[發明專利]一種用于紅外焦平面倒焊互連的銦柱及其制備方法有效
| 申請號: | 201010565090.0 | 申請日: | 2010-11-26 |
| 公開(公告)號: | CN102136484A | 公開(公告)日: | 2011-07-27 |
| 發明(設計)人: | 廖清君;馬偉平;朱建妹;林春;王建新;胡曉寧 | 申請(專利權)人: | 中國科學院上海技術物理研究所 |
| 主分類號: | H01L27/146 | 分類號: | H01L27/146;H01L31/02;H01L31/18;G03F7/00;B81C1/00 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司 31213 | 代理人: | 郭英 |
| 地址: | 20008*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 紅外 平面 互連 及其 制備 方法 | ||
1.一種用于紅外焦平面倒焊互連的銦柱,其特征在于:它是一個底面和頂面為正方形的錐體,所述銦柱底面的正方形邊長x為10~12微米,所述銦柱頂面的正方形邊長y為5~7微米,所述銦柱的高度z為8~12微米。
2.一種如權利要求1所述的銦柱陣列的制備方法,其特征在于包括以下步驟:
1)將需要制備銦柱的芯片清洗干凈,放入烘箱中烘烤30~40分鐘,烘烤溫度為60~70攝氏度;
2)將勻膠機條件設置為轉速為1500~2500轉/分,時間為20~40秒,在芯片表面旋涂一層AZ4620光刻膠,然后放入溫度為60~70攝氏度的烘箱中烘烤30~40分鐘;
3)采用光刻孔為10~14微米的光刻版對芯片進行曝光,曝光時間為20~30秒,曝光后的芯片不顯影;
4)將勻膠機條件設置為轉速為2000~4000轉/分,時間為20~40秒,在曝光后的芯片表面再旋涂一層AZ1500光刻膠,然后放入60~70攝氏度的烘箱中烘烤30~40分鐘;
5)采用光刻孔為5~7微米的光刻版對芯片進行對準曝光,5~7微米的小孔必須位于10~14微米的大孔中央,曝光時間為5~10秒;
6)兩次曝光后的芯片放入AZ400K顯影液中顯影60~80秒,經過純水定影30~40秒后,放入60~70攝氏度的烘箱中烘烤30~40分鐘,獲得頂部小底部大的銦柱光刻孔;
7)將制備好銦柱光刻孔的芯片用高真空熱蒸發的方法沉積銦層,沉積速率為150~200nm/分鐘,沉積時間為50~70分鐘,保證芯片處于蒸發源的正上方;
8)將制備好銦層的芯片放入丙酮中浸泡60~90分鐘,再用無水乙醇清洗,剝離芯片上多余的銦層,獲得底部尺寸為10~12微米,頂部尺寸為5~6微米,高度為8~10微米的銦柱陣列。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





