[發明專利]靜電電容型輸入裝置及其檢測方法與驅動裝置

有效

• 申請號: 201010587660.6
• 申請日: 2010-12-14
• 公開（公告）號: CN102096533A
• 公開（公告）日: 2011-06-15
• 發明（設計）人: 倉島健
• 申請（專利權）人: 索尼公司
• 主分類號: G06F3/044
• 分類號: G06F3/044
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 彭久云

技術領域

本發明涉及基于與輸入位置探測電極耦合的靜電電容的變化來探測輸入位置的靜電電容型輸入裝置、靜電電容型輸入裝置的檢測方法以及靜電電容型輸入裝置的驅動裝置。

背景技術

在諸如移動電話、汽車導航系統、個人計算機、售票機和銀行終端的電子設備中，存在這樣的設備，其中稱為觸摸屏的輸入裝置設置在液晶裝置等的表面上，允許使用者參考液晶裝置的圖像顯示區域中顯示的圖像輸入信息。在這樣的輸入裝置中，如圖11示意性所示的靜電電容型輸入裝置在基板20上具有沿X方向延伸且用于探測輸入位置的多個第一電極211、沿Y方向延伸且用于探測輸入位置的多個第二電極212以及從第一電極211的一側端部和第二電極212的一側端部的多個信號配線27，以及通過信號配線27與第一電極211和第二電極212的每一個耦合的監測靜電電容。因此，當手指接近第一電極211和第二電極212的任何一個時，手指接近的電極的靜電電容增加對應于手指和電極之間產生的靜電電容的量。從而，可以確定手指接近的電極。

在這樣的靜電電容型輸入裝置中，當斷路(disconnection)形成在第一電極211或第二電極212中的一點上時，難于探測對應行中的輸入位置。從而，就保證靜電電容型輸入裝置的可靠性方面而言，探測第一電極211和第二電極212中是否形成斷路很重要。

作為電極中形成斷路的檢測方法，公開了這樣的檢測方法，其中傳感器電極逐個接近多個電極，并且監測傳感器電極和對應電極之間的耦合電容(例如，日本專利特開2004-191381號公報)。

發明內容

然而，根據日本專利特開2004-191381號公報中描述的方法，傳感器電極由SCARA機器人逐個接近多個電極。從而，大量的檢測裝置是必要的。另外，在靜電型輸入裝置的情況下，與第一電極211和第二電極212耦合的電容已經存在。因此，甚至在發生斷路時，正常電極的電容和斷路電極的電容之差也很小。因此，存在難于識別斷路發生的問題。

因此，所希望的是提供能夠可靠地探測用于探測輸入位置的電極中是否形成斷路而不用大量檢測裝置的靜電電容型輸入裝置、該靜電電容型輸入裝置的檢測方法，以及能夠執行這樣檢測方法的靜電型輸入裝置的驅動裝置。

根據本發明的實施例，所提供的靜電電容型輸入裝置包括：多個第一電極，其探測輸入位置，在基板上的輸入區域中沿第一方向延伸；多個第二電極，其探測輸入位置，在輸入區域中沿與第一方向交叉的第二方向延伸；多個信號配線，在基板上從第一電極的一側端部和第二電極的一側端部延伸；在基板上的檢測電極，隔著絕緣膜面對第一電極和第二電極至少一方的另一側端部；以及在基板上的檢測配線，電連接到檢測電極。

另外，根據本發明的另一個實施例，提供靜電電容型輸入裝置的檢測方法，該靜電電容型輸入裝置包括：多個第一電極，其探測輸入位置，在基板上的輸入區域中沿第一方向延伸；多個第二電極，其探測輸入位置，在輸入區域中沿與第一方向交叉的第二方向延伸；以及多個信號配線，在基板上從第一電極的一側端部和第二電極的一側端部延伸。設置隔著絕緣膜面對第一電極和第二電極至少一方的另一側端部的檢測電極以及電連接到檢測電極的檢測配線。上面描述的方法包括如下步驟：測量檢測配線和多個信號配線之間的電容值；以及確定第一電極和第二電極當中與電容值等于或小于設定值的信號配線電連接的電極斷路。

在本發明的實施例中，包括檢測電極和檢測配線，該檢測電極在基板上隔著絕緣膜面對第一電極和第二電極至少一方的另一側端部；該檢測配線電連接到檢測電極。從而，通過測量檢測配線和多個信號配線之間的電容值，可以探測與電容值等于或小于設定值的信號配線電連接的電極中發生斷路的形成。根據這樣的構造，在電容與第一電極或第二電極耦合的情況下，在形成斷路時，檢測配線與信號配線之間的電容根本未探測到，或者探測為極低。從而，甚至在與第一電極或第二電極耦合的電容已經存在的情況下，也可以可靠地探測電極中斷路的形成。另外，因為測量了基板上形成的檢測配線與信號配線之間的電容值，所以其優點在于大量的檢測裝置是不必要的。此外，因為第一電極或第二電極與檢測電極之間的電容值是不變的且很小，所以通過設置檢測電極沒有妨礙位置的探測。

在本發明的實施例中，優選檢測電極隔著絕緣膜在厚度方向上與該另一側端部交疊，以面對該另一側端部。在這樣的情況下，因為第一電極或第二電極與檢測電極可以以適當電容值的電容結合，所以可以可靠地測量檢測配線與信號配線之間的電容值。