[發明專利]交流電阻焊機可控硅導通角和觸發角的測量電路

無效

• 申請號: 201010522520.0
• 申請日: 2010-10-28
• 公開（公告）號: CN102023280A
• 公開（公告）日: 2011-04-20
• 發明（設計）人: 張忠典;李冬青;梅冬勝;朱世良;湯有良;邱建明;羅斌
• 申請（專利權）人: 哈爾濱工業大學
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01B7/30
• 代理公司: 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109
• 代理人: 張宏威

技術領域

本發明涉及一種可控硅導通角和觸發角的測量電路。

背景技術

工業焊接現場使用的電阻焊機90％是交流焊機，該種焊機的次級壓降較大，其實際使用的只有幾伏。這種焊機會造成大量的能量損失，其主要的能量損失是在其二次電纜上，由于二次電纜的長期使用，會造成阻抗性質的改變，這種改變會導致焊機各個方面的性能下降，同時也對焊接質量造成很大的影響。目前，在焊接現場焊機的動態電阻測量非常不方便，其可控硅的導通角和觸發角的測量也非常困難，嚴重影響焊接質量的監測。

發明內容

本發明是為了解決現有的交流焊機可控硅的導通角和觸發角的檢測困難的問題，從而提供一種交流電阻焊機可控硅導通角和觸發角的測量電路。

交流電阻焊機可控硅導通角和觸發角的測量電路，它包括一號電阻R1、二號電阻R2、三號電阻R3、四號電阻R4、五號電阻R5、六號電阻R6、七號電阻R7、八號電阻R8、九號電阻R9、十號電阻R10、十一號電阻R11、十二號電阻R12、一號電容C1、二號電容C2、三號電容C3、四號電容C4、五號電容C5、六號電容C6、七號電容C7、八號電容C8、一號二極管D1、二號二極管D2、三號二極管D3、四號二極管D4、一號比較器A1、二號比較器A2、一號芯片U1、二號芯片U2、三號芯片U3和四號芯片U4；一號電阻R1的一端與交流電阻焊機的原邊電壓信號端連接，所述一號電阻R1的另一端同時與一號電容C1的一端、一號二極管D1的陰極、二號二極管D2的陽極和一號比較器A1的反向輸入端連接；一號電容C1的另一端同時與電源地和二號電阻R2的一端連接；二號電阻R2的另一端同時與二號二極管D2的陰極和一號比較器A1的正向輸入端連接；一號二極管D1的陽極與三號電阻R3的一端連接；三號電阻R3的另一端接電源正極；一號比較器A1的正向電源端同時與電源正極和三號電容C3的一端連接，所述三號電容C3的另一端與電源地連接；一號比較器A1的負向電源端同時與電源負極和二號電容C2的一端連接，所述二號電容C2的另一端與電源地連接；一號比較器A1的電源地端與電源地連接；一號比較器A1的輸出端同時與四號電阻R4的一端、四號電容C4的一端和一號芯片U1的管腳A連接，所述一號芯片U1的管腳RC同時與五號電阻R5的一端和五號電容C5的一端連接；所述五號電阻R5的另一端同時與+5V電源和四號電阻R4的另一端連接，所述四號電容C4的另一端與電源地連接；五號電容C5的另一端與一號芯片U1的管腳C連接；所述一號芯片U1的管腳B與一號芯片的管腳連接；所述一號芯片U1的管腳CLR與六號電阻R6的一端連接，所述六號電阻R6的另一端與+5V電源連接；一號芯片U1的管腳Q與四號芯片U4的管腳R連接；四號芯片U4的CLK同時與電源地和四號芯片U4的管腳D連接；四號芯片U4的管腳Q是觸發角信號輸出端；七號電阻R7的一端與交流電阻焊機的原邊電流信號端連接，所述七號電阻R7的另一端同時與六號電容C6的一端、三號二極管D3的陰極、四號二極管D4的陽極和二號比較器A2的正向輸入端連接；六號電容C6的另一端同時與電源地和電阻R8的一端連接；電阻R8的另一端同時與三號二極管D3的陽極和二號比較器A2的反向輸入端連接；四號二極管D4的陰極與九號電阻R9的一端連接，所述九號電阻R9的另一端與電源負極連接；二號比較器A2的輸出端同時與十號電阻R10的一端、七號電容C7的一端和二號芯片U2的管腳A連接；所述十號電阻R10的一端另一端與+5V電源連接，七號電容C7的另一端與電源地連接；二號比較器A2的電源地端與電源地連接；二號芯片U2的管腳RC同時與十一號電阻R11的一端和八號電容C8的一端連接；所述八號電容C8的另一端與二號芯片U2的管腳C連接；十一號電阻R11的另一端與+5V電源連接；二號芯片U2的管腳B與二號芯片U2的管腳連接；二號芯片U2的管腳CLR與十二號電阻R12的一端連接，所述十二號電阻R12的另一端與+5V電源連接；二號芯片U2的管腳Q同時與三號芯片U3的管腳CLK和四號芯片U4的管腳S連接；三號芯片U3的管腳與三號芯片U3的管腳D連接；三號芯片U3的管腳S和管腳R均與電源地連接；二號比較器A2的輸出端是導通角信號輸出端。

有益效果：本發明的電路能夠簡單方便的測量交流電阻焊機可控硅的導通角和觸發角，并且測量精度較高。

附圖說明