[發(fā)明專利]多數(shù)據(jù)點閾值檢測方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201010527612.8 | 申請日: | 2010-10-28 |
| 公開(公告)號: | CN101968758A | 公開(公告)日: | 2011-02-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉文潔 | 申請(專利權(quán))人: | 西北工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號: | G06F11/34 | 分類號: | G06F11/34 |
| 代理公司: | 西北工業(yè)大學(xué)專利中心 61204 | 代理人: | 黃毅新 |
| 地址: | 710072 *** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 多數(shù) 據(jù)點 閾值 檢測 方法 | ||
1.一種多數(shù)據(jù)點閾值檢測方法,其特征在于包括以下步驟:
(a)定義閾值上限邊界值Tuppererror和下限邊界值Tlowererror,且:Tuppererror>Tlowererror;假設(shè)性能計數(shù)器為P,其值value滿足如下關(guān)系:{Value>Tuppererror}∨{Value<Tlowererror}則認(rèn)為性能計數(shù)器P發(fā)生性能異常,value處于閾值區(qū)間;
(b)設(shè)性能指標(biāo)的初始統(tǒng)計時刻為T1,結(jié)束統(tǒng)計時刻為T2,插值間隔為Tn,則在區(qū)間[T1,T2]內(nèi),需要統(tǒng)計的區(qū)間個數(shù)定義為:
對于任意的性能計數(shù)器Pi,假設(shè)每t時刻(t∈[T1,T2])統(tǒng)計一個原始數(shù)據(jù),共統(tǒng)計了N個時刻,這N個時刻的數(shù)據(jù)被劃分在NPeriod個區(qū)間內(nèi);
(c)①采用最大值統(tǒng)計性能數(shù)據(jù):
MAXi=Max(Xt…Xi+period)
式中,i屬于[1,NPeriod],t是i區(qū)間的起始時刻,t+period表示一個統(tǒng)計區(qū)間,MAX是求最大值的函數(shù);則在整個[T1,T2]區(qū)間內(nèi),按照最大值統(tǒng)計量,性能數(shù)據(jù)構(gòu)成由最大值組成的集合:
②采用最小值統(tǒng)計性能數(shù)據(jù):
按照相同的時刻和插值條件,同等的定義基于最小值的統(tǒng)計量集合:
③采用平均值統(tǒng)計性能數(shù)據(jù):
時刻和插值條件不變,在單個統(tǒng)計區(qū)間內(nèi)采用平均值函數(shù),得到統(tǒng)計集合:
其中,假設(shè)一個區(qū)間內(nèi)有k個性能數(shù)據(jù),則該區(qū)間的平均值函數(shù)定義為:
④采用標(biāo)準(zhǔn)偏差統(tǒng)計性能數(shù)據(jù):
假設(shè)SD為統(tǒng)計函數(shù),得到統(tǒng)計集合SD:
假設(shè)一個區(qū)間內(nèi)有k個性能數(shù)據(jù),則該區(qū)間的標(biāo)準(zhǔn)偏差函數(shù)定義為:
(d)采用多點檢測方法判斷閾值是否越界。用計數(shù)器記錄在一個采樣區(qū)間內(nèi)閾值越界的次數(shù),初始值為0;假設(shè)采樣數(shù)據(jù)點為N個,當(dāng)發(fā)現(xiàn)第一個數(shù)據(jù)點超過閾值后,計數(shù)器加1,繼續(xù)判斷隨后的N-1個數(shù)據(jù)點是否越界,如果越界數(shù)據(jù)點超過P個(P>1并且P<=N),則認(rèn)為性能故障發(fā)生,從而通知自律系統(tǒng),自律系統(tǒng)采用策略來修復(fù)性能故障;當(dāng)越界數(shù)據(jù)個數(shù)不足P時,不作任何通知,繼續(xù)判斷后續(xù)數(shù)據(jù)點;當(dāng)判斷個數(shù)等于N時,如果無性能故障發(fā)生,則計數(shù)器清零,重新開始下一組數(shù)據(jù)點計數(shù)。
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