[發明專利]一種反射光檢測裝置及其檢測方法無效
| 申請號: | 201010524198.5 | 申請日: | 2010-10-27 |
| 公開(公告)號: | CN102023052A | 公開(公告)日: | 2011-04-20 |
| 發明(設計)人: | 王智森;雷仁大;張新順;國偉 | 申請(專利權)人: | 大連工業大學 |
| 主分類號: | G01J1/00 | 分類號: | G01J1/00;G01J1/04;G01J1/06 |
| 代理公司: | 大連東方專利代理有限責任公司 21212 | 代理人: | 李洪福 |
| 地址: | 116034 遼*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 反射光 檢測 裝置 及其 方法 | ||
1.一種反射光檢測裝置,包括探頭(11)和探測架,其特征在于:所述的探頭(11)包括探筒(9)、傳感器(8)和嵌入式處理器(7),所述的探筒(9)是可伸縮的內外嵌套式套筒,探筒(9)的內壁涂敷有吸光涂層材料,探筒(9)口處有可變光圈(13),所述的傳感器(8)和嵌入式處理器(7)安裝在套筒的底部;所述的探測架包括底盤(4)、支撐滑桿(6)、連接桿和半圓形滑軌(10),所述的底盤(4)底部帶有活動滑輪(3),所述的支撐滑桿(6)垂直安裝在底盤(4)的中間、其上開有滑動槽(5),所述的半圓形滑軌(10)通過連桿安裝在支撐滑桿(6)上;所述的探頭(11)通過連桿安裝在半圓形滑軌(10)的滑動軌道上。
2.根據權利要求1所述的一種反射光檢測裝置,其特征在于:所述的探頭(11)安放在垂直于半圓形滑軌(10)切線的方向上,并可在半圓形滑軌(10)上自由移動。
3.根據權利要求1所述的一種反射光檢測裝置,其特征在于:所述的探筒(9)包括內套筒(16)和外套筒(15),內套筒(16)和外套筒(15)相互嵌套,在內套筒(16)和外套筒(15)之間安裝有控制其伸縮和定位的卡槽,所述的內套筒(16)和外套筒(15)的外壁上均有刻度(14),所述的內套筒(16)出口處安裝有可變光圈(13)。
4.一種如權利要求1所述的反射光檢測裝置的檢測方法,其特征在于:包括以下步驟:
A、首先,將探測架固定在被測體(2)旁,使探頭背對光源(1),以保證進入到探筒(9)的光是光源(1)發出的經過天花板(12)或其它物體的一次反射或多次反射到被測物體(2)上的合成光,通過支撐滑桿(6)的滑動槽(5)調整半圓形滑軌(10)的高度,當探頭(11)達到一定的高度時,固定半圓形滑軌(10)和支撐滑桿(6),然后在垂直方向上調整半圓形滑軌(10)的角度,使半圓形滑軌(10)和被測體(2)始終處于同一平面內;
B、控制探頭(11)在半圓形滑軌(10)上勻速移動,在移動的過程中,始終保證光傳感器(8)對準被測體(2),這樣就可以從不同的位置和不同的角度對被測體(2)周圍的反射光進行檢測;如果需要檢測某一點上從不同方向射來的反射光強度,則可控制探頭(11)停留在半圓形滑軌(10)所處的某一高度的某一點處,并且探頭(11)在半圓形滑軌(10)此點上做繞半圓形滑軌(10)的球面旋轉,檢測此點不同方向的反射光強度;
C、在確定被測體(2)位置、探頭(11)位置和半圓形滑軌(10)位置固定不變的情況下,可通過調整內外套筒(15)和探頭(11)口處可變光圈(13)的位置,以改變被測體(2)與光傳感器(8)的距離和入射光的范圍,從而在新的位置上控制探頭(11)對被測體(2)的反射光的強度進行采集;通過改變半圓形滑軌(10)的角度來改變探頭(11)垂直方向上的角度,重復以上動作,獲取不同角度上的反射光強度;
D、測完某點同一高度的所有角度的反射光后,可調整半圓形滑軌(10)的高度,重復步驟C;
E、檢測完某一個被測體(2)到探頭(11)的距離上的所有數據后,移動檢測設備到另一個新的檢測距離上,重復步驟A、B、C、D,檢測新距離上的反射光強度,直到達到檢測要求為止。
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