[發明專利]基于商空間粒度計算的極化合成孔徑雷達圖像目標檢測方法

無效

• 申請號: 201010541903.2
• 申請日: 2010-11-12
• 公開（公告）號: CN102053248A
• 公開（公告）日: 2011-05-11
• 發明（設計）人: 張臘梅;鄒斌;張鈞萍;賈青超
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工業大學
• 主分類號: G01S13/90
• 分類號: G01S13/90;G01S7/41
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109
• 代理人: 岳泉清

1.基于商空間粒度計算的極化合成孔徑雷達圖像目標檢測方法，其特征在于它步驟如下：

步驟一：通過極化合成孔徑雷達采集圖像獲得待處理的圖像數據，根據數據格式讀入全極化合成孔徑雷達圖像的數據；

步驟二：圖像預處理：對全極化合成孔徑雷達圖像進行預處理；

步驟三：計算全極化合成孔徑雷達圖像的不同特征參數，并進行目標檢測，得到粗粒度空間：

步驟三A：基于多成散射模型的目標檢測：基于多成散射模型對全極化合成孔徑雷達圖像進行極化目標分解，得到奇次散射、偶次散射、體散射、線散射和螺旋散射五種散射成分的散射能量圖；根據檢測目的選取上述五種散射成分的散射能量圖中的一種或幾種，利用閾值分割進行目標檢測，得到的檢測結果作為粗粒度空間([X₁]，[f₁]，[T₁])；

步驟三B：基于相似性參數的目標檢測：基于極化相似性參數計算得到雷達目標與典型目標之間的相似性參數，根據檢測目的選取雷達目標與典型目標之間的相似性參數圖，然后利用閾值分割，得到的檢測結果作為粗粒度空間([X₂]，[f₂]，[T₂])；

步驟三C：基于極化白化濾波的目標檢測：對全極化合成孔徑雷達圖像進行極化白化濾波，然后利用閾值分割，得到的檢測結果作為粗粒度空間([X₃]，[f₃]，[T₃])；

步驟四：利用商空間理論對步驟三獲得的三個粗粒度空間進行合成，得到最終的細粒度空間：

步驟四1：分別對步驟三獲得的三個粗粒度空間進行比較，將三個粗粒度空間中屬性相同的論域，根據論域合成準則進行論域合成，得到合成論域[X′₄]及其合成屬性[f′₄]，從而獲得細粒度空間([X′₄]，[f′₄]，[T′₄])，將三個粗粒度空間中的屬性不同的論域設定為待定區域C_k；

步驟四2：依據合成屬性[f′₄]計算合成論域[X′₄]中目標中心和背景中心，再根據屬性合成準則，對待定區域C_k的屬性進行重新劃分，從而獲得細粒度空間([X″₄]，[f″₄]，[T″₄])；

步驟五：將步驟四獲得的兩個細粒度空間([X′₄]，[f′₄]，[T′₄])和([X″₄]，[f″₄]，[T″₄])合成，得到最終的細粒度空間([X₄]，[f₄]，[T₄])，即為綜合優化后的檢測結果。