[發明專利]關于質譜儀的改進

無效

• 申請號: 201010571229.2
• 申請日: 2006-03-29
• 公開（公告）號: CN102054651A
• 公開（公告）日: 2011-05-11
• 發明（設計）人: A·A·馬卡洛夫
• 申請（專利權）人: 薩默費尼根有限公司
• 主分類號: H01J49/00
• 分類號: H01J49/00;H01J49/04;G01N27/62
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 姬利永

1.一種質譜儀，包括：離子源、反應單元和質量分析器；所述質譜儀界定主離子路徑和分支離子路徑，其中所述主離子路徑在所述離子源與所述質量分析器之間延伸，并且所述主離子路徑在含離子光學器件的節點處與分支離子路徑交匯，所述離子光學器件用于選擇性地引導離子從所述離子源沿所述主離子路徑或沿所述分支離子路徑向下游移動，所述分支離子路徑在所述節點處或在含另外的離子光學器件的另一節點處與所述質量分析器上游的主離子路徑再次交匯，所述另外的離子光學器件用于將從所述主離子路徑和所述分支離子路徑兩者入射的離子引導向所述質量分析器，其中反應單元位于所述分支離子路徑上的單獨部分并且其中緊接在所述質量分析器上游的離子光學器件用于將離子脈沖沿所述主離子路徑引導至所述質量分析器。

2.如權利要求1所述的質譜儀，其特征在于，所述反應單元用于從所述分支離子路徑接收離子，處理所述離子并允許產物離子沿所述分支離子路徑向上游方向退回以在所述節點處與所述主離子路徑再次交匯。

3.如權利要求2所述的質譜儀，其特征在于，所述節點處的離子光學器件用于引導從所述反應單元向上游回來的離子沿所述主離子路徑向下游進行至所述質量分析器。

4.如權利要求1所述的質譜儀，其特征在于，所述反應單元用于從所述分支離子路徑接收離子，處理所述離子并允許產物離子沿所述分支離子路徑的延伸段向下游方向退出至另一節點。

5.一種具有縱軸的質譜儀，包括：

離子源，用來沿所述軸引導離子；

反應單元，所述反應單元具有位于所述軸上的入口孔；

質量分析器；以及

可在第一模式和第二模式之間進行切換的離子光學器件，在所述第一模式中，來自所述離子源的離子沿所述軸被引導至所述反應單元，并且在所述反應單元中產生的產物離子被引導至所述質量分析器以供分析，并且在所述第二模式中，來自所述離子源的離子被從所述軸偏轉并被引導至所述質量分析器以供分析而不進入所述反應單元。

6.如權利要求5所述的質譜儀，其特征在于，所述質量分析器駐留于鏈接所述離子源和所述質量分析器的主離子路徑上，并且所述反應單元駐留于在一具有離子光學器件的節點處與所述主離子路徑交匯的分支離子路徑上，所述離子光學器件用于選擇性地引導離子沿所述主離子路徑或所述分支離子路徑移動，其中所述分支離子路徑和所述主離子路徑在所述節點上游的一部分沿所述縱軸延伸。

7.一種具有縱軸的質譜儀，包括：

離子源，用來沿所述軸引導離子；

反應單元；

質量分析器，所述質量分析器具有位于所述軸上的入口孔；以及

可在第一模式與第二模式之間進行切換的離子光學器件，在所述第一模式中，來自所述離子源的離子被從所述軸偏轉并被引導至所述反應單元，并且所述反應單元中產生的產物離子被引導回到所述軸并被引導至所述質量分析器的所述入口孔，在所述第二模式中，來自所述離子源的離子沿所述軸被引導至所述質量分析器以供分析而不進入所述反應單元。

8.如權利要求7所述的質譜儀，其特征在于，所述質量分析器駐留于與所述縱軸對應的主離子路徑上，并且所述反應單元駐留于在一具有離子光學器件的節點上與所述主離子路徑交匯的單獨分支離子路徑上，所述離子光學器件用于選擇性地沿所述主離子路徑或所述分支離子路徑引導離子。

9.如權利要求5到8中任何一項所述的質譜儀，其特征在于，所述質譜儀被進一步配置成以離子脈沖的形式向所述質量分析器提供所述離子。

10.如權利要求1-8中任何一項所述的質譜儀，其特征在于，所述質量分析器是FT?ICR、渡越時間或靜電質量分析器中之一。

11.如權利要求1-8中任何一項所述的質譜儀，其特征在于，所述質譜儀還包括位于節點和/或任何另外節點處的離子阱。

12.如權利要求11所述的質譜儀，其特征在于，所述離子阱包括在僅RF電勢下工作的電極以及配置成允許將氣體引入所述離子阱的進口。

13.如權利要求11所述的質譜儀，其特征在于，所述離子阱是曲型線性阱。

14.如權利要求13所述的質譜儀，其特征在于，所述離子阱用于軸向地和正交地排出離子。