[發明專利]或非門型快取存儲器與其過抹除驗證與修復方法有效
| 申請號: | 201010584149.0 | 申請日: | 2010-12-10 |
| 公開(公告)號: | CN102568571A | 公開(公告)日: | 2012-07-11 |
| 發明(設計)人: | 黃仲盟;河壬喆 | 申請(專利權)人: | 華邦電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G11C16/06 | 分類號: | G11C16/06 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人: | 任默聞 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 非門 型快取 存儲器 與其 驗證 修復 方法 | ||
1.一種或非門型快取存儲器過抹除驗證與修復方法,其特征在于,包括:
對一或非門型快取存儲器上一扇區逐行分別施行一過抹除行驗證,并對無法通過所述過抹除行驗證的行進行一過抹除行修復;以及
對于無法通過所述過抹除行修復通過所述過抹除行驗證的行,逐位分別施行一過抹除位驗證,并對無法通過所述過抹除位驗證的位進行一過抹除位修復。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,更包括:
自所述扇區中選擇一行存儲單元,作為一測試行的初始設定;
對所述測試行執行所述過抹除行驗證;
判斷所述測試行是否通過所述過抹除行驗證;
若所述測試行通過所述過抹除行驗證,則自所述扇區選擇未驗證過的行更新所述測試行,并回到上述對所述測試行執行所述過抹除行驗證的步驟;并且
若所述測試行未通過所述過抹除行驗證,則對所述測試行進行所述過抹除行修復,其中:
若所述測試行無法通過所述過抹除行修復通過所述過抹除行驗證,則對所述測試行內的多個位分別施行所述過抹除位驗證,并對無法通過所述過抹除位驗證的位進行所述過抹除位修復;以及
若所述測試行中沒有位無法通過所述過抹除位修復通過所述過抹除位驗證,則自所述扇區選擇未驗證過的行更新所述測試行,并回到上述對所述測試行執行所述過抹除行驗證的步驟。
3.如權利要求2所述的方法,其特征在于,若無法通過所述過抹除行修復通過所述過抹除行驗證的所述測試行中有位無法通過所述過抹除位修復通過所述過抹除位驗證,則發出失敗信息顯示所述或非門型快取存儲器過抹除驗證與修復方法失敗。
4.如權利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法更包括將一行測試循環數的初始值設定為零,并且于施行所述過抹除行修復時執行以下步驟:
判斷所述行測試循環數是否達一第一上限;
于該行測試循環數達所述第一上限時,判定所述測試行無法通過所述過抹除行修復通過所述過抹除行驗證;以及
于所述行測試循環數未達所述第一上限時,對所述測試行進行一行軟編程,且將所述行測試循環數加1,并再次判斷所述測試行是否通過所述過抹除行驗證,其中:
若所述測試行得以通過所述行軟編程通過所述過抹除行驗證,則自所述扇區選擇未驗證過的行更新所述測試行、并歸零所述行測試循環數,以對更新過的所述測試行另外施行所述過抹除行驗證;并且
若所述測試行無法通過所述行軟編程通過所述過抹除行驗證,則重新執行所述判斷所述行測試循環數是否達所述第一上限的步驟。
5.如權利要求4所述的方法,其特征在于,所述方法更包括:
自無法通過所述過抹除行修復通過所述過抹除行驗證的所述測試行的所述位中擇一,作為一測試位的初始設定;
對所述測試位作所述過抹除位驗證;
判斷所述測試位是否通過所述過抹除位驗證;
若所述測試位通過所述過抹除位驗證,則自所述測試行選擇未驗證過的位更新所述測試位,并回到所述對所述測試位執行所述過抹除位驗證的步驟;并且,
若所述測試位未通過所述過抹除位驗證,則對所述測試位進行所述過抹除位修復,其中:
若所述測試位無法通過所述過抹除位修復通過所述過抹除位驗證,則發出失敗信息顯示所述或非門型快取存儲器過抹除驗證與修復方法失敗。
6.如權利要求5所述的方法,其特征在于,更包括于判定所述測試行無法通過所述過抹除行修復通過所述過抹除行驗證時將一位測試循環數的初始值設定為零,并且于施行所述過抹除位修復時執行以下步驟:
判斷所述位測試循環數是否達一第二上限;
于所述位測試循環數達所述第二上限時,判定所述測試位無法通過所述過抹除位修復通過所述過抹除行驗證;以及
于所述位測試循環數未達所述第二上限時,對所述測試位進行一位軟編程,且將所述位測試循環數加1,并再次判斷所述測試位是否通過所述過抹除行驗證,其中:
若所述測試位得以通過所述位軟編程通過所述過抹除位驗證,則自所述測試行選擇未驗證過的位更新所述測試位、并歸零所述位測試循環數,并回到對所述測試位執行所述過抹除位驗證的步驟;并且
若所述測試位無法通過所述位軟編程通過所述過抹除位驗證,則回到判斷所述位測試循環數是否達所述第二上限的步驟。
7.一種或非門型快取存儲器,其特征在于,包括:
至少一扇區,包括一存儲單元陣列;
一控制器,用以對所述扇區的所述存儲單元陣列逐行分別施行一過抹除行驗證,并對無法通過所述過抹除行驗證的行進行一過抹除行修復,以及對于無法通過所述過抹除行修復通過所述過抹除行驗證的行,逐位分別施行一過抹除位驗證,并對無法通過所述過抹除位驗證的位進行一過抹除位修復。
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