[發(fā)明專利]應用光學辨識的長度量測系統(tǒng)及其光學辨識圖像

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201010535254.5
• 申請日: 2010-11-03
• 公開（公告）號: CN102466464A
• 公開（公告）日: 2012-05-23
• 發(fā)明（設計）人: 孫須圣;賴宏智
• 申請（專利權）人: 啟德電子股份有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02;G06K7/10
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 湯保平

技術領域

本發(fā)明是與長度量測有關，特別是關于一種應用光學辨識的長度量測系統(tǒng)及其光學辨識圖像。

背景技術

現(xiàn)有的長度量測，除了傳統(tǒng)刻度尺外，大致可分成二大類：容柵式與光柵式。

前者又可稱為電容式數(shù)字編碼器，其主要是利用二個可相對移動且表面設有電極的元件，在相對位移時所產生的電容變化，來量測長度。

后者又可稱為光電式數(shù)字編碼器，其主要是利用一光源及二個可相對移動且表面設有光柵的元件，在相對位移時所產生的脈沖變化，來量測長度。

上述二種量測裝置，原理均同樣是利用累進計數(shù)的方式，是以，它們必須儲存初始值，所以不能夠關機，或者是在關開機后必須重新歸零，因此，無法達到開機就能隨時讀取的功能，使用上較不便。

再者，上述二種量測裝置，在使用者快速移動設有電極或光柵的元件時，容易發(fā)生電容變化或脈沖變化的感測速度不及上述移動速度的情形，導致量測結果的正確性受到影響。

換言之，前述各式現(xiàn)有的長度量測裝置及方法，仍有不便之處，而有待改進。

發(fā)明內容

有鑒于上述缺點，本發(fā)明的主要目的在于提供一種應用于長度量測的光學辨識圖像，是可解決上述先前技術所提到的問題，且為全新的應用。

本發(fā)明的另一目的在于提供一種應用光學辨識的長度量測系統(tǒng)，是可解決上述先前技術所提到的問題。

為達成上述目的，本發(fā)明所提供的應用于長度量測的光學辨識圖像，是供設置于一光接觸面上，其包含有：多個光學辨識碼(opticalrecognition?code)，分別指向一對應的長度數(shù)值，所述光學辨識碼于該光接觸面上的排列順序，是按照其所對應的長度數(shù)值排序。

由此，本發(fā)明利用光學辨識碼可記錄信息的功能，再通過選出既有或是制作新的適合長度計量的光學辨識碼，并依順序排列所述光學辨識碼，以建構出仿效刻度尺的光學辨識圖像，進而實現(xiàn)于量測長度的應用。舉例而言，本發(fā)明的光學辨識圖像可設置于墻壁、量尺或是現(xiàn)有設有光柵或電極的量測裝置等有長度量測需求的物體表面上，并通過搭配一光學辨識裝置，即可制得如光學辨識量尺等光學辨識長度量測裝置。而且，光學辨識圖像還可進一步設于可撓性的物體上，因光學辨識碼即使呈非平面顯示，仍然可被光學辨識裝置讀取，如此將能夠更擴大本發(fā)明的應用范圍。

此外，如欲使上述光學辨識圖像為肉眼觀察易忽略的，則可選用OID碼(optical?identification?code)，反的，則可選用一維條形碼(1Dbarcode)或二維條形碼(2D?barcode)。當然，其它凡是可記錄信息的光學辨識碼亦適用之。

另，視應用產品的面積大小或是其它需求及限制，本發(fā)明的光學辨識圖像可設置成一維陣列或二維陣列，以提升使用方便性、設計自由度及應用范圍。

又，如欲制作不同量測精密度的量測裝置，本發(fā)明更可將相同的光學辨識碼比鄰排列，而相同光學辨識碼的數(shù)量越多，精密度就越低。

再者，相鄰二個光學辨識碼能夠以沒有間隔的方式連續(xù)排列，亦可于兩者之間設置間隔，此乃取決于光學辨識碼的種類、精密度的設定，以及光學辨識裝置的辨識能力。

附圖說明

以下將由所列舉的實施例配合附圖，詳細說明本發(fā)明的技術內容及特征，其中：

圖1為本發(fā)明一較佳實施例所提供的光學辨識圖像的放大示意圖。

圖2為上述實施例的光學辨識碼的放大示意圖。

圖3為上述實施例的光學辨識圖像的數(shù)字代碼示意圖。

圖4揭示上述實施例應用于壁面的身高量尺的示意圖。

圖5揭示能夠同時量測長度及寬度的光學辨識圖像的數(shù)字代碼示意圖。

圖6揭示光學辨識圖像的光學辨識碼為條形碼的示意圖。

圖7揭示上述實施例應用于可撓式身高量尺的示意圖。

圖8揭示上述實施例應用于伸縮套管式電子身高量測裝置的示意圖。

具體實施方式