[發(fā)明專利]密封性能檢測裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010574047.0
• 申請日: 2010-12-06
• 公開（公告）號: CN102486429A
• 公開（公告）日: 2012-06-06
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 周明杰;張表新
• 申請（專利權(quán)）人: 海洋王照明科技股份有限公司;深圳市海洋王照明技術(shù)有限公司
• 主分類號: G01M3/04
• 分類號: G01M3/04
• 代理公司: 廣州華進聯(lián)合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 何平

1.一種密封性能檢測裝置，其特征在于，包括底殼以及頂殼；所述底殼為一端開口的杯狀結(jié)構(gòu)，具有內(nèi)腔，所述底殼底部開設(shè)有至少一個用于安裝被測零件進行密封性能檢測的零件安裝位，所述零件安裝位與被測零件結(jié)構(gòu)適配且具有與被測零件對應(yīng)、貫通所述底殼底部的通孔，所述頂殼與所述底殼開口端密封連接。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的密封性能檢測裝置，其特征在于，所述檢測裝置還包括密封圈，所述頂殼通過所述密封圈與所述底殼密封。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的密封性能檢測裝置，其特征在于，所述底殼開口端外壁內(nèi)陷形成容置所述密封圈的密封圈容置槽。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的密封性能檢測裝置，其特征在于，所述頂殼為一端開口的杯狀結(jié)構(gòu)，具有內(nèi)腔，所述頂殼內(nèi)壁直徑大于所述底殼外壁直徑。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的密封性能檢測裝置，其特征在于，所述底殼外壁向外垂直延伸形成底殼法蘭，所述底殼法蘭與所述底殼開口端端面距離大于所述密封圈容置槽與所述底殼開口端端面距離，所述底殼法蘭上開設(shè)有至少三個底殼螺孔。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的密封性能檢測裝置，其特征在于，所述頂殼開口端外壁垂直延伸形成與所述底殼法蘭匹配的頂殼法蘭，所述頂殼法蘭上開設(shè)有與所述底殼通孔位置對應(yīng)的頂殼螺孔。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的密封性能檢測裝置，其特征在于，所述裝置還包括螺釘，所述螺釘貫穿所述頂殼螺孔和底殼螺孔，將所述頂殼和底殼固定連接。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的密封性能檢測裝置，其特征在于，所述裝置還包括設(shè)置于所述頂殼法蘭和底殼法蘭之間的密封墊。

9.根據(jù)權(quán)利要求3所述的密封性能檢測裝置，其特征在于，所述底殼外壁具有外螺紋，所述頂殼為一端開口的杯狀結(jié)構(gòu)，具有內(nèi)腔，所述頂殼內(nèi)壁直徑大于所述底殼外壁直徑，所述頂殼內(nèi)壁具有與所述外螺紋適配的內(nèi)螺紋。

10.根據(jù)權(quán)利要求2所述的密封性能檢測裝置，其特征在于，所述底殼開口端內(nèi)壁具有內(nèi)螺紋；所述頂殼外壁直徑與所述底殼內(nèi)壁直徑適配，所述頂殼外壁設(shè)有納接所述密封圈的密封圈容置槽，所述頂殼外壁上具有與所述內(nèi)螺紋適配的外螺紋。