[發明專利]一種采用循環再生砂研磨硅片的工藝有效
| 申請號: | 201010585213.7 | 申請日: | 2010-12-13 |
| 公開(公告)號: | CN102059666A | 公開(公告)日: | 2011-05-18 |
| 發明(設計)人: | 李海龍;劉錚;張雪囡;李燁;王巖;王聚安;沈浩平;高樹良;靳立輝 | 申請(專利權)人: | 天津市環歐半導體材料技術有限公司 |
| 主分類號: | B24D18/00 | 分類號: | B24D18/00 |
| 代理公司: | 天津中環專利商標代理有限公司 12105 | 代理人: | 莫琪 |
| 地址: | 300384 天津市南開*** | 國省代碼: | 天津;12 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 采用 循環 再生 研磨 硅片 工藝 | ||
技術領域
本發明涉及研磨硅片的生產工藝,特別涉及一種采用循環再生砂研磨硅片的工藝。
背景技術
眾所周知,半導體材料已成為微電子技術、微波電子技術、光電子技術、電力電子技術、傳感技術等許多重大科技領域中最重要的主體功能材料,近幾年來,用戶對于硅材料的需求日益增加,國家“十一五”規劃綱要中提出要“節能減排”,圍繞資源高效循環利用,積極開展替代技術、減量技術、再利用技術、資源化技術、系統化技術等關鍵技術研究,突破制約循環經濟發展的技術瓶頸。而用于硅片加工生產的原輔料的成本也是隨著市場的發展,成遞增趨勢增長,利用循環再生砂袋代替新沙來加工產品,則可以最大化地利用輔料、降低加工成本。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是,在確保硅磨片質量的前提下,充分利用循環研磨砂與新研磨砂混合進行磨片,達到降低成本節能降耗的目的。
本發明所采用的技術方案是:一種采用循環再生砂研磨硅片的工藝,其特征在于,所述工藝包括如下次序步驟:
1)清理磨盤:將上磨盤上升達到頂點,用刮刀清盤,確保磨槽內無殘留物。清盤順序為先清理上磨盤再清理下磨盤,確保上、下磨盤無污物;
2)配置砂漿:首先將水、懸浮劑(助磨劑A)、研磨砂充分攪拌1~2分鐘,待懸浮劑(助磨劑A)與砂漿充分混合后,再放入離散劑(助磨劑B)充分攪拌5分鐘;即可供磨片使用;
在舊砂循環使用過程中摻入新研磨砂,新砂和舊砂比例在5:17~7:17之間;
3)調整壓力:根據磨片機磨盤上方氣缸的氣壓值推算上磨盤重量,方法是:緩慢提升該氣缸的氣壓值,使氣缸達到剛好能夠提起上磨盤時的氣壓值相等于上磨盤重量;
4)擺片?:擺放待磨硅片及石英片;
5)?設定測厚儀:設定磨片測厚儀目標厚度;
6)研磨:開啟蠕動泵在硅片表面鋪滿一層砂漿,保證硅片表面無積砂,開啟主機,砂漿泵自動供砂后,實現“動啟動”磨片;磨片過程中要保證砂漿流量穩定;
7)厚度抽檢:首盤抽檢磨片厚度,實際厚度的系統偏差值,避免薄片;
8)取片:磨片完成后上磨盤上升到頂端位置,用乳膠吸盤吸硅片的1/2半徑處取片;
9)將取下的磨片用水沖凈其表面。
本發明的工藝中采用了一種在研磨砂循環過程中,不斷摻入新研磨砂持續進行硅片研磨的工藝過程,在確保硅磨片質量的前提下,充分利用循環研磨砂與新研磨砂混合進行磨片,有效的縮短生產周期,達到降低成本,節能降耗的目的,具有實用和推廣價值。
附圖說明
圖1是利用循環砂磨片工藝流程圖。
具體實施方式
下面給出具體實施例,進一步說明本發明是如何實現的。
本實施例主要設備及原材料如下:
磨片機:型號:USP-22BL
循環砂漿桶
待磨硅片、研磨砂、水、助磨劑A、助磨劑B、石英片、游星片。
本實施例主要原材料消耗定額:
標片去除量50?um需要消耗:研磨砂:0.025kg/片?,?水:0.0988?L/片?,?助磨劑A:0.0006L/片?,?助磨劑B:0.0006?L/片?,石英片:0.01片?,?游星片:0.0001片。
循環砂磨片工藝的具體步驟:
1)清理磨盤
將上磨盤上升達到頂點,用刮刀清盤,確保磨槽內無殘留物。清盤順序為先清理上磨盤再清理下磨盤,確保上、下磨盤無污物。
2)配置砂漿
將水、懸浮劑(助磨劑A)、研磨砂充分攪拌1-2分鐘,待A液與砂漿充分混合后,放入離散劑(助磨劑B)充分攪拌5分鐘后,可正常磨片使用。于在舊砂循環過程摻入新研磨砂,新砂舊砂比例在5:17~7:17之間。
3)調整壓力
根據氣壓值推算上磨盤重量,調整工藝參數中的氣壓值。設備上方氣源壓力界于0.5~0.6MPa之間。水壓在0.05~0.15Mpa之間
4)擺片?
(1)將待磨硅片均勻擺放在游星片中,確認沒有出片、鉆片現象。
(2)擺放石英片,石英片選用原則為:待磨硅片厚度>石英片厚度>磨片目標厚度,且石英片厚度大于磨片目標厚度30um以上
5)?設定測厚儀
磨片測厚儀目標厚度計算公式為:設置厚度=切片厚度—磨片去除量/3,檢測設置厚度與實際厚度的系統偏差值。
6)研磨
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于天津市環歐半導體材料技術有限公司,未經天津市環歐半導體材料技術有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201010585213.7/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:訂戶中的PSAP回叫的方法和系統
- 下一篇:無線通信系統中的位置確定





