[發(fā)明專利]檢測(cè)三聚氰胺的磁顆粒化學(xué)發(fā)光試劑盒及其應(yīng)用無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010589123.5 | 申請(qǐng)日: | 2010-12-15 |
| 公開(公告)號(hào): | CN102565400A | 公開(公告)日: | 2012-07-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 何方洋;萬宇平;羅曉琴;徐念琴;陳煒玲;劉玉梅;郝士元;何麗霞 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京勤邦生物技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N33/577 | 分類號(hào): | G01N33/577;G01N33/52 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 102206 北京市昌平*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢測(cè) 三聚 顆粒 化學(xué) 發(fā)光 試劑盒 及其 應(yīng)用 | ||
1.一種檢測(cè)三聚氰胺的磁顆粒競(jìng)爭(zhēng)化學(xué)發(fā)光試劑盒,包括的試劑有:發(fā)光標(biāo)記物、熒光素標(biāo)記物、標(biāo)準(zhǔn)品、質(zhì)控品、分離試劑。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的試劑盒,其特征在于:所述的分離試劑是包被有羊抗FITC單克隆抗體的順磁性納米微珠。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的試劑盒,其特征在于:所述的順磁性納米微珠是里面包覆有Fe3O4或γ-Fe2O3,表面含有-OH、-COOH或-NH2活性基團(tuán)的微珠。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的試劑盒,其特征在于:所述的發(fā)光標(biāo)記物是異魯米諾衍生物標(biāo)記的三聚氰胺半抗原。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的試劑盒,其特征在于:所述的異魯米諾發(fā)光標(biāo)記物是ABEI、AHEI或ABEN。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的試劑盒,其特征在于:所述的試劑盒還包括標(biāo)準(zhǔn)液、質(zhì)控品和濃縮洗液。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-3之一所述的試劑盒,其特征在于:所述的熒光素標(biāo)記物是FITC標(biāo)記的三聚氰胺單克隆抗體。
8.一種利用權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的試劑盒檢測(cè)三聚氰胺的方法,包括下列步驟:
1)分別吸取20μl-100μl標(biāo)準(zhǔn)品或樣本,然后加入20μl-100μl發(fā)光標(biāo)記物,再加20μl-100μl熒光素標(biāo)記物,充分混勻后,37℃溫育15min;
2)加入包被有羊抗FITC單克隆抗體的順磁性納米微珠80-150μl,混勻后在37℃溫育5min;
3)用磁分離架分離5min,棄上清后用清洗液300-500μl沖洗復(fù)合物沉淀;
4)上述清洗步驟重復(fù)2-4次;
5)4)所得分離好的復(fù)合物直接放入測(cè)量暗箱,加入激發(fā)底物1和激發(fā)底物2,延遲3-5s后檢測(cè)發(fā)出的相對(duì)光強(qiáng)度(RLU),樣本中三聚氰胺的含量與RLU成一定比例關(guān)系,可以通過RLU集合標(biāo)準(zhǔn)曲線法計(jì)算三聚氰胺的濃度。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京勤邦生物技術(shù)有限公司,未經(jīng)北京勤邦生物技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201010589123.5/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:投影機(jī)裝置
- 下一篇:窨井蓋免盜構(gòu)件
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
- 化學(xué)處理方法和化學(xué)處理裝置
- 基礎(chǔ)化學(xué)數(shù)字化學(xué)習(xí)中心
- 化學(xué)處理方法和化學(xué)處理裝置
- 化學(xué)清洗方法以及化學(xué)清洗裝置
- 化學(xué)強(qiáng)化組合物、化學(xué)強(qiáng)化方法及化學(xué)強(qiáng)化玻璃
- 化學(xué)天平(無機(jī)化學(xué))
- 電化學(xué)裝置的化學(xué)配方
- 化學(xué)強(qiáng)化方法、化學(xué)強(qiáng)化裝置和化學(xué)強(qiáng)化玻璃
- 化學(xué)強(qiáng)化方法及化學(xué)強(qiáng)化玻璃
- 化學(xué)打尖方法和化學(xué)組合物





