[發明專利]用于檢測觸碰傳感器之觸碰的觸碰感測方法

有效

• 申請號: 201010555801.6
• 申請日: 2010-11-24
• 公開（公告）號: CN102096500A
• 公開（公告）日: 2011-06-15
• 發明（設計）人: 吳鴻偉;陳泂甫;楊紹圣
• 申請（專利權）人: 矽統科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041
• 代理公司: 上海翼勝專利商標事務所(普通合伙) 31218
• 代理人: 翟羽

技術領域

本發明涉及觸碰感測，特別是有關于利用比對算則之觸碰感測方法，本方法尤其適用于感測同時發生的多點觸碰。

背景技術

圖1顯示一般觸碰感測裝置1之示意圖。該觸碰感測裝置1具有一觸控面板10，其包含一感測陣列，具有行列交錯的軌條（如12與13）。軌條列13是經由觸碰傳感器14檢測，而軌條行12是經由觸碰傳感器16檢測。觸碰傳感器14和16將指示檢測結果的感測信號發給觸碰控制器18以判定發生在觸控面板10上的一或多點觸碰的位置與強度。此種觸碰感測裝置1及其操作在此項領域中為泛知者。

舉例而言，當兩根手指同時觸碰該觸碰面板10的位置15和17，在X軸與Y軸的感測信號波形曲線是分別如圖1之下方與右方所示。如圖所示，在Y軸之維度，由于兩個位置15和17大致上是在同一行，故波形僅有一個波峰。在X軸之維度，由于兩個觸碰位置15和17是在不同列，故波形具有兩個波峰。

藉由觀察感測信號的波形，可得知觸碰位置。理想上，當有兩個觸碰發生在不同的行或列，波形將會出現「波峰-波谷-波峰」的曲線。亦即，在波形曲線中有兩個極大值以及一個極小值出現在兩者之間。圖2顯示兩個觸碰發生時之感測信號的各種波形曲線。圖表（a）顯示理想狀況。如所示，波形具有顯現為「波峰-波谷-波峰」的曲線。兩個波峰分別表示此維度中兩個觸碰位置的坐標，而波谷表示兩個觸碰位置之間的空間。然而，實作上，波形可能并不如此完美。圖表（b）顯示感測信號受到噪聲干擾的狀況。如可見者。因為噪聲，使得波谷消失不見。在此情況下，難以區分兩個觸碰位置。圖表（c）顯示兩個觸碰位置太過接近以致兩個波峰彼此重迭的狀況。在此種情況下，亦難以區分兩個觸碰位置。

現有技術中，是藉由以下的中心點公式計算位置以用于找出觸碰位置：

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其中Xtouch為觸碰位置的坐標，X[i]為第i條線（如：第i行）的坐標，W[i]為第i條線的信號幅度，i起始于一觸碰區域的起始點并結束于該觸碰區域的結束點。此種方式容易受到噪聲干擾，亦即，所計算出的位置可能因為噪聲而漂移。

因此，希望有方法能夠更有效而精確地判斷發生在觸控面板等的觸碰位置，即使當觸碰位置彼此很接近時亦不會受到噪聲干擾。

發明內容

有鑒于上述現有技術之問題，本發明之一目的在于提供一種觸碰感測方法，其可有效精確檢測觸控面板等之觸碰傳感器的觸碰位置。

根據本發明之一方面，用于檢測觸碰傳感器之觸碰位置的觸碰感測方法包含提供代表一理想觸碰的一參考觸碰波形曲線；從觸碰傳感器擷取感測信號；藉由移動該參考觸碰波形曲線而比對該參考觸碰波形曲線與該感測信號以找出最佳結果；以及對應該最佳結果，從該參考觸碰波形曲線確認觸碰位置。

根據本發明之另一方面，用于檢測觸碰傳感器之觸碰位置的觸碰感測方法包含提供代表一理想觸碰的一參考觸碰波形曲線；從觸碰傳感器擷取感測信號；合成若干個參考觸碰波形曲線以組成一理想組合波形曲線；藉由改變組成該理想組合波形曲線的這些參考觸碰波形曲線之中心點來比對該理想組合波形曲線與該感測信號以找出最佳結果；以及對應該最佳結果，從該理想組合波形曲線確認觸碰位置。

根據本發明之一方面，用于檢測觸碰傳感器之觸碰的觸碰感測方法包含提供代表一理想觸碰的一參考觸碰波形曲線；從該觸碰傳感器擷取一感測信號；從該感測信號中確認一觸碰區域，在該觸碰區域至少發生一個觸碰；確認該觸碰區域中發生多少觸碰；當判定在該觸碰區域僅有一個觸碰時，藉由移動該參考觸碰波形曲線來比對該參考波形曲線與該感測信號以找出最佳結果，而當判定在該觸碰區域有若干個觸碰時，合成若干個該參考觸碰波形曲線以組成一理想組合波形曲線，并藉由改變組成該理想組合波形曲線之這些參考觸碰波形曲線之中心點位置來比對該理想組合波形曲線與該感測信號以找出最佳結果；以及從對應該最佳結果的該參考觸碰波形曲線或該理想組合波形曲線辨識一或若干個觸碰位置。

比對可藉由計算該參考觸碰波形曲線或是由若干個參考觸碰波形曲線組成的理想組合波形曲線與該感測信號的相關度實行。或者，比對可藉由計算該參考觸碰波形曲線或是由若干個參考觸碰波形曲線組成的理想組合波形曲線與該感測信號之間的差異而實行。

附圖說明

圖1顯示一般觸碰感測裝置之示意圖。

圖2顯示當有兩個觸碰發生時，感測信號的各種波形曲線。

圖3顯示兩個觸碰之理想波形曲線及有兩個觸碰的感測信號波形。