[發(fā)明專利]開(kāi)路檢測(cè)方法與具有開(kāi)路檢測(cè)功能的測(cè)試載臺(tái)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201010570476.0
• 申請(qǐng)日: 2010-11-30
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN102478619A
• 公開(kāi)（公告）日: 2012-05-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王耀南;陳鶴升;范富強(qiáng);趙箐云
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 致茂電子股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/12
• 分類號(hào): G01R31/12;G01R31/14
• 代理公司: 隆天國(guó)際知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 72003
• 代理人: 鄭小軍;馮志云

1.一種具有開(kāi)路檢測(cè)功能的測(cè)試載臺(tái)，電性連接具有一測(cè)試程序的一測(cè)試設(shè)備，該測(cè)試載臺(tái)用以卡持至少一待測(cè)物，且該測(cè)試載臺(tái)包含：

一第一電路，具有一第一測(cè)試端與一第二測(cè)試端，當(dāng)該第一測(cè)試端與該第二測(cè)試端同時(shí)電性連接于該待測(cè)物時(shí)，該第一電路與該待測(cè)物形成一第一電流回路并產(chǎn)生一第一控制信號(hào)；

一第二電路，具有一第三測(cè)試端與一第四測(cè)試端，當(dāng)該第三測(cè)試端與該第四測(cè)試端同時(shí)電性連接于該待測(cè)物時(shí)，該第二電路與該待測(cè)物形成一第二電流回路并產(chǎn)生一第二控制信號(hào)；以及

一控制單元，電性連接該第一電路、該第二電路與該測(cè)試設(shè)備，用以接收該第一控制信號(hào)與該第二控制信號(hào)并據(jù)以控制該測(cè)試設(shè)備執(zhí)行該測(cè)試程序。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試載臺(tái)，其特征在于，該第一測(cè)試端電性連接該測(cè)試設(shè)備的一高壓端并與該高壓端等電位，該第三測(cè)試端電性連接該測(cè)試設(shè)備的一低壓端并與該低壓端等電位。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試載臺(tái)，其特征在于，該第一電路具有一第一電源與一第一耦合單元，當(dāng)該第一電流回路形成后，該第一電源驅(qū)動(dòng)該第一耦合單元以產(chǎn)生該第一控制信號(hào)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試載臺(tái)，其特征在于，該待測(cè)物為一光耦合器。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試載臺(tái)，其特征在于，該待測(cè)物為一電容器。

6.一種開(kāi)路檢測(cè)方法，該方法包含下列步驟：

將一待測(cè)物卡持于一測(cè)試載臺(tái)，該測(cè)試載臺(tái)具有一第一電路以及一第二電路；

判斷該第一電路是否與該待測(cè)物形成一第一電流回路；

判斷該第二電路是否與該待測(cè)物形成一第二電流回路；以及

當(dāng)該第一電流回路與該第二電流回路皆導(dǎo)通時(shí)，執(zhí)行一測(cè)試程序。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的開(kāi)路檢測(cè)方法，其特征在于，當(dāng)該第一電流回路與該第二電流回路未皆導(dǎo)通時(shí)，還包含下列步驟：

將該待測(cè)物自該測(cè)試載臺(tái)上移除；以及

重新將該待測(cè)物卡持于該測(cè)試載臺(tái)。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的開(kāi)路檢測(cè)方法，其特征在于，該待測(cè)物為一光耦合器。

9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的開(kāi)路檢測(cè)方法，其特征在于，該待測(cè)物為一電容器。