[發明專利]一種個人劑量計能量分檔刻度測量的方法

無效

• 申請號: 201010572562.5
• 申請日: 2010-11-30
• 公開（公告）號: CN102478659A
• 公開（公告）日: 2012-05-30
• 發明（設計）人: 陳寶維;張志勇
• 申請（專利權）人: 中國輻射防護研究院
• 主分類號: G01T1/02
• 分類號: G01T1/02
• 代理公司: 北京天悅專利代理事務所(普通合伙) 11311
• 代理人: 田明;任曉航

1.一種個人劑量計能量分檔刻度測量的方法，包括如下步驟：

(1)將個人劑量計分別置于低能標準場和高能標準場，分別得到相應的刻度系數，將兩個刻度系數存入劑量計中；

(2)對個人劑量計所應用的放射性場所的射線能量范圍進行預先估計；

(3)根據射線能量范圍的估計情況，調用個人劑量計內不同檔的刻度系數，進行輻射劑量的測量。

2.如權利要求1所述的個人劑量計能量分檔刻度測量的方法，其特征在于：步驟(1)中，低能標準場采用的輻射質為N-40，平均能量為33KeV；高能標準場采用¹³⁷Cs或⁶⁰Co標準源。

3.如權利要求1所述的個人劑量計能量分檔刻度測量的方法，其特征在于：步驟(2)中，估計放射性場所的射線能量范圍是80KeV以下為主，還是50KeV以上為主，還是50KeV-80KeV之間為主。

4.如權利要求3所述的個人劑量計能量分檔刻度測量的方法，其特征在于：步驟(3)中，如果估計放射性場所的射線能量范圍是80KeV以下為主，則選擇低能檔的刻度系數；如果估計放射性場所的射線能量范圍是50KeV以上為主，則選擇高能檔的刻度系數；如果估計放射性場所的射線能量范圍是50KeV-80KeV之間為主，則可以任意選擇低能檔的刻度系數或高能檔的刻度系數。