[發明專利]光盤裝置和光盤裝置的再現方法

無效

• 申請號: 201010536610.5
• 申請日: 2010-11-04
• 公開（公告）號: CN102054486A
• 公開（公告）日: 2011-05-11
• 發明（設計）人: 市川紀元
• 申請（專利權）人: 日立樂金資料儲存股份有限公司
• 主分類號: G11B7/004
• 分類號: G11B7/004;G11B20/10;G11B25/04
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322
• 代理人: 龍淳

1.一種光盤裝置，以光盤作為第一記錄介質，對信息數據進行記錄和再現，所述光盤裝置的特征在于，包括：

緩沖存儲器，其將被輸入的要記錄到所述第一記錄介質中的所述信息數據的規定量暫時進行存儲，并將所再現的信息數據中的規定量暫時進行存儲，然后輸出；

第二記錄介質，其與該緩沖存儲器連接，對存儲在該緩沖存儲器中的要記錄到所述第一記錄介質中的信息數據進行存儲；

記錄處理電路，其被供給存儲在所述緩沖存儲器中的要記錄到所述第一記錄介質中的信息數據，并對其追加用于糾正在所述第一記錄介質中的記錄再現過程中產生的錯誤的糾錯碼；

光學頭，其被供給已由該記錄處理電路追加糾錯碼的信息數據，將該信息數據光學記錄到所述第一記錄介質中，并進行再現；

再現處理電路，其被供給由該光學頭再現的信息數據，對該信息數據中的在所述第一記錄介質中的記錄再現過程中產生的錯誤進行檢測并加以糾正，并將糾正后的所述信息數據供給到所述緩沖存儲器；和

系統控制電路，其控制所述光盤裝置的動作并進行校驗動作，該校驗動作用于判定記錄在所述第一記錄介質中的信息數據是否已經以在再現時所述再現處理電路能夠糾錯的質量進行了記錄，其中

該系統控制電路，在再現所述信息數據并將其從所述緩沖存儲器輸出時，以下述方式進行控制：

在已經對所述信息數據進行過所述校驗動作的情況下，將存儲在所述第二記錄介質中的信息數據輸出；在尚未對所述信息數據進行所述校驗動作的情況下，對記錄在所述第一記錄介質中的信息數據進行校驗動作，輸出該信息數據。

2.如權利要求1所述的光盤裝置，其特征在于：

所述第二記錄介質是半導體存儲器。

3.如權利要求1所述的光盤裝置，其特征在于：

所述第二記錄介質的記錄容量與所述第一記錄介質的記錄容量相同或在其之上。

4.如權利要求1所述的光盤裝置，其特征在于：

所述第二記錄介質安裝在所述光盤裝置所具有的電路基板上。

5.如權利要求1所述的光盤裝置，其特征在于：

所述系統控制電路具有控制用存儲器，該控制用存儲器存儲按所述第一記錄介質上的每個記錄塊設定的表示所述校驗動作是否已經進行的校驗標志。

6.一種光盤裝置的再現方法，所述光盤裝置以光盤作為第一記錄介質，以半導體存儲器作為第二記錄介質，對信息數據進行記錄和再現，所述光盤裝置存儲有表示校驗動作是否已經進行的校驗標志，所述檢驗標志用于判定記錄在所述第一記錄介質中的信息數據是否已經以在再現時能夠糾錯的質量進行了記錄，所述光盤裝置的再現方法的特征在于，包括下述步驟：

參照所述校驗標志，對所再現的所述信息數據判定是否已經進行了所述校驗動作的校驗標志判定步驟；

當該校驗標志判定步驟的判定結果是判定為所述校驗動作已經進行時，讀取存儲在所述第二記錄介質中的信息數據并進行輸出的第一輸出步驟；

當所述校驗標志判定步驟的判定結果是判定為所述校驗動作尚未進行時，對記錄在所述第一記錄介質中的信息數據進行再現的再現步驟；

對由該再現步驟再現的信息數據進行所述校驗動作，并判定該信息數據是否已經以在再現時能夠糾錯的質量進行了記錄的校驗判定步驟；

當該校驗判定步驟的判定結果是判定為已經以在再現時能夠糾錯的質量進行了記錄時，將所述校驗標志變更為校驗動作已經進行的狀態，輸出由所述再現步驟再現的信息數據的第二輸出步驟；

當所述校驗判定步驟的判定結果是判定為沒有以在再現時能夠糾錯的質量進行記錄時，在所述第一記錄介質上對記錄在所述第一記錄介質中的信息數據進行修復的修復步驟；

對該修復步驟中的修復是否成功進行判定的修復判定步驟；

當該修復判定步驟的判定結果是判定為修復成功時，將所述校驗標志變更為校驗動作已經進行的狀態，再現由所述修復步驟修復的信息數據并進行輸出的第三輸出步驟；和

當所述修復判定步驟的判定結果是判定為修復沒有成功時，輸出錯誤標志的第四輸出步驟。

7.如權利要求6所述的光盤裝置的再現方法，其特征在于：

在所述修復步驟中，基于保存在所述第二記錄介質中的信息數據，對記錄在所述第一記錄介質中的數據進行修復。