[發明專利]用于變化檢測的高斯對數模型單邊曲率擬合閾值方法

有效

• 申請號: 201010548359.4
• 申請日: 2010-11-16
• 公開（公告）號: CN102005050A
• 公開（公告）日: 2011-04-06
• 發明（設計）人: 公茂果;焦李成;曹宇;李陽陽;王桂婷;馬文萍;惠轉妮;周智強;付磊
• 申請（專利權）人: 西安電子科技大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 陜西電子工業專利中心 61205
• 代理人: 張問芬

1.用于變化檢測的高斯對數模型單邊曲率擬合閾值方法，其特征在于：首先對兩幅不同時間、相同地域的SAR圖像構造差異圖并求出差異圖像的直方圖，在直方圖上確定單邊擬合區域，假設單邊擬合區域中的灰度級為閾值，通過單邊擬合評價函數計算高斯對數模型對單邊擬合區域的曲率擬合誤差，求出單邊擬合區域中曲率擬合誤差最小的閾值，并確定無變化區域的直方圖概率分布函數和初始閾值，根據初始閾值確定基于高斯模型的變化區域直方圖概率分布函數，應用最大后驗概率方法確定最終的閾值，并通過該閾值構造SAR圖像變化檢測結果圖，完成SAR圖像變化區域的檢測，其具體步驟如下：

(1)對兩幅不同時間相同地域的SAR圖像I₁，I₂構造差異圖像；

(2)遍歷差異圖像的每個像素，記錄圖像上每個灰度級出現的頻率值，求出該差異圖像的灰度直方圖h(g)，g∈[0，255]為灰度級范圍，在直方圖上確定單邊擬合區域，區域范圍的上下限為mlow，mup；

(3)令閾值T_i＝mlow，i＝1；

(4)根據閾值T_i應用高斯對數模型計算閾值T_i下的無變化區域的直方圖概率分布函數p_ncln(x|μ，σ)，式中μ為均值參數，σ為方差參數，x＞0為直方圖灰度級；

(5)利用評價函數OSC(g，T_i)＝var(|h(g)-p_ncln(g|μ，σ)|)，g∈[mlow，mup]為直方圖灰度級，計算單邊曲率擬合誤差；

(6)利用公式c(i)＝min(k|p_ncln(X||μ±μ*ln(k)|，σ)，k∈(1，μ])，式中μ為均值，k為參考平移量，σ為方差，確定閾值T_i下擬合單邊區域曲線的平移量c；

(7)令T_i＝T_i+1，i＝i+1，如果T_i≤mup，轉步驟(4)，否則轉步驟(8)；

(8)求出單邊擬合區域中曲率擬合誤差最小的閾值T_i，并確定無變化區域的直方圖概率分布函數和初始閾值；

(9)根據初始閾值，利用高斯模型和最大期望EM參數估計方法，求出變化區域直方圖曲線的概率分布函數；

(10)根據最大后驗概率方法確定最終閾值，并通過該閾值構造變化檢測結果圖。