[發明專利]熱紅外高光譜發射率模擬方法和系統有效
| 申請號： | 201010582215.0 | 申請日： | 2010-12-06 |
| 公開（公告）號： | CN102073039A | 公開（公告）日： | 2011-05-25 |
| 發明（設計）人： | 張立福;王晉年;陳小平;楊杭;童慶禧 | 申請（專利權）人： | 中國科學院遙感應用研究所 |
| 主分類號： | G01S7/497 | 分類號： | G01S7/497;G01S17/89;G01J5/00 |
| 代理公司： | 北京路浩知識產權代理有限公司 11002 | 代理人： | 王瑩 |
| 地址： | 100101*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 紅外 光譜 發射 模擬 方法 系統 | ||
1.一種熱紅外高光譜發射率模擬方法，其特征在于，包括以下過程：
S1：利用熱紅外多光譜傳感器獲取多光譜發射率原始影像數據，對該數據進行溫度與發射率分離，獲得低維多光譜發射率影像數據；
S2：從影像中選擇地物類型，利用熱紅外多光譜傳感器獲取所述地物類型所對應的連續光譜數據；
S3：利用獲取的所述連續光譜數據建立正交變換的高維標準基向量；
S4：利用所述高維標準基向量生成分別與所述熱紅外多光譜傳感器的波段對應的低維基向量和高維標準基向量；
S5：將所述低維基向量作為特征提取系數矩陣，對所述特征提取系數矩陣與所述低維多光譜發射率影像數據進行模式分解，即矩陣偽逆運算，獲得與所述多光譜發射率原始影像各像元對應的地物特征參量矩陣；
S6：將地物特征參量矩陣與所述高維標準基向量進行矩陣運算，模擬得到與所述多光譜發射率原始影像各像元對應的各波段的高光譜信息。
2.如權利要求1所述的熱紅外高光譜發射率模擬方法，其特征在于，所述過程S3具體包括：
利用熱紅外多光譜傳感器獲取的熱紅外光譜范圍內的所述連續光譜數據進行歸一化處理，得到不同種影像地物的標準化參考光譜，作為正交變換的高維標準基向量，其中，歸一化處理的歸一式為：
其中，k代表地物類型的種類，Rk(λ)為不同種影像地物光譜發射率，∫|Rk(λ)dλ表示在連續波長范圍內求光譜發射率之和，Pk(λ)為影像地物發射率在連續波段上的歸一化結果。
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