碳化硅層，使缺陷表面外層得到修復。