[發明專利]光電式微位移測量裝置無效
| 申請號： | 201010528023.1 | 申請日： | 2010-11-02 |
| 公開（公告）號： | CN101979959A | 公開（公告）日： | 2011-02-23 |
| 發明（設計）人： | 楊寧;王恒坤;韓旭東;劉長順 | 申請（專利權）人： | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號： | G01B11/02 | 分類號： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 長春菁華專利商標代理事務所 22210 | 代理人： | 陶尊新 |
| 地址： | 130033 吉*** | 國省代碼： | 吉林;22 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 光電 式微 位移 測量 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.光電式微位移測量裝置，包括殼體(1)、主光柵固定架(2)、主軸(3)、導向軸(4)、主光柵(5)、發光組件(6)、指示光柵(7)、指示光柵固定架(8)、光電接收組件(9)、信號處理元件(10)和接觸探頭(11)；其特征是，主光柵固定架(2)固定在主軸(3)上，主光柵(5)固定在主光柵固定架(2)上，指示光柵(7)固定在指示光柵固定架(8)上，所述指示光柵固定架(8)固定在與主光柵固定架(2)相對位置的殼體(1)上；所述光電接收組件(9)和信號處理元件(10)分別固定在指示光柵固定架(8)外側的殼體(1)上，發光組件(6)和導向軸(4)分別固定在主光柵固定架(2)外側的殼體(1)上；接觸探頭(11)設置在主軸(3)的底端。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院長春光學精密機械與物理研究所，未經中國科學院長春光學精密機械與物理研究所許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201010528023.1/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
