[發明專利]電子束殺菌裝置

有效

• 申請號: 201010530627.X
• 申請日: 2010-10-28
• 公開（公告）號: CN102079401A
• 公開（公告）日: 2011-06-01
• 發明（設計）人: 西納幸伸;林正己;洲崎茂;阿部亮
• 申請（專利權）人: 澀谷工業株式會社
• 主分類號: B65B55/08
• 分類號: B65B55/08;G21K5/04
• 代理公司: 北京三幸商標專利事務所 11216
• 代理人: 劉激揚

技術領域

本發明涉及對運送的容器照射電子束進行殺菌的電子束殺菌裝置，本發明特別是涉及在電子束的照射量偏離規定的基準值的場合，具有用于對其檢測的結構的電子束殺菌裝置。

背景技術

在過去人們普遍知道有在聚對苯二甲酸乙二醇酯瓶等的樹脂制瓶的運送中，從電子束照射裝置照射電子束，對該瓶進行殺菌的裝置。在這樣的電子束殺菌裝置中，在于電子束照射裝置內產生火花等，因某種原因，電子束的照射量減少，發生照射不良的場合，樹脂瓶的殺菌不充分。如此，出現殺菌不充分的容器的場合，必須在進行此后的填充等的步驟前，將該容器移除到生產線之外。于是，人們已提出有在對容器的電子束的照射量不足的場合，可對其進行檢測的電子束殺菌裝置(例如，參照專利文獻1或專利文獻2)。

在專利文獻1中記載的殺菌裝置包括放射線照射機構，其對塑料容器照射放射線；測定機構，其測定通過放射線照射機構照射了放射線的塑料容器的光透射率或光反射率；判斷機構，其根據測定機構測定的上述光透射率或光反射率，判斷上述塑料容器的殺菌的程度；分選機構，其根據判斷機構的判斷結果，對上述塑料容器進行分選，分選出照射量不適當的瓶，將其去除。

另外，在專利文獻2中記載的食品容器的電子束殺菌檢查系統的發明包括運送食品容器的食品容器運送裝置；電子束照射裝置，其對通過食品容器運送裝置運送的食品容器照射電子束；物性檢測部，其檢測通過電子束照射裝置對上述食品容器照射電子束而變化的至少1個物性值(溫度，臭氧濃度，帶電量，顏色等)；物性判斷部，其判斷通過物性檢測部檢測的上述物性值或上述物性值的電子束照射前后的變化量是否在預定的范圍內。

此外，人們不但知道有上述各專利文獻中記載的發明，而且還知道有通過電流值而測定電子束的照射量的技術(參照專利文獻3)。在該專利文獻3中記載的電子束照射裝置包括桿狀的收集電極，其沿照射窗的短邊，設置于電子束加速器的照射窗的外部；驅動機構，其使收集電極在電子束的照射區域，按照沿照射窗的長邊的方向平行移動；電流測定部，其測定流過收集電極的電流。上述收集電極通過設置于兩端部的絕緣物，相對接地部實現電絕緣。

在先技術文獻

專利文獻1：日本專利第4148391號公報

專利文獻2：日本特開2007-126171號公報

專利文獻3：日本特開平11-248893號公報

在上述專利文獻1和專利文獻2中記載的發明均為檢查電子束的照射后的容器的裝置。由于在電子束殺菌裝置中，在電子束的照射位置附近產生變換X射線，故具有用于上述測定和檢查的測定器、照相機等的電子裝置產生運行錯誤的可能性，這樣，難以將這些裝置屏蔽而設置于電子束殺菌裝置的內部。于是，在對容器照射電子束的位置遠離的位置，設置這些測定儀等的裝置，進行檢查。在這樣的方案中，在因電子束的照射不足等，出現殺菌不足的容器的場合，具有該容器位于電子束殺菌裝置的內部和緊接它的填充裝置、封蓋裝置等的下游側的步驟的運送通路的時間變長，附著于殺菌不足的容器的微生物、細菌在這些環境中飛散的危險增加的問題。另外，在不良容器連續地發生的場合，還具有發現滯后，不良容器大量地發生的問題。

另外，由于通過電子束的照射而殺菌的容器在維持無菌狀態的狀態，轉移到填充、封蓋等的下游側的步驟，殺菌后的容器通過的環境必須維持在無菌狀態。由此，用于測定的設備，要求有對于消除環境污染的殺菌劑等的耐受性。

此外，在于專利文獻3中記載的發明中，由于形成在照射電子束的照射窗的外部，設置收集器電極，于其前面移動的方案，故不能夠在電子束殺菌裝置的殺菌運轉中測定電流，故不可能馬上檢測電子束的照射量的不足，排除不良容器。

發明內容

本發明是為了解決上述各種課題而提出的，本發明的目的在于在因電子束的照射量不適當，出現不良容器的場合，在較早階段，發現該不良容器將其排除，由此，減少將微生物、細菌等的污染物質帶入到下游側的環境的危險。

另外，本發明目的在于通過在較早階段發現產生不良容器的情況的方式，防止大量的不良容器的發生。