[發(fā)明專利]一種高精度表面等離子共振檢測(cè)方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201010572238.3 | 申請(qǐng)日: | 2010-12-03 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN102103078A | 公開(kāi)(公告)日: | 2011-06-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 鄭錚;曾勰;萬(wàn)育航 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京航空航天大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N21/55 | 分類號(hào): | G01N21/55 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 100191*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 高精度 表面 等離子 共振 檢測(cè) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及傳感器及傳感技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明具體涉及實(shí)現(xiàn)表面等離子共振傳感的檢測(cè)方法以及相關(guān)信息處理方法。
背景技術(shù)
表面等離子共振(Surface?Plasmon?Resonance,SPR)是發(fā)生在金屬薄膜與電介質(zhì)分界面上的一種物理光學(xué)現(xiàn)象,自20世紀(jì)上半葉被發(fā)現(xiàn)以來(lái),因其無(wú)標(biāo)記、實(shí)時(shí)、無(wú)損傷檢測(cè)等優(yōu)勢(shì)而被廣泛應(yīng)用在傳感,特別是生物傳感領(lǐng)域。
SPR傳感系統(tǒng)包括光學(xué)系統(tǒng)、傳感結(jié)構(gòu)、探測(cè)器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)等。光學(xué)系統(tǒng)中,光源輸出P偏振光通過(guò)一定光學(xué)元件耦合進(jìn)入傳感器。目前廣泛使用且最易實(shí)現(xiàn)的SPR耦合結(jié)構(gòu)是基于棱鏡耦合方式的Kretschman結(jié)構(gòu),其典型結(jié)構(gòu)包括三層:玻璃棱鏡-金屬層-待測(cè)溶液層。
當(dāng)P偏振的入射光以一定大于全反射角的角度射到棱鏡/金屬分界面時(shí),在金屬薄膜中形成的倏逝波,與金屬表面自由電子發(fā)生表面等離子振蕩。當(dāng)表面等離子波波矢與入射光在金屬切向方向的波矢分量相等時(shí),入射光能量耦合到表面等離子波,達(dá)到表面等離子共振,從而導(dǎo)致反射光能量顯著減少,且相位顯著變化。體現(xiàn)在觀測(cè)到的SPR信號(hào)中,反射光強(qiáng)度譜上由于光強(qiáng)急劇減小產(chǎn)生一個(gè)尖銳的共振吸收峰,且反射光波的相位也隨之產(chǎn)生跳變,此時(shí)對(duì)應(yīng)的入射光角度或波長(zhǎng)稱為共振角或共振波長(zhǎng)。由于SPR信號(hào)對(duì)金屬薄膜表面的待測(cè)溶液性質(zhì)的變化十分敏感,SPR傳感技術(shù)就是通過(guò)對(duì)反射光強(qiáng)度或相位譜的檢測(cè),獲得傳感表面待測(cè)溶液的折射率、濃度以及生化反應(yīng)的動(dòng)力參數(shù)等信息,從而達(dá)到生化檢測(cè)的目的。
按照系統(tǒng)中SPR傳感信號(hào)檢測(cè)分析方法的不同,SPR傳感系統(tǒng)可分為以下四種:
(1)角度掃描強(qiáng)度檢測(cè):?jiǎn)紊馊肷洌淖內(nèi)肷浣牵瑱z測(cè)反射光的歸一化強(qiáng)度隨入射角的變化情況,并記錄反射光強(qiáng)度最小時(shí)的入射角,也就是共振角;
(2)波長(zhǎng)掃描強(qiáng)度檢測(cè):復(fù)色光入射,固定入射角,對(duì)反射光的光譜進(jìn)行分析,得到反射率隨波長(zhǎng)的變化曲線,并記錄共振波長(zhǎng);
(3)強(qiáng)度調(diào)制:入射光的角度和波長(zhǎng)都固定,通過(guò)檢測(cè)反射光強(qiáng)度的變化分析折射率的變化;須建立共振點(diǎn)處反射光強(qiáng)與折射率之間的關(guān)系。
(4)相位調(diào)制:入射光的角度和波長(zhǎng)都固定,觀測(cè)入射光與反射光的相位差;須建立共振相位與折射率之間的關(guān)系。
這四種方法中,第(3)種受擾動(dòng)產(chǎn)生的誤差較大,不太實(shí)用,一般用來(lái)檢測(cè)樣品折射率快變化過(guò)程;最后一種方法的靈敏最高,但系統(tǒng)需要一系列的高頻電路;因此前兩種的應(yīng)用最普遍。
在傳統(tǒng)的角度掃描強(qiáng)度檢測(cè)SPR系統(tǒng)中,光源固定,將傳感系統(tǒng)和探測(cè)器安置在轉(zhuǎn)臺(tái)上,通過(guò)轉(zhuǎn)動(dòng)轉(zhuǎn)臺(tái)實(shí)現(xiàn)傳感表面入射光的角度掃描。傳統(tǒng)的方法每掃描一個(gè)點(diǎn),就要改變一次入射光的角度,因此得到一條SPR角度掃描曲線消耗的時(shí)間很長(zhǎng)。聚焦光角度掃描SPR傳感系統(tǒng)的提出克服了使用傳統(tǒng)SPR傳感系統(tǒng)角度掃描耗時(shí)長(zhǎng)的缺點(diǎn)。在聚焦光角度掃描SPR傳感系統(tǒng)中,光源發(fā)射的光通過(guò)一個(gè)透鏡聚焦到金屬表面,光電檢測(cè)器陣列(如CCD、CMOS或光電二極管陣列)接受來(lái)自聚焦點(diǎn)各角度的反射光,從而一次性獲得了一條SPR角度掃描傳感曲線,大大減少了掃描時(shí)間。因此聚焦光角度掃描SPR系統(tǒng)得到了廣泛應(yīng)用。
在SPR信號(hào)采集過(guò)程中,由于系統(tǒng)機(jī)械振動(dòng)等微擾動(dòng)的引入,會(huì)不可避免地造成多次采集的SPR曲線之間存在微小的位置誤差,即在位置軸上存在“微平移”。多次采集的SPR曲線間的微平移表現(xiàn)為曲線在位置軸上的整體移動(dòng),并且每次采集引入的強(qiáng)度噪聲具有隨機(jī)特性。因此,為了克服SPR曲線采集過(guò)程中的位置不確定性,本發(fā)明提出通過(guò)采集多條具有微平移的SPR曲線并估計(jì)它們之間的相對(duì)微平移,從而進(jìn)一步估計(jì)得到一個(gè)期望絕對(duì)位置向量。該期望絕對(duì)位置向量是一次無(wú)位置誤差的SPR信號(hào)采集所得到位置向量的無(wú)偏估計(jì),其估計(jì)利用了多條曲線間相對(duì)微平移的概率分布信息。
另一方面,SPR傳感信息的準(zhǔn)確程度也受到SPR曲線采樣密度的限制。采樣密度越大,檢測(cè)點(diǎn)之間的間隔越小,SPR傳感曲線越接近于連續(xù),從而所獲得的傳感信息也越準(zhǔn)確。而多次采集得到的具有微平移的SPR傳感曲線間具有不同的信息,應(yīng)該得到充分利用。如果能夠精確估計(jì)曲線間小于一個(gè)采樣點(diǎn)間隔的微平移,通過(guò)融合這多條具有微平移的SPR曲線間的不同信息,則可以增加SPR曲線采樣密度,從而提高SPR傳感信息的準(zhǔn)確性以及SPR系統(tǒng)的檢測(cè)極限。
發(fā)明內(nèi)容
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





