[發明專利]V型線阻抗穩定網絡拓撲結構的特性參數分析及校準方法無效
| 申請號： | 201010589059.0 | 申請日： | 2010-12-15 |
| 公開（公告）號： | CN102095942A | 公開（公告）日： | 2011-06-15 |
| 發明（設計）人： | 褚家美;趙陽;肖家旺;董穎華;戎融;張宇環 | 申請（專利權）人： | 東南大學 |
| 主分類號： | G01R27/28 | 分類號： | G01R27/28;G01R35/02 |
| 代理公司： | 南京天翼專利代理有限責任公司 32112 | 代理人： | 黃明哲 |
| 地址： | 210096 *** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 阻抗 穩定 網絡 拓撲 結構 特性 參數 分析 校準 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種線阻抗穩定網絡的模型及高頻特性參數的建模分析，同時提出串擾和接地分析方法，屬于電磁兼容技術領域，為一種V型線阻抗穩定網絡拓撲結構的特性參數分析及校準方法。
技術背景
隨著相關的電磁兼容檢測標準出臺，電子產品的電磁干擾要求也越來越高，如何獲得更加準確、有效的測量數據成為科研、生產的必然的要求。基于線阻抗穩定網絡的傳導性電磁干擾測量設備是人們檢測電磁干擾的有效設備，如何提高測量精度，獲得更加精確的數據，是值得研究的一個重要問題。
現階段對于線阻抗穩定網絡的研究多集中在網絡結構和噪聲分離等方面，而對于線阻抗穩定網絡本身內部器件在高頻狀態下可能存在寄生參數方面卻少有研究，無源器件在高頻狀態下存在寄生參數是不容忽視的問題，線阻抗穩定網絡本身存在的測量精度問題很大程度和內部器件高頻寄生參數有關，本發明針對線阻抗穩定網絡內部器件可能存在寄生電感電容做了系統的理論分析，得出相應寄生參數可能對特性參數測量產生較大影響的結論，分析了接地不到位的影響，同時提出串擾的概念，分析了它的存在對特性參數的影響。
發明內容
本發明要解決的問題是：分析線阻抗穩定網絡的測量精度問題，根據仿真的結論，分析在測量相應的參數時應當采用怎樣的措施減小誤差，獲得更加精確的測量數據。
本發明的技術方案為：V型線阻抗穩定網絡拓撲結構的特性參數分析及校準方法，V型線阻抗穩定網絡連接受試設備和測量接收機，受試設備產生射頻騷擾信號輸入測量接收機，對于50Ω/50μH?V型線阻抗穩定網絡，對寄生參數建模，將V型線阻抗穩定網絡的電路圖轉換為高頻等效電路，獲取分壓系數、隔離度和串擾三個特性參數以及受試端阻抗與寄生參數的關系，所述建模與關系為：
1)分壓系數：受試端口至騷擾輸出端口這一路徑的高頻衰減，又稱為插入損耗，騷擾輸出端口向測量接收機輸出射頻騷擾信號，
式(1)中為騷擾輸出端口電壓，VL′-E為受試端口的電壓，VIFL表示分壓系數，單位dB，與寄生參數的關系為：
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