[發(fā)明專利]一種大功率晶體管芯片硼鋁擴散工藝有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010580992.1 | 申請日: | 2010-12-09 |
| 公開(公告)號: | CN102074464A | 公開(公告)日: | 2011-05-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 高勇 | 申請(專利權(quán))人: | 西安衛(wèi)光科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/228 | 分類號: | H01L21/228 |
| 代理公司: | 西安西交通盛知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 61217 | 代理人: | 黃瑞華 |
| 地址: | 710065 陜*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 大功率 晶體管 芯片 擴散 工藝 | ||
1.一種大功率晶體管芯片硼鋁擴散工藝,其特征在于,包括以下步驟:
1)、源溶液配制:將純硝酸鋁a克、三氧化二硼b克溶于cml乙醇;
2)、硅片清洗:將硅片放入去離子水中超聲去砂,然后將去砂的硅片放入石英燒杯中,加入1號標(biāo)準(zhǔn)清洗液,加熱至沸騰,保持5-10分鐘,然后取出用去離子水洗干凈;
3)、硅片烘干:將步驟2)清洗干凈的硅片用無水乙醇脫水,然后放入120±3℃烘箱中烘干;
4)、將步驟3)烘干后的硅片表面均勻涂覆步驟1)配好的源溶液,然后放入石英舟中,將載有硅片的石英舟放入擴散爐中,升溫至1260±1℃恒溫8-10小時;
其中a∶b∶c=40∶(1.5-2.5)∶500。
2.如權(quán)利要求1所述一種大功率晶體管芯片硼鋁擴散工藝,其特征在于,步驟1)中所述乙醇為電子純無水乙醇。
3.如權(quán)利要求1所述一種大功率晶體管芯片硼鋁擴散工藝,其特征在于,所述1號標(biāo)準(zhǔn)清洗液為NH4OH/H2O2/H2O按照1∶(1-2)∶(5-7)的體積比混合的溶液。
4.如權(quán)利要求1至3中任一項所述一種大功率晶體管芯片硼鋁擴散工藝,其特征在于,包括以下步驟:
1)、源溶液配制:將純硝酸鋁40克、三氧化二硼1.5克溶于500ml乙醇;
2)、硅片清洗:將硅片放入去離子水中超聲去砂,然后將去砂的硅片放入石英燒杯中,加入1號標(biāo)準(zhǔn)清洗液,加熱至沸騰,保持5分鐘,然后取出用去離子水洗干凈;
3)、硅片烘干:將步驟2)清洗干凈的硅片用無水乙醇脫水,然后放入120±3℃烘箱中烘干;
4)、將步驟3)烘干后的硅片表面均勻涂覆步驟1)配好的源溶液,然后放入石英舟中,將載有硅片的石英舟放入擴散爐中,升溫至1260±1℃恒溫8小時。
5.如權(quán)利要求1至3中任一項所述一種大功率晶體管芯片硼鋁擴散工藝,其特征在于,包括以下步驟:
1)、源溶液配制:將純硝酸鋁40克、三氧化二硼2克溶于500ml乙醇;
2)、硅片清洗:將硅片放入去離子水中超聲去砂,然后將去砂的硅片放入石英燒杯中,加入1號標(biāo)準(zhǔn)清洗液,加熱至沸騰,保持8分鐘,然后取出用去離子水洗干凈;
3)、硅片烘干:將步驟2)清洗干凈的硅片用無水乙醇脫水,然后放入120±3℃烘箱中烘干;
4)、將步驟3)烘干后的硅片表面均勻涂覆步驟1)配好的源溶液,然后放入石英舟中,將載有硅片的石英舟放入擴散爐中,升溫至1260±1℃恒溫9小時。
6.如權(quán)利要求1至3中任一項所述一種大功率晶體管芯片硼鋁擴散工藝,其特征在于,包括以下步驟:
1)、源溶液配制:將純硝酸鋁40克、三氧化二硼2.5克溶于500ml乙醇;
2)、硅片清洗:將硅片放入去離子水中超聲去砂,然后將去砂的硅片放入石英燒杯中,加入1號標(biāo)準(zhǔn)清洗液,加熱至沸騰,保持10分鐘,然后取出用去離子水洗干凈;
3)、硅片烘干:將步驟2)清洗干凈的硅片用無水乙醇脫水,然后放入120±3℃烘箱中烘干;
4)、將步驟3)烘干后的硅片表面均勻涂覆步驟1)配好的源溶液,然后放入石英舟中,將載有硅片的石英舟放入擴散爐中,升溫至1260±1℃恒溫10小時。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





