[發明專利]一種高溫霍普金森拉伸實驗裝置

有效

• 申請號: 201010516125.1
• 申請日: 2010-11-23
• 公開（公告）號: CN101975700A
• 公開（公告）日: 2011-02-16
• 發明（設計）人: 謝若澤;張方舉;何鵬;胡文軍;徐艾民;王薇;吳慶海
• 申請（專利權）人: 中國工程物理研究院總體工程研究所
• 主分類號: G01N3/18
• 分類號: G01N3/18;G01N3/04
• 代理公司: 中國工程物理研究院專利中心 51210
• 代理人: 翟長明;韓志英

1.一種高溫霍普金森拉伸實驗裝置，所述的實驗裝置包括入射桿、透射桿、試件、測試系統，其特征在于：所述的實驗裝置還包括一套電流加熱及控制系統，所述的電流加熱及控制系統含有電流快速加熱器（21）、溫控儀（14）、加熱夾頭、通斷器（16）和熱電偶（13）；加熱夾頭由夾持于試件（4）實驗段兩端的加熱夾頭Ⅰ（11）和加熱夾頭Ⅱ（12）組成，并分別通過銅導線Ⅰ（22）和銅導線Ⅱ（23）與電流快速加熱器（21）相連；熱電偶（13）固定連接于試件（4）的實驗段，并與溫控儀（14）相連作為其輸入信號；溫控儀（14）的輸出端與通斷器（16）相連，而通斷器（16）的另一端與電流快速加熱器（21）相連。

2.根據權利要求1所述的一種高溫霍普金森拉伸實驗裝置，其特征在于：所述的加熱夾頭為銅質板狀夾板。

3.根據權利要求1所述的一種高溫霍普金森拉伸實驗裝置，其特征在于：所述的加熱夾頭為銅質圓弧狀夾板。

4.根據權利要求1所述的一種高溫霍普金森拉伸實驗裝置，其特征在于：所述的銅導線為編織銅導線。