[發明專利]用于太陽電池表面抗反射的蛾眼結構的制備方法無效
| 申請號: | 201010573806.1 | 申請日: | 2010-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN102097535A | 公開(公告)日: | 2011-06-15 |
| 發明(設計)人: | 陳熙;樊中朝;李寧;宋國鋒;陳良惠 | 申請(專利權)人: | 中國科學院半導體研究所 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L31/0216;G03F7/20 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 湯保平 |
| 地址: | 100083 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 太陽電池 表面 反射 結構 制備 方法 | ||
技術領域
本發明涉及半導體光電器件技術領域,尤其涉及到用于太陽能電池表面抗反射的蛾眼結構的制備方法。
背景技術
太陽光從空氣進入半導體層,空氣折射率為1,而半導體材料如GaAs,Si折射率在3以上,因而界面處會形成大折射率階躍,由此產生的Fresnel反射會損耗30%以上的能量。目前通用的解決方法是采用1/4λ波長的介質膜作為抗反射層,但其帶寬有限;多層介質抗反射層具有寬光譜抗反射效果,但受限于各層材料折射率的選擇與匹配,膜層邊界的熱膨脹系數不同,以及膜層界面出現的材料擴散等問題,器件可靠性與穩定性不佳,特別是當工作在極端條件下,如極高溫度,此類問題尤為突出。受自然界蛾眼結構寬光譜抗反射功能的啟發,我們提出將制備類蛾眼結構,將其作為抗反射層用于太陽能電池,以提高對光的吸收并增大電池光電轉換效率。蛾眼結構實際是一種二維亞波長雙周期納米結構,側壁傾斜,可以等效為具有漸變折射率的抗反射層。其亞波長的性質,使得光入射時僅存在零級反射光,進一步地抑制了反射,且這一性質在變角度入射時尤為明顯,使反射譜對入射角度的變化不敏感。蛾眼抗反射結構與多層膜系的抗反射結構相比,具有更高的可靠性,因為其與器件的下層材料同質,不存在材料的熱膨脹系數不匹配以及界面擴散問題,尤其適合于在極端條件下,如太空中工作。
因我們面向的對象是太陽光譜,所制備的蛾眼結構的周期須比太陽光譜的下限-350nm要小。制備如此尺度下的周期性結構,可以用電子束曝光,聚焦離子束刻蝕來實現。他們雖然有極高的分辨率和圖形制作自由度,但產率很低,并不適合大規模工業化生產。納米壓印技術雖然不存在這個問題,但其所使用的模板,需要通過其他微納加工技術先制作出來。自組織生長技術效費比高,但其長程周期性較差,且對不同的半導體襯底不具有通用性。干涉曝光技術被認為是制備大面積周期性納米結構最為有效,最為經濟的方法之一,并已廣泛用于商用DFB激光器選模光柵的制備當中。
為了制備能夠用于太陽能電池上的蛾眼抗反射結構,需要刻蝕深度大于300nm,為了實現這一點,需要制備的圖形排列緊密。此外要求其側壁傾斜以形成漸變折射率分布。這些均對制備方法和工藝技術提出了很高的要求。
發明內容
本發明的目的在于,提供一種用于太陽電池表面抗反射的蛾眼結構的制備方法,其是利用雙光束干涉曝光,結合兩次曝光的獨特的光強分布以及光刻膠的非線性曝光響應效應,制備二維周期光刻膠掩膜。特別的,與傳統的干涉曝光制備的光刻膠點陣相比,所制備的贗菱形陣列光刻膠掩膜具有更大的占空比,利用其干法刻蝕得到的菱錐形蛾眼結構,通過理論與實驗證明,比由圓形點陣光刻膠掩膜刻蝕出的傳統圓錐形蛾眼結構,具有更優異的抗反射效果。
本發明提供一種用于太陽電池表面抗反射的蛾眼結構的制備方法,包括以下步驟:
步驟1:取一太陽能電池所用的外延片,對外延片進行清洗;
步驟2:在外延片上旋涂光刻膠;
步驟3:對光刻膠進行前烘,形成樣品;
步驟4:采用雙光束干涉曝光設備,對樣品兩次曝光、顯影,形成二維周期光刻膠掩膜圖形;
步驟5:對顯影后的樣品進行后烘;
步驟6:對樣品進行干法刻蝕;
步驟7:去除光刻膠掩膜圖形,完成蛾眼結構的制備。
本發明的有益效果,具體如下:
雙光束干涉曝光制備亞波長尺度光刻膠掩模圖樣,與其他微納加工技術相比,具有低成本,大面積,高產率的明顯優勢,更適合工業化生產。此外利用本專利提出的“贗菱形”光刻膠掩膜技術和“光刻膠擴展”技術,能夠克服傳統干涉曝光只能制備低占空比圖形的缺點,得到大占空比的密集排列圖形,有利于進一步地抑制界面反射。因為蛾眼增透抗反射結構需要有足夠的深度,而周期也是亞太陽能光譜尺度,濕法腐蝕無法達到所需要的結構深度,所以采用感應耦合等離子體干法刻蝕,并最終得到了高深寬比的蛾眼結構。經實際測試表明,在近垂直入射情況下均能實現很好的抗反射效果,尤其是在AM1.5光譜平均反射率僅為1.1%。
附圖說明
為進一步說明本發明的技術特征,結合以下附圖,對本發明作一詳細的描述,其中:
圖1是用于太陽能電池表面抗反射的蛾眼結構的工藝流程圖;
圖2(a)是菱錐形蛾眼抗反射結構圖;
圖2(b)是圓錐形蛾眼抗反射結構圖;
圖3是兩次雙光束干涉曝光在光刻膠表面形成的曝光劑量等高圖;
圖4是8度角入射條件下的圓錐形蛾眼結構的反射譜圖;
圖5是8度角入射條件下的菱錐形蛾眼結構的反射譜圖;
圖6是8度角入射條件下的大占空比菱錐形蛾眼結構的反射譜圖。
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H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





