[發明專利]超濾膜泡點測定儀及超濾膜平均孔徑測定方法有效
| 申請號： | 201010579477.1 | 申請日： | 2010-12-08 |
| 公開（公告）號： | CN102087103A | 公開（公告）日： | 2011-06-08 |
| 發明（設計）人： | 樓福樂;梁國明;徐繼平;劉光全 | 申請（專利權）人： | 上海斯納普膜分離科技有限公司 |
| 主分類號： | G01B13/08 | 分類號： | G01B13/08;G01N15/08 |
| 代理公司： | 上海智信專利代理有限公司 31002 | 代理人： | 薛琦;朱水平 |
| 地址： | 200942 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 超濾膜 測定 平均 孔徑 方法 | ||
1.一種超濾膜泡點測定儀，其包括一平均孔徑泡點壓力測定模塊，用于探測超濾膜上通氣微孔的氣流量，一旦該氣流量達到一判定標準時便判定該超濾膜泡點測定儀的氣室中的當前氣壓為平均孔徑泡點壓力，其特征在于，該判定標準為：該氣流量為8ml/min～10ml/min。
2.如權利要求1所述的超濾膜泡點測定儀，其特征在于，所述超濾膜的微孔孔徑在0.01～0.1微米范圍內。
3.一種超濾膜平均孔徑測定方法，其特征在于，其包括：
S1、采用高分辨率的掃描電子顯微鏡對試樣超濾膜表面的微孔結構拍照，并通過對照片中的微孔孔徑的測量，計算出試樣超濾膜的平均孔徑；
S2、利用權利要求1所述的超濾膜泡點測定儀測定試樣超濾膜的平均孔徑泡點壓力；
S3、基于Laplace方程d＝4kσcosθ/p，其中σ和θ對于確定的超濾膜泡點測定儀以及確定型號的超濾膜而言為常數，將步驟S1中計算獲得的試樣超濾膜的平均孔徑代入d、將步驟S2中測定的試樣超濾膜的平均孔徑泡點壓力代入p，從而計算出k；
S4、利用權利要求1所述的超濾膜泡點測定儀測定實際超濾膜的平均孔徑泡點壓力，其中實際超濾膜與試樣超濾膜型號相同；
S5、基于Laplace方程d＝4kσcosθ/p，將步驟S3中計算獲得的k作為常數、將步驟S4中測定的實際超濾膜的平均孔徑泡點壓力代入p，從而計算出實際超濾膜的平均孔徑。
4.如權利要求3所述的超濾膜平均孔徑測定方法，其特征在于，所述掃描電子顯微鏡的放大倍數為100～650000倍。
5.如權利要求3所述的超濾膜平均孔徑測定方法，其特征在于，所述超濾膜的微孔孔徑在0.01～0.1微米范圍內。
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