[發明專利]一種離子遷移譜進樣裝置

無效

• 申請號: 201010567132.4
• 申請日: 2010-11-30
• 公開（公告）號: CN102478543A
• 公開（公告）日: 2012-05-30
• 發明（設計）人: 倉懷文;周慶華;趙琨;李林;王新;李海洋
• 申請（專利權）人: 中國科學院大連化學物理研究所
• 主分類號: G01N27/64
• 分類號: G01N27/64;H01J49/04
• 代理公司: 沈陽科苑專利商標代理有限公司 21002
• 代理人: 馬馳

技術領域

本發明涉及離子遷移譜的進樣裝置，具體地說，是一種能將固體、液體樣品轉化為氣體而進樣的氣體分析儀器進樣裝置。

背景技術

離子遷移譜是能在大氣壓條件下，在電場作用下，快速檢測和分析帶電氣相離子的技術。樣品由電離源電離成離子，并被引入反應區經過分子離子后形成產物離子，進入漂移區，在穿過漂移區時小的離子比大的離子運動速度快，最先到達檢測器而被檢測。離子在電場作用下速度和電場強度的比值為離子的遷移率。離子遷移譜就是根據遷移率不同實現檢測樣品成分。經過40多年的發展，離子遷移譜技術已經發展的比較成熟，并且已經有商品化的產品在實際中應用。離子遷移譜技術本身具有高靈敏度、檢測時間短和便攜等優點，使其廣泛應用于機場、海關等場合。離子遷移譜產品已經在檢測毒品、爆炸物以及化學毒氣方面得到廣泛而卓有成效的應用。

一般它只適用于氣體樣品檢測，而在實際應用中，有許多固體液體樣品需要采用離子遷移譜進行現場快速檢測，如爆炸物。在這里提出一種表面吹掃熱解析離子遷移譜進樣裝置，解決了上面的問題。

發明內容

本發明的目的是提供一種離子遷移譜進樣裝置。

為實現上述目的，本發明所采用的的結構為：

一種離子遷移譜進樣裝置，包括進樣槽，進樣槽為一端開口的橫向凹槽，載樣片從凹槽的開口端插入進樣槽內，于凹槽內載樣片的上方設置有密閉的樣品氣室，樣品氣室上設置有與進樣槽的槽體外部相通的進氣管和出氣管，于載樣片下方設有密封頂頭，密封頂頭與進樣槽的槽體滑動連接，密封頂頭可沿垂直于載樣片的方向上上下移動，用來推動和固定載樣片，將載樣片密封在樣品氣室下部。在進氣管內或進氣管壁面外側設有加熱器。

進樣槽用于插設一載樣片。該槽間距在1-20mm。該進樣槽上面有樣品氣室，下面有密封頂頭，外面有保溫套。樣品氣室為載樣片與進氣管和出氣管之間形成的密閉空間，便于氣體的流通。密封頂頭位于載樣片下面，該頂頭能上下移動，用來將載樣片密封在樣品氣室上。進氣管穿過保溫套與樣品氣室相連，內通載氣。出氣管一端與樣品氣室相連，另一端連接分析儀器。將樣品氣送入分析儀器。加熱器位于進氣管內，也可在附著進氣管壁外，用于加熱進氣管中的載氣。

位于樣品氣室上的進氣管的氣體出口端垂直于載樣片；進氣管與樣口氣氣源相連，出氣管與分析儀器相連接。

所述的進樣裝置，其中進氣管中有一溫度控制系統，用來測量和控制載氣的溫度。加熱溫度控制在0-300℃。加熱的載氣吹到載樣片上，將樣品蒸發成氣體經過樣品氣室和出氣管進入分析儀器。

所述的進樣裝置，其中加熱器可以是電熱絲、加熱塊、加熱板或加熱膜。

所述的進樣裝置，其中的進樣槽為耐溫材料，如金屬、四氟、PEEK等。

所述的進樣裝置，其中的密封頂頭上可以有O圈用于密封，動可手動或電動控制下實現其上下移。

所述的進樣裝置，其中的載樣片為耐溫材料制成，如濾紙、布、四氟耐高溫布等。

所述的進樣裝置，其外圍包裹保溫套，起到保溫作用。

本發明結構簡單合理，實用性廣，可以滿足固體、液體樣品(轉化為氣體而進樣)的進樣要求，可以實現自動化操作。加熱氣無需穿透載樣片，只要表面吹掃即可實現樣品的熱解析，減少了氣體阻力。加熱氣可在短時間內將載樣片表面樣品吹掃，閃蒸，進樣分析，滿足離子遷移譜快速檢測要求。

附圖說明

下面結合附圖對本發明作進一步詳細的說明：

圖1本發明的結構示意圖。

圖2使用本進樣裝置一離子遷移譜實驗譜圖。

具體實施方式

本發明提供一種離子遷移譜進樣裝置，具體結構示意圖見圖1。其主要包括以下：進氣管1、加熱器2、進樣槽3、樣品氣室4、載樣片5、密封頂頭6和出氣管7。

進樣槽為一端開口的橫向凹槽，載樣片從凹槽的開口端插入進樣槽內，于凹槽內載樣片的上方設置有密閉的樣品氣室，樣品氣室上設置有與進樣槽的槽體外部相通的進氣管和出氣管，于載樣片下方設有密封頂頭，密封頂頭與進樣槽的槽體滑動連接，密封頂頭可沿垂直于載樣片的方向上上下移動，用來推動和固定載樣片，將載樣片密封在樣品氣室下部。

在進氣管內設有加熱膜；于進氣管中設置有溫度控制系統(溫度傳感器和溫度控制器)，用來測量和控制載氣的溫度。