[發明專利]一種利用激光測量透鏡曲率半徑的方法及其裝置

無效

• 申請號: 201010581799.X
• 申請日: 2010-12-10
• 公開（公告）號: CN102128600A
• 公開（公告）日: 2011-07-20
• 發明（設計）人: 郭長立
• 申請（專利權）人: 西安科技大學
• 主分類號: G01B11/255
• 分類號: G01B11/255
• 代理公司: 西安弘理專利事務所 61214
• 代理人: 羅笛

1.一種利用激光測量透鏡曲率半徑的方法，其特征在于，該方法利用一種激光牛頓環儀測量裝置，其結構是：包括一圓桶狀的安裝座（13），安裝座（13）的上圓口安裝有上蓋（11），上蓋（11）沿軸心開有圓口（12），安裝座（13）內腔底面上設有一圓形凹槽（10），待測的平凸透鏡（3）放置在圓形凹槽（10）上；上蓋（11）的軸心上方設置有與水平面呈45度夾角的反射鏡（7），反射鏡（7）的水平入射方向設置有激光源，入射光經反射鏡（7）反射后能夠垂直入射到平凸透鏡（3）上，反射鏡（7）的上方設置有讀數顯微鏡（8），

利用上述裝置，按照以下步驟實施：

步驟1、將待測平凸透鏡（3）水平放置在安裝座（13）的內部圓形凹槽（10）槽沿上；

步驟2、利用激光源發出激光，激光經反射鏡（7）反射后垂直入射到待測平凸透鏡（3）上，經待測平凸透鏡（3）的上下表面產生的兩束反射光是相干光，該兩束反射光形成干涉牛頓環，通過讀數顯微鏡（8）測量干涉條紋的暗環級數k，同時測量第k級暗環對應的直徑Dk，采用多次測量的方法，k值取k+1,k+2,k+3,k+4,k+5,k+6,…多個暗環，并測出對應暗環的直徑值Dk+m，透鏡玻璃對波長為632.8nm的氦氖激光的折射率為n；

同時采用逐差法處理數據，m為一恒定整數，需同時再測出k+m+1,k+m+2,k+m+3,k+m+4,k+m+5,k+m+6,…多個暗環的直徑值；將以上測得的數據通過公式

計算，即得待測平凸透鏡（3）的曲率半徑。

2.?根據權利要求1所述的利用激光測量透鏡曲率半徑的方法，其特征在于，所述的安裝座（13）的上圓口與上蓋（11）過盈配合安裝。

3.?根據權利要求1所述的利用激光測量透鏡曲率半徑的方法，其特征在于，所述的圓形凹槽（10）與圓口（12）同軸設置且直徑相同。

4.?根據權利要求1所述的利用激光測量透鏡曲率半徑的方法，其特征在于，所述的激光采用波長為632.8nm的氦氖激光。

5.?根據權利要求1所述的利用激光測量透鏡曲率半徑的方法，其特征在于，所述暗環選取6-10個，m取8-10。

6.?一種激光牛頓環儀測量裝置，其特征在于：包括一圓桶狀的安裝座（13），安裝座（13）的上圓口安裝有上蓋（11），上蓋（11）沿軸心開有圓口（12），安裝座（13）內腔底面上設有一圓形凹槽（10），圓形凹槽（10）的槽沿上放置待測平凸透鏡（3）；上蓋（11）的軸心上方設置有與水平面呈45度夾角的反射鏡（7），反射鏡（7）的水平入射方向設置有激光源，入射光經反射鏡（7）反射后能夠通過圓口（12）垂直入射到平凸透鏡（3）上，反射鏡（7）的上方設置有讀數顯微鏡（8）。

7.?根據權利要求6所述的一種激光牛頓環儀測量裝置，其特征在于，所述的安裝座（13）的上圓口與上蓋（11）過盈配合安裝。

8.?根據權利要求6所述的一種激光牛頓環儀測量裝置，其特征在于，所述的圓形凹槽（10）與圓口（12）同軸設置且直徑相同。